[发明专利]一种功率半导体器件热特性参数的确定方法及系统有效
| 申请号： | 201711135701.6 | 申请日： | 2017-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN107908875B | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 邓二平;申雅茹;赵志斌;黄永章 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学 |
| 主分类号： | G06F30/39 | 分类号： | G06F30/39;G06F119/08 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 王戈 |
| 地址： | 102200 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种功率半导体器件热特性参数的确定方法及系统，该确定方法包括：首先对获取的被测功率半导体器件的热瞬态响应信号，采用Richardson‑Lucy算法进行处理得到福斯特网络模型的热特性参数；其次根据福斯特网络模型的热特性参数，采用Mathematica软件计算考尔网络模型的热特性参数，并对考尔网络模型的热特性参数按阶累加处理、累加求导处理得到积分结构函数和微分结构函数；最后根据积分结构函数和微分结构函数，计算被测功率半导体器件的热阻参数和热容参数。因此，本发明提供的确定方法或系统，克服了现在技术的缺陷，具有准确度高、适用性强、且简单、易于软件实现等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功率 半导体器件 特性 参数 确定 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种功率半导体器件热特性参数的确定方法，其特征在于，所述确定方法包括：获取被测功率半导体器件的热瞬态响应信号a(t)；采用Richardson‑Lucy算法，对所述热瞬态响应信号a(t)进行处理，得到时间常数谱R(z)；根据所述时间常数谱R(z)，计算福斯特网络模型的热特性参数；根据所述福斯特网络模型的热特性参数，采用Mathematica软件，计算考尔网络模型的热特性参数；对所述考尔网络模型的热特性参数按阶累加处理，得到所述被测功率半导体器件的积分结构函数；对所述积分结构函数进行累加求导处理，得到所述被测功率半导体器件的微分结构函数；根据所述积分结构函数和所述微分结构函数，计算所述被测功率半导体器件的热特性参数；所述热特性参数包括热阻参数和热容参数。
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