[发明专利]缎带状离子束的成形方法有效
申请号: | 200680045586.7 | 申请日: | 2006-11-15 |
公开(公告)号: | CN101322217A | 公开(公告)日: | 2008-12-10 |
发明(设计)人: | 史费特那·B·瑞都凡诺;彼德·L·凯勒曼;维克多·M·本夫尼斯特;罗伯特·C·林德柏格;肯尼士·H·波什;泰勒·B·洛克威尔;詹姆士·史帝夫·贝福;安东尼·雷诺 | 申请(专利权)人: | 瓦里安半导体设备公司 |
主分类号: | H01J37/12 | 分类号: | H01J37/12;H01J37/30;H01J37/317 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁 |
地址: | 美国麻*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明揭示一种缎带状离子束的成形技术。在一特定例示性实施例中,可将该技术实现为用于缎带状离子束的成形装置。装置可包含具有实质上为矩形的用于使缎带状离子束穿过的孔径的静电透镜,其中多个聚焦元件沿孔径的短边缘而定位,且其中每一聚焦元件经各别地偏压且定向以成形缎带状离子束。 | ||
搜索关键词: | 缎带 离子束 成形 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于缎带状离子束的成形装置,包含:具有实质上为矩形的用于使缎带状离子束穿过的孔径的静电透镜,其中多个聚焦元件沿所述孔径的短边缘而定位,且其中每一聚焦元件经各别地偏压且定向以成形所述缎带状离子束。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瓦里安半导体设备公司,未经瓦里安半导体设备公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200680045586.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种太阳能热水器节水阀
- 下一篇:重熔镀Sn材料和使用该材料的电子部件
- 同类专利
- 带电粒子光学设备-202180093973.2
- M·J-J·维兰德;A·V·G·曼格努斯 - ASML荷兰有限公司
- 2021-12-15 - 2023-10-24 - H01J37/12
- 本发明提供了用于检测反向散射带电粒子的各种技术,包括沿着子束路径加速带电粒子子束到达样品、从检测器阵列排斥二次带电粒子,以及提供可以在用于主要检测带电粒子的模式与用于主要检测二次粒子的模式之间切换的装置和检测器。
- 用于带电粒子束检查的样本预充电方法和设备-202311033092.9
- 刘学东;席庆坡;蒋友飞;任伟明;胡学让;陈仲玮 - ASML荷兰有限公司
- 2018-09-25 - 2023-10-10 - H01J37/12
- 本文涉及一种用于带电粒子束检查的样本预充电方法、设备和计算机可读介质。设备包括:带电粒子源,被配置为沿设备的主束轴发射带电粒子束;聚束透镜,被配置为使得束围绕主束轴集中;孔径;第一多极透镜;第二多极透镜;其中第一多极透镜相对于聚束透镜处于下游、并且相对于第二多极透镜处于上游;其中第二多极透镜相对于第一多极透镜处于下游、并且相对于孔径处于上游。
- 电子透镜-202180092385.7
- S·W·H·K·斯蒂恩布林克;J·J·科宁;J·范索伊斯特;M·J-J·维兰德 - ASML荷兰有限公司
- 2021-12-08 - 2023-09-22 - H01J37/12
- 本文中公开了一种电子光学器件、透镜组件和电子光学装置列。电子光学器件包括阵列衬底和邻接衬底,并且被配置为在衬底之间提供电位差。孔径阵列被限定在衬底中的每个衬底中,以用于电子束波的路径。阵列衬底具有阶梯式厚度,使得阵列衬底在与孔径阵列相对应的区域中比阵列衬底的另一区域更薄。
- 物镜阵列组件、电子光学系统、电子光学系统阵列、聚焦方法-202180076123.1
