[发明专利]探针切换装置及PCB阻抗测试机有效
| 申请号： | 201710648209.2 | 申请日： | 2017-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN107315099B | 公开（公告）日： | 2020-01-03 |
| 发明（设计）人： | 宋卫华;叶宗顺;何凤雷 | 申请（专利权）人： | 南京协辰电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R27/02 |
| 代理公司： | 11250 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 | 代理人： | 吴黎 |
| 地址： | 211106 江苏省南京市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种探针切换装置及PCB阻抗测试机，该探针切换装置包括：支撑体(10)；第一探针部，相对支撑体(10)可移动设置，第一探针部具有至少两个第一检测位置，第一探针部可在至少两个第一检测位置之间移动切换；至少两个第二探针部，相对支撑体(10)可移动设置，每个第二探针部具有与第一探针部配合的第二检测位置及避让第一探针部与其余的第二探针部配合的避让位置，第二探针部可在第二检测位置与避让位置之间移动切换。本发明有效的解决了现有技术中切换探针时需要更换探针组件拆卸繁琐、测试精度低的问题，可实现自动化测试。 | ||
| 搜索关键词： | 探针 切换 装置 pcb 阻抗 测试 | ||
【主权项】：
1.一种探针切换装置，其特征在于，包括：/n支撑体(10)；/n第一探针部，相对所述支撑体(10)可移动设置，所述第一探针部具有至少两个第一检测位置，所述第一探针部可在所述至少两个第一检测位置之间移动切换；/n至少两个第二探针部，相对所述支撑体(10)可移动设置，每个第二探针部具有与所述第一探针部配合的第二检测位置及避让所述第一探针部与其余的所述第二探针部配合的避让位置，所述第二探针部可在所述第二检测位置与所述避让位置之间移动切换，/n设置在所述支撑体(10)上且与所述第一探针部连接的第一驱动机构，所述第一驱动机构驱动所述第一探针部在至少两个所述第一检测位置之间进行切换，所述第一驱动机构驱动所述第一探针部沿水平方向直线移动，/n连接在所述第一驱动机构和所述第一探针部之间的连接部(60)，所述第一驱动机构通过驱动所述连接部(60)沿水平方向移动带动所述第一探针部移动，/n与每个所述第二探针部连接的第二驱动机构，所述第二驱动机构驱动每个所述第二探针部在所述第二检测位置和所述避让位置之间进行切换，所述第二驱动机构驱动所述第二探针部沿竖直方向移动，所述避让位置高于所述第二检测位置和所述第一检测位置，所述第二驱动机构为固定在所述连接部(60)上的切换部(50)，所述切换部(50)具有顶升结构，在所述切换部(50)的移动过程中，所述顶升结构顶起所述第二探针部以使所述第二探针部从所述第二检测位置切换至所述避让位置。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京协辰电子科技有限公司，未经南京协辰电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710648209.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：移动终端及其控制方法
- 下一篇：一种控制智能显示设备无线显示的方法及装置
- 同类专利
- 一种晶圆测试探针台及设备-201821896963.4
- 刘旭峰 - 杭州海康微影传感科技有限公司
- 2018-11-16 - 2020-02-14 - G01R1/073
