[发明专利]形成芯片在晶圆的总成的方法有效

专利信息
申请号: 201210120748.6 申请日: 2012-04-23
公开(公告)号: CN103117279A 公开(公告)日: 2013-05-22
发明(设计)人: 林俊成;黄震麟;卢思维;洪瑞斌;郑心圃;余振华 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L25/16 分类号: H01L25/16;H01L21/54;H01L21/50;H01L21/304
代理公司: 北京德恒律师事务所 11306 代理人: 陆鑫;房岭梅
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种器件,该器件包括底部芯片和接合到所述底部芯片的有源顶部管芯。伪管芯附接到所述底部芯片。所述伪管芯与所述底部芯片电隔离。本发明还公开了形成芯片在晶圆的总成的方法。
搜索关键词: 形成 芯片 总成 方法
【主权项】:
一种器件,所述器件包括:底部芯片;有源顶部管芯,接合到所述底部芯片;和伪管芯,附接到所述底部芯片,其中所述伪管芯与所述底部芯片电隔离。
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