[发明专利]一种半导体发光器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201310229568.6 申请日: 2013-06-09
公开(公告)号: CN103311409A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 陈诚;齐胜利;郝茂盛 申请(专利权)人: 上海蓝光科技有限公司
主分类号: H01L33/48 分类号: H01L33/48;H01L33/22
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 201210 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种半导体发光器件及其制造方法,该方法至少包括以下步骤:提供一衬底;在所述衬底上生长外延层,所述外延层自下向上依次包括GaN缓冲层、非故意掺杂GaN层、N型氮化镓层、发光层及P型氮化镓层;在所述衬底和非故意掺杂GaN层之间形成呈带状分布的空气夹层及相应的粗化结构界面;继续后继芯片工艺处理;采用倒装工艺封装该器件。本发明有效的提升芯片的散热能力,又提升了出光效率。
搜索关键词: 一种 半导体 发光 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体发光器件的制造方法,其特征在于,该方法至少包括以下步骤: 1)提供一衬底; 2)在所述衬底上生长外延层,所述外延层自下向上依次包括GaN缓冲层、非故意掺杂氮化镓层、N型氮化镓层、发光层及P型氮化镓层; 3)利用先激光辐照,然后再溶液腐蚀的方法在所述辐照的区域将GaN缓冲层去除,形成呈带状分布的空气夹层;并利用N型氮化镓层的反应特性,使得非故意掺杂GaN层上表面获得粗化结构界面; 4)继续芯片制备工艺; 5)采用倒装工艺封装该器件。
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