[发明专利]一种再布线AAQFN封装器件的制造方法无效
申请号: | 201210548640.7 | 申请日: | 2012-12-17 |
公开(公告)号: | CN103021889A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 秦飞;夏国峰;安彤;刘程艳;武伟;朱文辉 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人: | 刘萍 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种再布线AAQFN封装器件的制造方法。制造形成的再布线AAQFN封装器件的引脚在封装工艺过程中采用蚀刻方法或者电镀方法形成,采用注塑或者丝网印刷方法在引脚之间的凹槽中配置绝缘填充材料,依次采用电镀和化学镀方法制作再布线层,采用塑封材料进行包封,塑封完成后,采用蚀刻方法或者机械磨削方法形成独立的引脚。制造形成的再布线AAQFN具有小的尺寸、高的I/O密度、低的制造成本和良好的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 一种 布线 aaqfn 封装 器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种再布线AAQFN封装器件的制造方法,其特征在于,再布线AAQFN封装器件包括:多个引脚在封装器件中呈面阵排列;绝缘填充材料配置于引脚与引脚之间;IC芯片通过粘贴材料配置于封装器件的中心位置;第一金属材料层围绕IC芯片排列;引脚通过再布线层实现与第一金属材料层的连接;第二金属材料层配置于引脚的下表面;IC芯片通过金属导线连接至第一金属材料层;塑封材料包覆密封上述IC芯片、粘贴材料、金属导线、第一金属材料层和再布线层,仅仅暴露出配置于引脚下表面的第二金属材料层。该方法,包括以下步骤:(a)采用曝光显影方法,在金属基材上表面形成具有窗口的掩膜材料层;(b)以具有窗口的掩膜材料层作为抗蚀层,对金属基材上表面进行蚀刻,形成引脚和凹槽,或以具有窗口的掩膜材料层作为抗镀层,对金属基材上表面进行电镀,形成引脚和凹槽;(c)移除配置于金属基材上表面的掩膜材料层;(d)采用注塑或者丝网印刷方法在引脚之间的凹槽中配置绝缘填充材料;(e)采用曝光显影方法,在绝缘填充材料和引脚的表面位置制作具有窗口的掩膜材料层;(f)依次采用化学镀和电镀方法在掩膜材料层的窗口中制作再布线层;(g)移除配置于绝缘填充材料和引脚表面的掩膜材料层;(h)采用电镀或化学镀方法在再布线层的表面部分配置第一金属材料层;(i)通过粘贴材料将IC芯片配置于封装器件的中心位置;(j)IC芯片通过金属导线连接至第一金属材料层;(k)采用注塑方法用塑封材料包覆密封IC芯片、粘贴材料、金属导线、再布线层和第一金属材料层,塑封后进行烘烤后固化;(l)采用机械磨削方法或者蚀刻方法对金属基材进行减薄,形成独立的引脚;(m)采用化学镀方法在引脚下表面制作第二金属材料层;(n)分离形成独立的单个封装件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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