[实用新型]直边型金属盖半导体封装有效
申请号: | 201020232782.9 | 申请日: | 2010-06-22 |
公开(公告)号: | CN201829476U | 公开(公告)日: | 2011-05-11 |
发明(设计)人: | 管军华 | 申请(专利权)人: | 宇芯(成都)集成电路封装测试有限公司 |
主分类号: | H01L23/04 | 分类号: | H01L23/04;H01L25/00;H01L21/52;H01L21/48 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 詹永斌 |
地址: | 611731 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种直边型金属盖半导体封装,涉及印刷电路板上的半导体封装,目的是解决现有技术存在的封装体强度、上表面面积存在矛盾的问题,包括安装在印刷电路基板上的芯片,还包括金属盖和金属围墙,所述金属盖和金属围墙的上端面连接,金属围墙的下端面与印刷电路基板连接,所述芯片位于金属盖和金属围墙构成的空间内,所述金属盖与金属围墙连接部位的内角为直角。 | ||
搜索关键词: | 直边型 金属 半导体 封装 | ||
【主权项】:
直边型金属盖半导体封装,包括安装在印刷电路基板上的芯片,其特征在于,还包括金属盖和金属围墙,所述金属盖和金属围墙的上端面连接,金属围墙的下端面与印刷电路基板连接,所述芯片位于金属盖和金属围墙构成的空间内,所述金属盖与金属围墙连接部位的内角为直角。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宇芯(成都)集成电路封装测试有限公司,未经宇芯(成都)集成电路封装测试有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201020232782.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种并联LED芯片封装结构
- 下一篇:真空灭弧室安装筒