[发明专利]一种PECVD薄膜沉积腔室及PECVD工艺在审

专利信息
申请号: 201910992547.7 申请日: 2019-10-18
公开(公告)号: CN110527986A 公开(公告)日: 2019-12-03
发明(设计)人: 李伯平;李渊 申请(专利权)人: 南京华伯新材料有限公司
主分类号: C23C16/513 分类号: C23C16/513;C23C16/458
代理公司: 11413 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 张函;王春伟<国际申请>=<国际公布>=
地址: 210061 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种PECVD薄膜沉积腔室及PECVD工艺。PECVD薄膜沉积腔室包括:沉积腔室本体,上电极和下电极,均设置在沉积腔室本体内部,上电极和下电极用于施加电源,并在上电极和下电极之间形成等离子体;真空腔室阀门,设置在沉积腔室本体内部,用于在开启状态下联通沉积腔室本体与大气压,并且在关闭状态下密封沉积腔室本体;固定载具,固定载具与下电极固连,位于上电极和下电极之间,用于承载待加工工件。本发明通过固定载具设置在PECVD薄膜沉积腔室中,在该腔室完成薄膜沉积工艺这一过程中不采用载具,从根本上杜绝了污染源,从而避免沉积不同掺杂层之间的掺杂原子交叉污染,适合大规模生产PECVD薄膜沉积。
搜索关键词: 沉积腔室 下电极 电极 载具 薄膜沉积腔 等离子体 薄膜沉积工艺 待加工工件 薄膜沉积 掺杂原子 交叉污染 开启状态 真空腔室 掺杂层 下密封 阀门 固连 联通 腔室 沉积 污染源 电源 承载 施加
【主权项】:
1.一种PECVD薄膜沉积腔室,其特征在于,包括:/n沉积腔室本体,/n上电极和下电极,均设置在所述沉积腔室本体内部,所述上电极和下电极用于施加电源,并在所述上电极和下电极之间形成等离子体;/n真空腔室阀门,设置在所述沉积腔室本体内部,用于在开启状态下联通所述沉积腔室本体与大气压,并且在关闭状态下密封所述沉积腔室本体;/n固定载具,所述固定载具与所述下电极固连,位于所述上电极和下电极之间,用于承载待加工工件。/n
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