- 本实用新型实施例公开一种晶圆测试探针台及设备，涉及硅晶片测试技术领域，能够适用于真空测试环境中对晶圆的固定。包括：载台，在所述载台上设有用于固定晶圆的压环。本实用新型适用于半导体、光电元器件、集成电路等的性能测试中，特别适用于对晶圆的测试。
- 测试插座-201580044606.8
- 朴商德 - 李诺工业股份有限公司
- 2015-03-26 - 2020-02-14 - G01R1/073
- 本发明揭示一种用于检验讲究性质的电子器件的测试插座。用于检验对象的电性性质的测试插座包括：多个探针，被配置以用于在检验方向上缩回；探针支撑体，被配置以用于支撑多个探针，以使多个探针的第一端突出以接触对象的目标接触点；以及印刷电路板(PCB)，被配置成放置于探针支撑体下方，安装有电子部件，形成有供多个探针的第二端穿过的孔，并包括多个探针的至少一个第二端接触的至少一个第一焊垫及形成于与第一焊垫相对的侧上的至少一个第二焊垫，并且形成有自第一焊垫及第二焊垫延伸并连接至所安装电子部件的电气路径。
- 一种提高测试稳定性的三针组-201920552089.0
- 徐立峰 - 胜峰科技(宁波)有限公司
- 2019-04-22 - 2020-02-07 - G01R1/073
- 本实用新型公开了一种提高测试稳定性的三针组，包括探针主体，所述探针主体包括凸起部，所述探针主体上设置有限位卡环，所述探针主体上套设有探针座，所述探针座位于限位卡环一侧，所述探针座包括螺纹连接座和外接安装座，所述外接安装座与盖体连接，所述盖体通过伸缩杆与固定座连接，所述固定座两侧转动连接有对称分布的转动轴，所述转动轴的外端面固定有连接卡板，所述连接卡板位于凸起部上方，装置结构简单，且能选择性的对锂电池进行夹持固定，提高测试时的稳定性。
- DC-AC探针卡拓扑-201210432432.0
- W.C.格克;W.克瑙尔 - 基思利仪器公司
- 2012-11-02 - 2020-01-31 - G01R1/073
- 一种用于测量DUT的DC‑AC探针卡，包括：多个探针，各探针具有用于接触所述DUT的远端；以及可操作连接测试仪器到探针上的多个连接路径，其中，各连接路径提供在相应的测试仪器连接和探针之间的AC测量所需的特征阻抗和DC测量的保护路径。
- 一种用于线圈板测试的治具-201920617105.X
- 张斌;代伟;钟招娣;夏国伟;姚峰 - 胜宏科技(惠州)股份有限公司
- 2019-04-30 - 2020-01-24 - G01R1/073
- 一种用于线圈板测试的治具，包括上模和下模，所述的下模设置在上模的下方并与之相匹配，所述的上模上设有若干个上导电部，所述的上导电部的中间设有凹槽，所述的下模上设有若干个与上导电部对应设置的下导电部，所述的下导电部的中间设有凸块，所述的凸块与凹槽的位置相对应，所述的上模边缘和下模边缘分别设有能够导电的上转接针和下转接针，所述的上导电部侧边设有能够导电的上起始点测试针，所述的下导电部侧边设有能够导电的下起始点测试针。本实用新型实现线圈板的层间短路、油墨绝缘性、内槽耐电压性等测试项目的一次性检测，提升了检测效率，测试结果准确性高。
- 探针、检查工具及检查装置-201910619745.9
- 加藤穣;宫武忠数;林明生;长沼正树;谢晋杰;王正义;拉明德吉特·辛格 - 日本电产理德股份有限公司;日本电产SV探索股份有限公司
- 2019-07-10 - 2020-01-21 - G01R1/073
- 本发明提供一种容易使两个探针与微细的检查点接触的探针及使用所述探针的检查工具、检查装置。探针(Pr)具有大致棒状的形状，所述探针(Pr)包括用于与设于检查对象物(100)的检查点(101)接触的大致圆柱状的前端部(Pa)、与前端部相反的一侧的大致圆柱状的基端部(Pb)、及具有扁平的带状形状且以将前端部(Pa)与基端部(Pb)相连的方式延伸设置的本体部(Pc)，在前端部(Pa)形成有与探针(Pr)的轴心倾斜地交叉的前端面(Pf)。
- 一种探针模组-201911100838.7
- 江斌;刘跃;李浩 - 苏州华兴源创科技股份有限公司