- M·J-J·威兰 - ASML荷兰有限公司
- 2021-11-03 - 2023-08-04 - H01J37/12
- 公开了物镜阵列组件和相关方法。在一种布置中,物镜阵列组件将子射束的多射束聚焦在样品上。平面元件限定沿着子射束路径对准的多个孔径。物镜阵列将多射束朝向样品投射。平面元件中的一个或多个平面元件的孔径补偿多射束中的离轴像差。
- 带电粒子束装置及其光轴调整方法-202010170557.5
- 薮修平 - 株式会社日立高新技术
- 2016-01-29 - 2023-07-18 - H01J37/12
- 本发明的目的在于在改变了光学条件的情况下也抑制光轴偏移,在本发明的一个实施方式中,具有:带电粒子源(1),其释放出照射到样本(14)的带电粒子束(4);聚焦透镜系统,其包括至少一个将带电粒子束(4)以预定的缩小率聚焦的聚焦透镜(7、8);偏转器(5、6),其位于上述聚焦透镜系统中最下游的聚焦透镜(8)与带电粒子源(1)之间,使带电粒子源(1)的虚拟位置移动;以及控制单元(20、21、22),其控制偏转器(5、6)以及上述聚焦透镜系统,控制单元(20、21、22)控制偏转器(5、6)使带电粒子源(1)的虚拟位置移动到抑制由上述聚焦透镜系统的缩小率的变化引起的、上述聚焦透镜系统的下游的带电粒子束(4)的中心轨道的偏移的位置(36)。
- 高分辨率的电子空间成像谱仪-202210907566.7
- 叶虹;史国华;何益;邢利娜 - 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
- 2022-07-29 - 2023-07-04 - H01J37/12
- 本发明公开了一种高分辨率的电子空间成像谱仪,包括:激光光源、沿入射激光方向依次设置的样品架、第一电透镜组、若干第二电透镜组以及探测器;第一电透镜组和第二电透镜组中均包括若干个电透镜,且所有的电透镜均为同心设置的带圆孔的金属圆片;样品架用于粘附固体样品,且与第一电透镜组中的最靠近激光光源的一个电透镜接触,第一电透镜组和若干个第二电透镜组相互间隔设置。本发明提供了一种级联放大的电子显微成像结构,通过电透镜组的层层放大,形成一种超高分辨率的电子空间图成像谱仪;该空间成像谱仪具备对空间分布间距为100nm的分散粒子的显微成像能力,具有百纳米的空间分辨率,在一定条件下,不受粒子初始发射速度的影响。
- 操纵器、操纵器阵列、带电粒子工具、多射束带电粒子工具和带电粒子射束的操纵方法-202180041541.7
- L·迪努·古特勒;G·阿克斯诺夫 - ASML荷兰有限公司
- 2021-05-28 - 2023-02-14 - H01J37/12
- 一种用于在投射系统中操纵带电粒子射束的操纵器,该操纵器包括衬底,该衬底具有相对的主表面和贯穿通道,在这些主表面的每个主表面中限定有孔径,该贯穿通道具有在孔径之间延伸的互连表面,其中互连表面包括一个或多个电极。操纵器还包括分压器,该分压器包括串联连接的两个或更多个电阻元件,该分压器包括每对相邻电阻元件之间的中间节点,其中至少一个电阻元件形成在衬底内以便在这些相对的主表面之间延伸;其中中间节点电连接到一个或多个电极中的至少一个电极。
- 一种电子显微镜-202222458498.9
- 何伟;张月新;胡继闯 - 纳克微束(北京)有限公司
- 2022-09-16 - 2023-01-10 - H01J37/12
- 本实用新型涉及一种电子显微镜,属于电子显微镜技术领域,能够将磁透镜功能和静电透镜功能融合到一起,通过调节环形极靴的位置以及电位差实现两种透镜功能的变换,操作简单,实现方便;该电子显微镜包括:电子源;电子加速电极;物镜:设置在所述电子加速电极的下方;内极靴:设置在物镜的上壳体内端内侧面,贴合上壳体内侧面设置;外极靴:设置在物镜的下壳体内端内侧,纵向设置;运动控制装置:设置在物镜内侧且位于内极靴下方;环形极靴或偏转装置或电子探测器:设置在运动控制装置上并在运动控制装置的作用下实现上下移动;环形极靴与电压调节器电性连接;样品台:位于底部。
- 带电粒子束装置-201780088310.5
