[发明专利]指纹检测芯片的封装测试装置和方法有效

专利信息
申请号: 201510317521.4 申请日: 2015-06-10
公开(公告)号: CN105448858B 公开(公告)日: 2018-03-13
发明(设计)人: 李振刚;徐坤平;杨云 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;G01R31/265
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 代理人: 张大威
地址: 518118 广东省*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种指纹检测芯片的封装测试装置和方法,其中,指纹检测芯片的封装测试装置包括测试板,测试板设置于待测指纹检测芯片之上,其中,测试板接收待测指纹检测芯片的激励信号以使测试板与待测指纹检测芯片中的多个检测单元形成耦合电容,待测指纹检测芯片获取多个耦合电容的电容值,并根据多个耦合电容的电容值对待测指纹检测芯片的封装进行测试。本发明实施例的指纹检测芯片的封装测试装置和方法,通过在待测指纹检测芯片上设置测试板,待测指纹检测芯片获取多个耦合电容的电容值,并根据电容值对待测指纹检测芯片的封装进行测试,可快速有效地测试出待测指纹检测芯片的封装是否合格,提高了良品率。
搜索关键词: 指纹 检测 芯片 封装 测试 装置 方法
【主权项】:
一种指纹检测芯片的封装测试装置,其特征在于,包括:测试板,所述测试板设置于待测指纹检测芯片之上,其中,所述测试板导电,其中,所述测试板接收所述待测指纹检测芯片的激励信号以使所述测试板与所述待测指纹检测芯片中的多个检测单元形成耦合电容,所述待测指纹检测芯片获取所述多个耦合电容的电容值,并根据所述多个耦合电容的电容值对所述待测指纹检测芯片的封装进行测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于比亚迪股份有限公司,未经比亚迪股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510317521.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top