[发明专利]一种IGBT器件有效

专利信息
申请号: 201811277607.9 申请日: 2018-10-30
公开(公告)号: CN111129132B 公开(公告)日: 2023-09-08
发明(设计)人: 唐龙谷;吴煜东;戴小平;罗海辉;刘国友;张泉;覃荣震;彭勇殿 申请(专利权)人: 株洲中车时代半导体有限公司
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/423;H01L21/331
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 吴大建;何娇
地址: 412001 湖南省株洲市石峰*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提出了一种IGBT器件,其包括:从下至上依次设置的集电极金属层、P+区、N′区以及N‑区,N‑区的顶部形成有台阶型的沟槽,沟槽的不同台阶上形成有沟槽栅和平面栅。使用本发明的优点在于,相比于单一结构的沟槽型IGBT器件,本器件结合了沟槽栅和平面栅两种栅极结构,因此具有平面栅IGBT和沟槽栅IGBT两种工作机制。平面栅IGBT部分和沟槽栅IGBT部分的栅极氧化过程可以同时完成,可以具有同样的栅极氧化层厚度。
搜索关键词: 一种 igbt 器件
【主权项】:
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