[发明专利]一种半导体发光器件及其制造方法无效
申请号: | 201310229568.6 | 申请日: | 2013-06-09 |
公开(公告)号: | CN103311409A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 陈诚;齐胜利;郝茂盛 | 申请(专利权)人: | 上海蓝光科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/48 | 分类号: | H01L33/48;H01L33/22 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 李仪萍 |
地址: | 201210 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体发光器件及其制造方法,该方法至少包括以下步骤:提供一衬底;在所述衬底上生长外延层,所述外延层自下向上依次包括GaN缓冲层、非故意掺杂GaN层、N型氮化镓层、发光层及P型氮化镓层;在所述衬底和非故意掺杂GaN层之间形成呈带状分布的空气夹层及相应的粗化结构界面;继续后继芯片工艺处理;采用倒装工艺封装该器件。本发明有效的提升芯片的散热能力,又提升了出光效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 发光 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体发光器件的制造方法,其特征在于,该方法至少包括以下步骤: 1)提供一衬底; 2)在所述衬底上生长外延层,所述外延层自下向上依次包括GaN缓冲层、非故意掺杂氮化镓层、N型氮化镓层、发光层及P型氮化镓层; 3)利用先激光辐照,然后再溶液腐蚀的方法在所述辐照的区域将GaN缓冲层去除,形成呈带状分布的空气夹层;并利用N型氮化镓层的反应特性,使得非故意掺杂GaN层上表面获得粗化结构界面; 4)继续芯片制备工艺; 5)采用倒装工艺封装该器件。
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