“戒田理夫”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果8个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]接触端子、检查夹具以及检查装置-CN202080024930.4在审
发明人： 戒田理夫;太田宪宏;横田友佑 -专利权人：日本电产理德株式会社
申请日： 2020-03-12 - 公布日： 2021-11-12 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明提供一种接触端子。第一插入部具有第一接触部，该第一接触部具有沿着轴向的第一平面，第二插入部具有第二接触部，该第二接触部具有沿着上述轴向的第二平面，上述第一平面与上述第二平面接触，筒状体具有沿上述轴向设于上述筒状体的上述轴向一方侧端部的周面的第一端部侧切口、以及沿上述轴向设于上述筒状体的上述轴向另一方侧端部的周面的第二端部侧切口中的至少一方，在设有上述第一端部侧切口的情况下，上述第一插入部具有配置于上述第一端部侧切口的周向端面之间的第一端部侧肋，在设有上述第二端部侧切口的情况下，上述第二插入部具有配置于上述第二端部侧切口的周向端面之间的第二端部侧肋。
接触端子检查夹具以及装置

[发明专利]检查治具-CN202080014743.8在审
发明人： 戒田理夫 -专利权人：日本电产理德股份有限公司
申请日： 2020-02-20 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明的检查治具包括：接触端子；以及间距变换单元，与所述接触端子电性连接，将所述接触端子间的第一间距变换为与所述第一间距不同的第二间距，所述接触端子具有在所述接触端子的轴向延伸且具有导电性的筒状体、及具有导电性的棒状的导体，所述筒状体具有构成为沿着所述筒状体的周面的螺旋状的弹簧部，所述导体具有自所述筒状体向所述轴向其中一侧突出的非插入部、及配置于所述筒状体内部且固定于所述筒状体的所述轴向的其中一侧的端部的插入部，所述间距变换单元具有：基板部，具有垂直于所述轴向的表面；及突出部，自所述表面向所述轴向其中一侧突出且具有导电性，与所述筒状体的所述轴向的另一侧的端部嵌合。
检查

[发明专利]接触端子、检查治具以及检查装置-CN201980088423.4在审
发明人：太田宪宏;戒田理夫 -专利权人：日本电产理德股份有限公司
申请日： 2019-12-19 - 公布日： 2021-08-20 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明的探针Pr包括：筒状体Pa，具有导电性且具有筒状形状；以及第一中心导体Pc，具有导电性且具有棒状形状；筒状体Pa的与轴方向垂直的剖面的形状为矩形或六边形，第一中心导体Pc中，第一中心导体Pc的与轴方向垂直的剖面的形状和筒状体Pa的剖面的形状相同，且包含：第一插入部，插入筒状体Pa的一端部侧；以及第一突出部Pc4，自筒状体Pa的一端部突出。
接触端子检查以及装置

[发明专利]探针、检查夹具、检查装置、以及探针的制造方法-CN201910384036.7在审
发明人： 戒田理夫;游辉哲 -专利权人：日本电产理德股份有限公司;美亚科技股份有限公司
申请日： 2019-05-09 - 公布日： 2019-11-26 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明提供一种可控制弯曲方向且容易制造的探针、使用所述探针的检查夹具、检查装置、以及所述探针的制造方法。探针(Pr)具有呈直线状地延长的大致棒状形状，包括前端部(Pa)、与前端部(Pa)相连的主体部(PC)、及与主体部(PC)相连的基端部(Pb)，主体部(PC)包含与棒状的轴方向正交的厚度方向的厚度(T)随着从前端部(Pa)离开而逐渐地变薄的第一连接区域(Pc1)、及厚度(T)随着从基端部(Pb)离开而逐渐地变薄的第二连接区域(Pc2)，且主体部(PC)中的与厚度方向正交的宽度方向的尺寸(W)比前端部(Pa)及基端部(Pb)大。
前端部主体部探针基端部连接区域变薄棒状形状方向正交检查夹具检查装置弯曲方向直线状地可控制正交的棒状制造

[发明专利]柔性基板检测装置-CN201510116565.0有效
发明人：中川隆;松川俊英;疋田理;戒田理夫 -专利权人：日本电产理德股份有限公司
申请日： 2015-03-17 - 公布日： 2019-11-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种可以对柔性电路基板顺利地进行检测，同时能容易实现简化及轻量化的基板检测装置。对柔性基板进行检测的基板检测装置具有输送路径和检测部机构。在输送路径中，连续地输送由多个单位基板排列配置的柔性基板。检测部机构可使用于检测在输送路径上输送的柔性基板的夹具接近/远离柔性基板。输送路径包含向垂直下方输送柔性基板的纵向输送部分。检测部机构对于在纵向输送部分所输送的所述柔性基板，以垂直柔性基板的方向移动夹具，从而使该夹具接近/远离柔性基板。
柔性检测装置

[发明专利]基板检测夹具设计方法，基板检测夹具及基板检测装置-CN201510190506.8有效
发明人： 戒田理夫;松川俊英;藤野真;疋田理 -专利权人：日本电产理德股份有限公司
申请日： 2015-04-21 - 公布日： 2019-07-16 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提供检测夹具设计方法，通过该方法可以补偿基于基板制造过程中由伸缩而引起的位置偏差。基板检测夹具设计方法是用于设计具有接触端子的基板检测夹具，且接触端子能导通接触检测对象基板的检测点。基板检测夹具设计方法包含第1设计工序、伸缩率获取工序以及第2设计工序。在第1设计工序中，基于作为检测对象的基板的设计数据，编成初步设计基板检测夹具的初步设计数据。在伸缩率获取工序中，基于基板的制造条件，获取所述基板的伸缩率。在第2设计工序中，将初步设计数据以伸缩率缩放，由此获取实际制造基板检测夹具的设计数据。
检测夹具设计方法装置

[外观设计]电气特性测定用探头-CN201830647559.2有效
发明人： 戒田理夫;游辉哲 -专利权人：日本电产理徳股份有限公司;美亚科技股份有限公司
申请日： 2018-11-15 - 公布日： 2019-06-04 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1．本外观设计产品的名称：电气特性测定用探头。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于半导体晶片、芯片、封装、元件等的检查和电路布线的电气特性测定。3．本外观设计产品的设计要点：各视图所示的形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。5．使用状态参考图中，数字1~5分别表示检查装置、本产品、检查台、检查对象物、检查工具。
外观设计电气特性测定探头半导体晶片检查对象物电路布线检查工具检查装置检查台封装芯片检查图片

[发明专利]基板检查装置及基板检查方法-CN200610156264.1无效
发明人： 戒田理夫 -专利权人：日本电产丽德株式会社
申请日： 2006-12-28 - 公布日： 2007-07-11 - 主分类号： G01R27/04 文献下载
摘要：提供一种对高密度的布线图案也能有效率地进行四端子测定的基板检查装置。此基板检查装置使用多个检查用探针，该检查用探针与被设定有多个被检查点的具有多个布线的被检查基板的上述被检查点接触。各检查用探针由电压测定用探针与电流供给用探针构成。此基板检查装置还具有：连接构件，按组使多个电流供给用探针相互电连接；电流供给单元，经由此连接构件对该组供给电流；电压测定单元，在与属于组的电流供给用探针对应的电压测定用探针、属于不同于该组的其他组的检查用探针所对应的电压测定用探针之间进行电压测定；计算单元，根据电流供给单元的供给电流值与电压测定单元的测定电压值，计算出上述2个被检查点之间的布线的电阻值。
检查装置方法

1
共 8 条