- 2019-11-12 - 2020-01-21 - G01R1/073
- 本发明公开一种探针模组，包括本体、浮板、以及探针组件；探针组件包括：结合固定在所述本体顶部的盖板；结合在所述盖板底面的且位于中空内腔的包括有若干针槽的型芯；以及与若干针槽一一对应的被配置在针槽内的若干刀片针，所述针槽形状与刀片针相匹配。本发明提供的探针模组通过将浮板与探针组件分别固定于本体两侧的设计，且通过在型芯上设置与刀片针匹配的针槽，使得多个刀片针可一一对应安装于针槽内，保证的装配的有效性，且由于针槽的形状与刀片针形状一致，使得整体结构更紧凑，增加了测试过程的稳定性。
- 一种探针模组-201911100843.8
- 江斌;刘跃;李浩 - 苏州华兴源创科技股份有限公司
- 2019-11-12 - 2020-01-21 - G01R1/073
- 本发明公开一种探针模组，包括本体；位于本体底部的浮板以及位于浮板的背离本体一侧的探针组件；探针组件包括盖板；结合固定在盖板底面的包括有若干针槽的型芯；以及被限位件限位固定于针槽内的若干刀片针；浮板上包括有与刀片针电接触端对应的针孔，浮板被配置为在刀片针延伸方向上可相对本体浮动，刀片针的电接触端可在浮板靠近本体的位置由针孔探出浮板的背离本体的一侧表面。本发明可在某一探针损坏时，针对探针组件进行整体更换。在更换探针组件时，作为探针模组一部分的浮板与本体之间的装配精度不受影响，不用进一步调整二者之间的精度，在提高了探针模组更换探针的工作效率的同时，增加了测试过程的稳定性。
- 新型测试顶针-201920183816.0
- 陈明中;蔡羽;林春喜;施杨钦;林票胜;许凯滨;归禄发 - 惠州市德合盛科技有限公司
- 2019-02-01 - 2020-01-21 - G01R1/073
- 一种新型测试顶针包括绝缘底板、塑胶支架及多个扣电接触弹片。塑胶支架罩设绝缘底板，塑胶支架开设有多个顶针定形腔及多个避位孔，避位孔与顶针定形腔连通。扣电接触弹片包括接线引脚、弹片接触头及弹性弯道连接件，弹性弯道连接件设置有两个折弯部，接线引脚及弹片接触头分别与两个折弯部的末端连接，弹性弯道连接件容置于顶针定形腔内，弹片接触头用于与电池抵接，接线引脚用于与测试电路电连接，扣电接触弹片为一体成型结构，扣电接触弹片直接有金属基材折弯形成，通过自身弹性及配合塑胶支架上的顶针定形腔取代原有的弹簧连接结构与电池抵持，以进行电池的电性能测试，提高了顶针的导电性能且延长了顶针的使用寿命。
- 探针卡及晶圆测试设备-201920418003.5
- 高翔;王有亮;谢家红;周杰;田茂 - 德淮半导体有限公司
- 2019-03-29 - 2020-01-21 - G01R1/073
- 一种探针卡及一种晶圆测试设备，所述探针卡包括：电路板；两个以上的探针单元，位于所述电路板一侧表面上，包括若干探针；升降单元，连接所述探针单元与所述电路板，用于调整所述探针单元的高度。所述探针卡的各个探针单元高度能够单独调节。
- 探针卡-201920440227.6
- 何雪纯;侯天宇;周杰 - 德淮半导体有限公司
- 2019-04-02 - 2020-01-21 - G01R1/073
- 本实用新型涉及半导体制造技术领域，尤其涉及一种探针卡。所述探针卡包括：电路板，所述电路板中具有一沿垂直于所述电路板的方向贯穿所述电路板的通孔；镜头，位于所述通孔内；保护组件，夹设于所述电路板内，且所述保护组件包括至少一叶片，所述叶片能够朝向所述通孔运动，以遮盖所述镜头的入光面。本实用新型避免了在对探针卡中的探针进行清理时，颗粒物掉落在所述镜头的入光面。
- 组合式电流探针中的偏心电压针结构-201920224692.6
- 孙炳贵 - 昆山康信达光电有限公司
- 2019-02-22 - 2020-01-17 - G01R1/073