- 平野辽;森下英郎;扬村寿英;片根纯一;野间口恒典 - 株式会社日立高新技术
- 2017-03-29 - 2022-12-20 - H01J37/12
- 带电粒子束装置具备:带电粒子源,其射出带电粒子束;助推电极,其配置于带电粒子源与试样之间,形成带电粒子束的通路,并且对上述带电粒子束进行加减速;第一磁极片,其形成为覆盖助推电极;第二磁极片,其形成为覆盖第一磁极片;第一透镜线圈,其配置于第一磁极片的外侧,并且配置于上述第二磁极片的内侧,且形成第一透镜;第二透镜线圈,其配置于第二磁极片的外侧且形成第二透镜;以及控制电极,其形成于第一磁极片的前端部与第二磁极片的前端部之间,且控制形成于试样与第二磁极片的前端部之间的电场。
- 一种电子显微镜及其使用方法-202211131351.7
- 何伟;张月新;胡继闯 - 纳克微束(北京)有限公司
- 2022-09-16 - 2022-11-29 - H01J37/12
- 本发明涉及一种电子显微镜及其使用方法,属于电子显微镜技术领域,能够将磁透镜功能和静电透镜功能融合到一起,通过调节环形极靴的位置以及电位差实现两种透镜功能的变换,操作简单,实现方便;该电子显微镜包括:电子源;电子加速电极;物镜:设置在所述电子加速电极的下方;内极靴:设置在物镜的上壳体内端内侧面,贴合上壳体内侧面设置;外极靴:设置在物镜的下壳体内端内侧,纵向设置;运动控制装置:设置在物镜内侧且位于内极靴下方;环形极靴或偏转装置或电子探测器:设置在运动控制装置上并在运动控制装置的作用下实现上下移动;环形极靴与电压调节器电性连接;样品台:位于底部。
- 电极布置、用于电极布置的接触组件、带电粒子束装置和减小电极布置中的电场强度的方法-202111020667.4
- M·菲恩克斯;F·兰帕斯伯格;C·萨尔维森 - ICT半导体集成电路测试有限公司
- 2021-09-01 - 2022-11-01 - H01J37/12
- 描述了一种用于作用在带电粒子束设备中的带电粒子束上的电极布置。所述电极布置包括:第一电极(110),所述第一电极具有用于带电粒子束的第一开口(111);第一间隔件元件(140),所述第一间隔件元件定位在设于第一电极中的第一电极侧上的第一凹槽(112)中以用于将第一电极(110)相对于第二电极(120)对准,第一间隔件元件具有第一盲孔(141);第一导电屏蔽件(150),所述第一导电屏蔽件设于第一盲孔(141)中;以及接触组件(160),所述接触组件从第一电极突出到第一盲孔(141)中以用于确保在第一电极(110)与第一导电屏蔽件(150)之间的电接触。另外,描述了一种用于这样的电极布置的接触组件(160)、一种具有这样的电极布置的带电粒子束装置以及一种减小电极布置中的电场强度的方法。
- 带电粒子评估工具、检查方法-202180015854.5
- M·J-J·维兰德 - ASML荷兰有限公司
- 2021-02-11 - 2022-10-04 - H01J37/12
- 公开了带电粒子评估工具和检查方法。在一种布置中,会聚透镜阵列将带电粒子束划分为多个子束。每个子束被聚焦到相应的中间焦点。中间焦点下游的物镜将来自会聚透镜阵列的子束投射到样品上。每个子束的路径基本上是从每个会聚透镜到对应物镜的直线。
- 提供减少的粒子产生的静电过滤器-202080085364.8
- 亚历山大·利坎斯奇;安东尼勒·可雀帝;艾立克·D·赫尔曼森;法兰克·辛克莱;杰·T·舒尔;罗伯特·C·林德柏格 - 应用材料股份有限公司
- 2020-10-25 - 2022-07-22 - H01J37/12
- 本文提供用于减少静电透镜中的粒子产生的途径。在一些实施例中,一种离子植入系统可包括:静电透镜,包括用于接收离子束的入口及用于向靶标递送离子束的出口,所述静电透镜包括沿着离子束线的第一侧设置的第一端子电极、第一抑制电极及第一接地电极,其中第一接地电极被接地且邻近出口定位。静电透镜可包括沿着离子束线的第二侧设置的第二端子电极、第二抑制电极及第二接地电极,其中第二接地电极被接地且邻近出口定位。植入系统还可包括电源供应器,所述电源供应器可操作以向静电透镜供应电压及电流,用于控制离子束。
