[发明专利]封装结构及其形成方法有效
申请号: | 202010102446.0 | 申请日: | 2020-02-19 |
公开(公告)号: | CN113284856B | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 刘杰;何军;全昌镐;应战 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H01L23/13 | 分类号: | H01L23/13;H01L21/56 |
代理公司: | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人: | 孙佳胤;董琳 |
地址: | 230001 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明涉及一种封装结构及其形成方法,所述封装结构包括:基板,所述基板具有相对的第一表面和第二表面,所述基板内具有贯穿所述基板第一表面至第二表面的开口,所述开口呈长条状,且两端尺寸大于中部尺寸;芯片,所述芯片通过焊接凸点倒装固定于所述基板的第一表面上,通过所述焊接凸点与所述基板之间形成电连接,所述开口位于所述芯片在所述基板上的投影内;塑封料,包裹所述芯片,并填充满所述芯片与所述基板的第一表面之间的间隙以及所述开口。所述封装结构的可靠性得到提高。 | ||
搜索关键词: | 封装 结构 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
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