[发明专利]半导体装置及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201611221504.1 申请日: 2016-12-27
公开(公告)号: CN107017158A 公开(公告)日: 2017-08-04
发明(设计)人: 北山纯一 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28;H01L21/78;H01L29/41
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 申发振
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本文公开了一种半导体装置及其制造方法。半导体装置的制造方法在半导体衬底的表面侧上形成槽,并且在此之后从半导体衬底的背部侧执行研磨,直到研磨面到达槽。在此之后,在通过研磨被分离的半导体衬底的背部上形成背部电极。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体装置的制造方法,包括以下步骤:(a)在具有多个芯片区的衬底的表面侧上形成元件;(b)在划分所述芯片区的边界区中形成槽;(c)从所述衬底的背部侧将所述衬底研磨到所述槽;以及(d)在步骤(c)中被分离的所述衬底的背部上形成背部电极。
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