[发明专利]半导体被处理基板的真空处理系统及半导体被处理基板的真空处理方法有效
申请号: | 201010268843.1 | 申请日: | 2010-08-27 |
公开(公告)号: | CN102064123A | 公开(公告)日: | 2011-05-18 |
发明(设计)人: | 田内勤;近藤英明;仲田辉男;野木庆太;下田笃;智田崇文 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 黄永杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供将真空搬运室所具备的真空处理室的配置最佳化,且单位设置面积的被处理物的生产能力高的装置。一种半导体被处理基板的真空处理系统及使用该系统的真空处理方法,半导体被处理基板的真空处理系统具备:大气搬运室,其前面侧配置多个盒台,搬运设置于所述多个盒台内的一个上的盒内所收纳的晶片;锁定室,其配置于该大气搬运室的后方,在内部收纳从该大气搬运室搬运的所述晶片;第一真空搬运室,其与该锁定室的后方连结,从该锁定室搬运所述晶片;搬运中间室,其与所述第一真空搬运室的后方连结;第二真空搬运室,其与该搬运中间室的后方连结,从该搬运中间室搬运所述晶片;与所述第一真空搬运室的后方连结、处理从所述第一真空搬运室搬运的所述晶片的至少一个真空处理室;与所述第二真空搬运室的后方连结、处理从所述第二真空搬运室搬运的所述晶片的两个以上的真空处理室,与所述第一真空搬运室连结的真空处理室的数量比与所述第二真空搬运室连结的真空处理室的数量少,或者将与所述第一真空搬运室连结的真空处理室的使用限制为一个。 | ||
搜索关键词: | 半导体 处理 真空 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体被处理基板的真空处理系统,其特征在于,具备:大气搬运室,其前面侧配置多个盒台,搬运设置于所述多个盒台内的一个上的盒内所收纳的晶片;锁定室,其配置于该大气搬运室的后方,在内部收纳从该大气搬运室搬运的所述晶片;第一真空搬运室,其与该锁定室的后方连结,从该锁定室搬运所述晶片;搬运中间室,其与所述第一真空搬运室的后方连结;第二真空搬运室,其与该搬运中间室的后方连结,从该搬运中间室搬运所述晶片;与所述第一真空搬运室的后方连结、处理从所述第一真空搬运室搬运的所述晶片的至少一个真空处理室;与所述第二真空搬运室的后方连结、处理从所述第二真空搬运室搬运的所述晶片的两个以上的真空处理室,与所述第一真空搬运室连结的真空处理室的数量比与所述第二真空搬运室连结的真空处理室的数量少。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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