- 本实用新型揭示了组合式电流探针中的偏心电压针结构，电流针内设有配接滑道，电压针包括电压针杆体、电压针头端和绝缘机构，电压针头端与电压针杆体相焊接一体，绝缘机构包括绝缘座、弹性体及限位绝缘环，绝缘座包括装载部及配接体，配接体滑动设置在配接滑道内，电压针杆体的自由端分别穿过配接体、弹性体及限位绝缘环并外露，外露端上设有固定限位环体。本实用新型能使得电压针满足硬度及耐磨性的同时，又具备较优地导电率。符合探针的高导电率需求，延长了探针的使用寿命。电压针头端的配接通道及焊接通槽的设计更易于电压针的焊接作业。绝缘机构设计巧妙，能满足对电压针绝缘配接及位移需求。探针主体在探针座内滑动位移的轴向稳定性较优。
- 探针模组-201920601677.9
- 杨利雄;杨龙 - 东莞市盈之宝电子科技有限公司
- 2019-04-28 - 2020-01-17 - G01R1/073
- 本实用新型公开了一种探针模组，包括保护框、金属排、中间连接金属片、连接器、探针模组以及限位组件；连接器和探针模组均安装于保护框外，金属排包括金属传电片，金属传电片和探针模组一一对应设置，金属传电片的一端连接连接器，另一端伸入至保护框内；各金属传电片均分别通过一能导电的中间连接金属片连接相对应的探针模组；限位组件将金属传电片彼此之间相隔开。本实用新型通过金属传电片和中间连接金属片连接连接器和探针模组，金属传电片和中间连接金属片均采用金属材料制成，没有被绝缘材料包覆住，具有很好地散热性，不易因高温烧坏而大致火灾的发生，而且限位组件使金属传电片之间相隔开，使得金属传电片之间不会接触干扰。
- 一种电路板测试用的探针组件-201920653736.7
- 徐立峰 - 胜峰科技(宁波)有限公司
- 2019-05-08 - 2020-01-17 - G01R1/073
- 本实用新型公开了一种电路板测试用的探针组件，包括固定件，所述固定件上上下贯通设有若干个通道，每个通道内均固定设有套管，所述套管内设有可调节上下高度的探针；所述探针包括两端开口的导电套管，所述导电套管的上端开口设有堵头，靠近堵头一侧的导电套管内设置有弹簧，所述导电套管的下端开口处设有与弹簧接触的导电探针，所述导电探针的外侧端部可拆卸设置有探头；所述导电套管上具有向内凹陷的凹陷部，所述导电探针的一端位于凹陷部的上方、并在其上设有与凹陷部搭接的圆台体。本实用新型可调整多个探针的高度来适配产品，且探针组件整体安装方便；探头的可拆卸安装，可根据待测产品需求更换探头，操作方便，利于降低成本。
- 一种探针的选择系统和方法-201810730474.X
- 陈爱喜;王利;李坊森 - 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
- 2018-07-05 - 2020-01-14 - G01R1/073
- 本发明公开了一种探针的选择系统和方法，包括微控制单元、阵列开关、四探针扫描隧道显微镜、电流表和电压表；所述阵列开关分别与所述四探针扫描隧道显微镜的输出端、所述电流表和所述电压表的输入/输出端电性连接，所述微控制单元与所述阵列开关电性连接，控制阵列开关进行动作，以实现探针的选择通过阵列开关的切换，实现了对四探针输运测试系统的电路切换；通过操控软件的控制，更可以实现探针电路快速有效的切换，提高测量的稳定性。
- 用于检测晶圆上射频器件性能的探卡及检测系统-201920338390.1
- 章景恒 - 武汉衍熙微器件有限公司
- 2019-03-18 - 2020-01-14 - G01R1/073
- 本实用新型提供一种用于检测晶圆上射频器件性能的探卡，其特征在于：它包括PCB板、探针和转接头，其中转接头位于PCB板的背面，探针位于PCB板的正面，且探针与对应的转接头电连接，至少2个探针为一组，在PCB板上构成M组*N组的阵列，其中M和N均为正整数，且不同时为1；每组探针用于检测一个晶圆上的射频器件，每组探针中探针数量根据待测射频器件的需要而定，位于同一组内的探针的针尖对应待测射频器件的测试点。本实用新型通过采用成倍的探针组，从而一次能够检测M*N个射频器件，节约了成倍的时间，成倍提高了测试效率。
