[实用新型]直边型金属盖半导体封装有效

专利信息
申请号: 201020232782.9 申请日: 2010-06-22
公开(公告)号: CN201829476U 公开(公告)日: 2011-05-11
发明(设计)人: 管军华 申请(专利权)人: 宇芯(成都)集成电路封装测试有限公司
主分类号: H01L23/04 分类号: H01L23/04;H01L25/00;H01L21/52;H01L21/48
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 詹永斌
地址: 611731 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型公开了一种直边型金属盖半导体封装,涉及印刷电路板上的半导体封装,目的是解决现有技术存在的封装体强度、上表面面积存在矛盾的问题,包括安装在印刷电路基板上的芯片,还包括金属盖和金属围墙,所述金属盖和金属围墙的上端面连接,金属围墙的下端面与印刷电路基板连接,所述芯片位于金属盖和金属围墙构成的空间内,所述金属盖与金属围墙连接部位的内角为直角。
搜索关键词: 直边型 金属 半导体 封装
【主权项】:
直边型金属盖半导体封装,包括安装在印刷电路基板上的芯片,其特征在于,还包括金属盖和金属围墙,所述金属盖和金属围墙的上端面连接,金属围墙的下端面与印刷电路基板连接,所述芯片位于金属盖和金属围墙构成的空间内,所述金属盖与金属围墙连接部位的内角为直角。
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