[发明专利]半导体装置与其制造方法在审

专利信息
申请号: 201911336173.X 申请日: 2019-12-23
公开(公告)号: CN112768595A 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 邱楹翔;陈旷举;萧鹏展;刘汉英 申请(专利权)人: 新唐科技股份有限公司
主分类号: H01L35/32 分类号: H01L35/32;H01L35/14;H01L35/34
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 赵平;周永君
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供一种半导体装置。半导体装置包含一基板。半导体装置也包含一半导体层,半导体层设置于基板内。半导体装置还包含一第一介电层,第一介电层设置于半导体层上。半导体装置包含一第二介电层,第二介电层设置于第一介电层上。半导体装置也包含一对热电堆,热电堆设置于第二介电层上。第一介电层与第二介电层形成一腔室。
搜索关键词: 半导体 装置 与其 制造 方法
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