- 一种载波测试工装-201920242338.6
- 姚春风;朱沈卫;金鲁滨 - 海盐德创电子有限公司
- 2019-02-26 - 2020-01-07 - G01R1/073
- 本实用新型公开了一种载波测试工装，包括工装基板、模块定位机构、探针组件；所述模块定位机构包含模块定位板和并排布置在模块定位板上供模块嵌入的多个定位组件；所述模块定位板与所述工装基板平行设置，所述模块定位板相对所述工装基板相向或相背平移；在所述模块定位板相对所述工装基板相向移动设定距离后，所述探针组件将模块的引脚与检测电路连通，其接触可靠性增加，增加要故障排除的效率，减少了维修成本，增加了放置模块的便利性，增加了取下模块的便利性。
- 一种微调距测量表笔-201920573636.3
- 张晓晴;严诗友;王敏达;石尚虎;印崧;江庆 - 安徽农业大学
- 2019-04-25 - 2020-01-07 - G01R1/073
- 本实用新型涉及电工仪表及电子测量仪器配套制造技术领域，具体为一种微调距测量表笔，包括第一杆体，所述第一杆体的上端通过可拆式铰接螺栓铰接安装有第二杆体，所述第一第一杆体和第二杆体的末端均固定安装有检测探头，且第一杆体和第二杆体上均固定安装有用于电性连接检测探头和外部检测终端的测量导线。有益效果为：该表笔能够利用一对检测探头与外部检测设备配合对任意两个电性相连的检测位点之间进行电压、电阻和电流等参数的检测，并且能够通过两种方式实现对检测探头之间间距的精确调整，从而能够根据使用的需要在保证调整精确性的前提下提高使用的便捷性，从而能够良好的满足各种检测场合的检测需要，具有很高的实用价值。
- 分立器件测试方法-201911042298.1
- 李晶晶;谢晋春;辛吉升 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- 2019-10-30 - 2020-01-03 - G01R1/073
- 本发明公开了一种分立器件测试方法,在分立器件的测试中，针对不同的探针测试机台，根据待测产品的需求进行定制化针环模块，将定制化针环模块与不同探针测试机台的各种基板进行结合，进行不同的待测产品的不同项目的测试。本发明通过将传统的探针测试机台的不同探针卡的核心部分提取出来，进行单独定制，该定制部分包含原探针卡上的全部探针，以及一些接口，形成一个定制化针环模块，将此模块再与外围的各种不同基座进行结合，即可以一个定制化针环模块实现各种不同的测试项目的需求。
- 探针切换装置及PCB阻抗测试机-201710648209.2
- 宋卫华;叶宗顺;何凤雷 - 南京协辰电子科技有限公司
- 2017-08-01 - 2020-01-03 - G01R1/073
- 本发明提供了一种探针切换装置及PCB阻抗测试机，该探针切换装置包括：支撑体(10)；第一探针部，相对支撑体(10)可移动设置，第一探针部具有至少两个第一检测位置，第一探针部可在至少两个第一检测位置之间移动切换；至少两个第二探针部，相对支撑体(10)可移动设置，每个第二探针部具有与第一探针部配合的第二检测位置及避让第一探针部与其余的第二探针部配合的避让位置，第二探针部可在第二检测位置与避让位置之间移动切换。本发明有效的解决了现有技术中切换探针时需要更换探针组件拆卸繁琐、测试精度低的问题，可实现自动化测试。
- 一种抵紧固定结构、探针台及压紧针卡固定板的方法-201910891349.1
- 韦日文;雷迪;陈子鹏;肖乐;王胜利 - 深圳市矽电半导体设备有限公司
- 2019-09-20 - 2019-12-27 - G01R1/073
