[发明专利]一种发光半导体器件有效
申请号: | 201310665417.5 | 申请日: | 2013-12-10 |
公开(公告)号: | CN103700746B | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 云峰;郭茂峰 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | H01L33/22 | 分类号: | H01L33/22;H01L33/02 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种发光半导体器件,包括N型半导体和依次设置于N型半导体一侧上的有源区、P型半导体和P电极,P型半导体具有粗糙表面,且在P型半导体的粗糙表面上采用PVD镀有光提取镀层,N电极设置于N型半导体另一侧上;当N电极设置于N型半导体上且与P电极同侧时,衬底设置于N型半导体另一侧上。本发明通过在P型半导体上制作粗糙表面,以及采用PVD在该P型半导体的粗糙表面镀有光提取镀层,使得发光半导体器件的出光效率至少提高了5%。 | ||
搜索关键词: | 一种 发光 半导体器件 | ||
【主权项】:
一种发光半导体器件,其特征在于,包括P型半导体(203)和设置于P型半导体(203)上的P电极(102),该P型半导体(203)具有粗糙表面,且在P型半导体(203)的粗糙表面上镀有光提取镀层(301);还包括依次设置于P型半导体(203)与P电极(102)相对一侧上的有源区(202)和N型半导体(201),N电极(101)设置于N型半导体(201)上;光提取镀层(301)为高折射率材料涂层与低折射率材料涂层交替使用的复合层,且首先采用PVD将高折射率材料镀在P型半导体(203)的粗糙表面上,其中,高折射率材料采用TiO2、Ti2O5或ZrO2中的一种或多种,低折射率材料采用SiO2;一层高折射率材料涂层与一层低折射率材料涂层组成一组复合层,且每一组复合层的高折射率材料涂层的膜厚Tnh与低折射率材料的膜厚TnL的比例为Tnh:TnL,从下至上所有组复合层的高折射率材料涂层的膜厚Tnh与低折射率材料的膜厚TnL的比例依次减小;当N电极(101)设置于N型半导体(201)上且与P电极(102)同侧时,该N型半导体(201)的纵向截面呈阶梯型,其具有高阶表面和低阶表面,在N型半导体(201)的高阶表面上依次设置有源区(202)、P型半导体(203)和P电极(102),在N型半导体(201)的低阶表面上设置N电极(101),且在N型半导体(201)与P电极(102)相对一侧上还设置有衬底(104);光提取镀层(301)的层数为6~20层,第一层高折射率材料涂层的膜厚为100nm~1000nm。
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