[发明专利]一种基于偶极层的高压AlGaN/GaN MISHEMT器件结构及其制作方法有效
申请号: | 201410311885.7 | 申请日: | 2014-07-02 |
公开(公告)号: | CN104037216B | 公开(公告)日: | 2016-11-16 |
发明(设计)人: | 冯倩;董良;代波;杜锴;郑雪峰;杜鸣;张春福;马晓华;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/778 | 分类号: | H01L29/778;H01L29/40;H01L29/51;H01L21/335 |
代理公司: | 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 | 代理人: | 郭官厚 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于偶极层的高压AlGaN/GaN MISHEMT器件结构及其制作方法,从下往上依次包括衬底、GaN缓冲层、AlN隔离层、GaN沟道层、AlGaN本征层、AlGaN掺杂层,所述AlGaN掺杂层上设有源极、钝化层1、有机绝缘层PTFE、钝化层2和漏极,所述有机绝缘层PTFE和漏极间设有钝化层2,所述有机绝缘层PTFE上设有ITO栅电极,所述ITO栅电极与所述源极间设有钝化层1,所述ITO栅电极向源极方向延伸填充钝化层1与有机绝缘层PTFE间的区域。本发明采用PTFE和ITO产生偶极子层减小了栅漏局部区域的2DEG,提高了击穿电压;并利用ITO栅场板,再次提高了器件的击穿电压。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 偶极层 高压 algan gan mishemt 器件 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种基于偶极层的高压AlGaN/GaN MISHEMT器件结构,其特征在于,从下往上依次包括衬底、GaN缓冲层、AlN隔离层、GaN沟道层、AlGaN本征层、AlGaN掺杂层,所述AlGaN掺杂层上设有源极、钝化层1、有机绝缘层PTFE、钝化层2和漏极,所述有机绝缘层PTFE和漏极之间设有钝化层2,所述有机绝缘层PTFE上设有ITO栅电极,所述ITO栅电极与所述源极之间设有钝化层1,所述ITO栅电极向源极方向延伸填充钝化层1与有机绝缘层PTFE间的区域。
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