- 本发明公开了一种抵紧固定结构、探针台及压紧针卡固定板的方法。一种用于将针卡固定板抵紧固定的抵紧固定结构包括，旋转连接于底板上的驱动环，所述驱动环设置有多个限位导向部；压紧环通过所述限位导向部连接于驱动环，压紧环相对于底板能够产生第一方向的分运动；针卡固定板沿垂直于第一方向的平面放置；驱动环带动压紧环运动，安装于底板的挡位部沿垂直于第一方向止抵于压紧环，使压紧环沿第一方向止抵于放置于底板上的针卡固定板；一种包括所述抵紧固定结构的探针台；一种压紧针卡固定板的方法，安装于底板的挡位部沿垂直于第一方向止抵于压紧环；在驱动环带动下，所述压紧环沿第一方向运动并止抵于沿垂直于第一方向放置的针卡固定板。
- 一种用于高低温测试的垂直探针卡-201920291579.X
- 周明 - 强一半导体(苏州)有限公司
- 2019-03-07 - 2019-12-17 - G01R1/073
- 本实用新型公开了一种用于高低温测试的垂直探针卡，包括PCB板、加强板、PH探针头锁板环、陶瓷电气连接板和PH探针头，PCB板的上板面设置有加强板，PCB板和加强板通过锁紧螺丝板固定，PCB板的下板面连接设置有PH探针头锁板环，PH探针头锁板环的环内设置有陶瓷电气连接板，陶瓷电气连接板与PCB板的下板面连接并形成电气通路，PH探针头设置在PH探针头锁板环的下方并与其锁附，且与陶瓷电气连接板连接并形成电气通路，PCB板的下板面设置有PCB密封胶，PCB密封胶覆盖PH探针头锁附环的外环之外的所有区域。陶瓷基板在高温时变形量极小，可忽略不计，PCB密封胶在低温时能防止雾气的出现，故完美的解决垂直探针卡在高低温测试时的弊端。
- 探针卡装置及其立体式信号转接结构-201810575718.1
- 李文聪;谢开杰;苏伟志 - 中华精测科技股份有限公司
- 2018-06-06 - 2019-12-13 - G01R1/073
- 本发明公开一种探针卡装置及其立体式信号转接结构，立体式信号转接结构包含转接载板、支撑架以及导板。转接载板具有位于相反侧的第一板面与第二板面，且包含有多个信号线路，每个信号线路于转接载板的板面形成有一信号接点。支撑架抵接且固定于转接载板的第一板面，并且支撑架所抵接的第一板面部位是位于多个信号接点的外侧。导板形成有多个穿孔，且设置于支撑架上。其中，上述导板、支撑架及转接载板共同包围界定出一收容空间，而转接载板的多个信号接点位于收容空间内。据此，本发明提供一种截然不同于现有构造的立体式信号转接结构。
- 一种按键板测试针改造装置-201920335511.7
- 罗良禄;马红丽;将理国 - 深圳市星河电路股份有限公司
- 2019-03-18 - 2019-12-13 - G01R1/073
- 本实用新型公开了一种按键板测试针改造装置，包括上模组件、测试针、针套、弹簧和下模组件，若干组所述测试针安装在若干组针套的内部，所述测试针与上模组件活动连接，若干组所述弹簧的一端分别安装在若干组测试针的尾部，若干组所述弹簧分别安装在若干组针套的内部，若干组所述针套分别安装在上模组件上，所述下模组件设置在上模组件的下方，所述上压板设置在第二层板的下方，所述上连接板与上压板之间设有四组上导柱，测试针接触面积增加及减小下压弹簧的压力来到达测试针与按键位置接触压力减小达到不压上的目的，测试针角度调整，有原来的90度调整到120度，增加接触面积，套在测试针上的弹簧压力由原来的60‑80G调整到10‑15G。
- 电连接装置-201880024912.9
- 林崎孝幸 - 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
- 2018-04-03 - 2019-12-06 - G01R1/073
- 本发明提供一种电连接装置，该电连接装置包括：探针头(20)，其具有引导孔(200)，引导孔(200)的与延伸方向垂直的形状是对多边形的拐角部进行倒圆角而成的形状；以及探针(10)，其被以贯穿引导孔(200)的状态保持于探针头(20)，在探针(10)的与引导孔(200)的拐角部(200C)相对的角区域中，形成有沿着探针(10)的轴向的缺口。
- 一种紧固组装式垂直探针卡-201910952503.1
- 严日东 - 严日东
- 2019-10-09 - 2019-12-03 - G01R1/073
