[实用新型]一种CIS芯片的封装结构有效

专利信息
申请号: 201721016520.7 申请日: 2017-08-14
公开(公告)号: CN207052606U 公开(公告)日: 2018-02-27
发明(设计)人: 任玉龙;孙鹏 申请(专利权)人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司11250 代理人: 马永芬
地址: 214135 江苏省无锡市新*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种CIS芯片的封装结构,涉及半导体技术领域,该封装结构包括透明载片;CIS芯片晶圆,其焊盘和感光区设置于CIS芯片晶圆的第一表面;围堰,设置于CIS芯片晶圆的第一表面和透明载片的第一表面之间,与CIS芯片晶圆的第一表面、透明载片的第一表面形成封闭空腔;金属线路层,设置于CIS芯片晶圆的第二表面,金属线路层通过贯穿CIS芯片晶圆的金属导线与CIS芯片晶圆第一表面的焊盘连接;绝缘层,设置于金属线路层表面。本实用新型通过贯穿CIS芯片晶圆的金属导线连接CIS芯片晶圆第二表面的金属线路层与CIS芯片晶圆的焊盘,将电信号引出到CIS芯片晶圆的第二表面。该封装结构不会产生较大机械应力,从而不会形成隐裂;焊盘与晶圆连接强度高,不易变形。
搜索关键词: 一种 cis 芯片 封装 结构
【主权项】:
一种CIS芯片的封装结构,其特征在于,包括:透明载片;CIS芯片晶圆,其焊盘和感光区设置于所述CIS芯片晶圆的第一表面;围堰,设置于所述CIS芯片晶圆的第一表面和所述透明载片的第一表面之间,与所述CIS芯片晶圆的第一表面、所述透明载片的第一表面形成封闭空腔;金属线路层,设置于所述CIS芯片晶圆的第二表面,所述金属线路层通过贯穿所述CIS芯片晶圆的金属导线与所述CIS芯片晶圆第一表面的焊盘连接;绝缘层,设置于所述金属线路层表面。
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