- 本发明公开了一种紧固组装式垂直探针卡，具体涉及紧固组装式探针卡领域，该探针卡设在被测器件接触进行测试的上方，包括下导引部、上导引部、间隔件、紧固部、间隙板部和接触探针；上导引部设置于下导引部上方，所述下导引部包括下导引体、下导孔和下紧固孔，所述下导孔均匀分布于下导引体上，且贯穿下导引体设置，所述下紧固孔设置于下导引体两侧。本发明通过上导引部和下导引部采用紧固连接方式进行组装，插入接触探针的上下通孔相互对应，插入探针后形成空隙，插设接触探针后可以将其紧固，从而最大限度地减少接触探针损坏，且容易组装，由此达到提高组装便利性和精确度且增加使用寿命的效果。
- 电连接装置-201880024254.3
- 林崎孝幸;成田寿男 - 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
- 2018-04-03 - 2019-12-03 - G01R1/073
- 本发明提供一种电连接装置，该电连接装置包括：探针(10)；以及探针头(20)，其具有由探针(10)贯穿的顶部(21)、配置于比顶部(21)靠端头部侧的位置且由探针(10)贯穿的底部(23)、以及配置于顶部(21)与底部(23)之间且由探针(10)贯穿的上部引导部(24)和下部引导部(25)，探针(10)被以在顶部(21)与底部(23)之间弯曲的状态保持，通过端头部与被检查体(2)相接触，从而探针(10)发生压曲，至少探针(10)发生压曲的状态下的探针(10)的自贯穿底部(23)的部分起到贯穿下部引导部(25)的部分为止的连续的部分是刚性比探针(10)的发生压曲的部分的刚性高的高刚性部分(101)。
- 探针、检查夹具、检查装置、以及探针的制造方法-201910384036.7
- 戒田理夫;游辉哲 - 日本电产理德股份有限公司;美亚科技股份有限公司
- 2019-05-09 - 2019-11-26 - G01R1/073
- 本发明提供一种可控制弯曲方向且容易制造的探针、使用所述探针的检查夹具、检查装置、以及所述探针的制造方法。探针(Pr)具有呈直线状地延长的大致棒状形状，包括前端部(Pa)、与前端部(Pa)相连的主体部(PC)、及与主体部(PC)相连的基端部(Pb)，主体部(PC)包含与棒状的轴方向正交的厚度方向的厚度(T)随着从前端部(Pa)离开而逐渐地变薄的第一连接区域(Pc1)、及厚度(T)随着从基端部(Pb)离开而逐渐地变薄的第二连接区域(Pc2)，且主体部(PC)中的与厚度方向正交的宽度方向的尺寸(W)比前端部(Pa)及基端部(Pb)大。
- 用于探针卡制造、检测及维修的设备及其使用方法-201910781444.6
- 杰西·吕 - 杰西·吕
- 2019-08-23 - 2019-11-26 - G01R1/073
- 本发明涉及一种用于探针卡制造及检测的设备，包括：工作台，其上开设有检修窗口；支设于所述工作台下方调节机构，所述调节机构可相对于所述工作台沿X、Y及Z方向进行移动调节；置于所述调节机构上、供固定探针卡的安装座；固设于所述工作台底面的打磨垫，所述打磨垫与所述检修窗口错开设置；以及驱动连接所述调节机构的驱动机构，通过所述驱动机构驱动所述调节机构相对于所述工作台沿X、Y及Z方向进行移动调节，进而带动所述安装座上的探针卡移动并可进行磨针作业和探针位置的检测及调整。本发明结合探针卡磨针、测量、调整以及测量与分析各功能在一个设备上，减低了各设备费用，有效的简化整个探针卡制造和维修。
- 承载结构-201920110618.1
- 黄鸿俊;黄经纬;苏笠玮 - 新加坡商美亚国际电子有限公司
- 2019-01-22 - 2019-11-26 - G01R1/073
- 一种承载结构，用于承载探针卡，其包括：承载件及强化片体，该承载件具有外框架及设于该外框架内的支架，且该强化片体设于该支架上，以借由该外框架内设有该支架及强化片体，使该承载结构结合探针卡以安装于测试机台上时不易发生变形。
- 专利分类