- 高电流离子植入器以及使用高电流离子植入器控制离子束的方法-202080050339.6
- 亚历山大·利坎斯奇;常胜武;法兰克·辛克莱;安东尼勒·可雀帝;艾立克·D·赫尔曼森;克里斯多夫·坎贝尔 - 应用材料股份有限公司
- 2020-06-23 - 2022-02-25 - H01J37/12
- 本文提供用于增加静电透镜的操作范围的方法。离子植入系统的静电透镜可从离子源接收离子束,静电透镜包括沿着离子束线的一侧设置的第一多个导电束光学器件及沿着离子束线的第二侧设置的第二多个导电束光学器件。离子植入系统还可包括与静电透镜连通的电源供应器,所述电源供应器可操作以向第一多个导电束光学器件及第二多个导电束光学器件中的至少一者供应电压及电流,其中电压及电流使离子束偏转束偏转角度,且其中离子束在静电透镜内被加速然后被减速。
- 带电粒子束装置及其控制方法、以及复合带电粒子束装置-202010749029.5
- 杉山安彦;永原幸儿 - 日本株式会社日立高新技术科学
- 2020-07-30 - 2021-04-20 - H01J37/12
- 本发明提供带电粒子束装置及其控制方法、以及复合带电粒子束装置,在切换了物镜的加速模式与减速模式或变更了构成物镜的增强器电极的施加电压的情况下,能够得到与切换或变更前同等的无畸变的尺寸准确的试样表面的扫描像。带电粒子束装置具备:带电粒子源,其产生带电粒子;多个扫描电极,它们对带电粒子产生用于使带电粒子偏转的电场,该带电粒子是通过向带电粒子源施加加速电压且向引出带电粒子的引出电极施加引出电压而放出的带电粒子;静电透镜,其配置在多个扫描电极与试样台之间,将通过扫描电极偏转后的带电粒子束会聚;以及处理部,其取得测定条件,基于取得的测定条件,分别设定向多个扫描电极施加的扫描电压。
- 电子束装置以及具备该电子束装置的X射线产生装置和扫描电子显微镜-201711044479.9
- 宫冈明宽 - 株式会社岛津制作所
- 2017-10-31 - 2019-01-04 - H01J37/12
- 本发明的课题在于提供高分辨率且能够小型化的电子束装置、以及具备该电子束装置的X射线产生装置和扫描电子显微镜。电子束装置(1)具备:阴极(21),所述阴极放射电子;阳极(23),所述阳极是形成电场以便借助从阴极(21)放射出的电子来形成电子束的电极,且形成有供电子束穿过的第1孔(23a);形成有开口(31)的光阑部件(30),所述光阑部件遮挡穿过阳极(23)后的电子束的外周部;以及聚焦电极(40),所述聚焦电极是形成电场以便使穿过开口(31)后的电子束聚焦的电极,由形成有供电子束穿过的第2孔(41)的一个单孔电极构成。
- 一种扫描电子显微镜物镜系统-201820234897.8
- 李帅;何伟 - 聚束科技(北京)有限公司
- 2018-02-09 - 2018-12-18 - H01J37/12
- 本实用新型公开了一种扫描电子显微镜物镜系统,包括:磁透镜、偏转装置、偏转控制电极、待测样品以及探测装置;其中,所述磁透镜的极靴方向朝向所述待测样品;所述偏转装置,位于所述磁透镜内部,包括至少一个子偏转器;所述偏转控制电极,位于所述探测装置与所述待测样品之间,用于改变作用于所述待测样品上的初始电子束的方向,以及改变所述初始电子束作用于所述待测样品产生的信号电子的方向;所述探测装置,包括用于接收所述信号电子中的背散射电子的第一子探测器,和用于接收所述信号电子中的二次电子的第二子探测器。
- 一种扫描电子显微镜物镜系统及样品探测方法-201810134652.2
- 李帅;何伟 - 聚束科技(北京)有限公司
- 2018-02-09 - 2018-06-29 - H01J37/12
- 本发明公开了一种扫描电子显微镜物镜系统,包括:磁透镜、偏转装置、偏转控制电极、待测样品以及探测装置;其中,所述磁透镜的极靴方向朝向所述待测样品;所述偏转装置,位于所述磁透镜内部,包括至少一个子偏转器;所述偏转控制电极,位于所述探测装置与所述待测样品之间,用于改变作用于所述待测样品上的初始电子束的方向,以及改变所述初始电子束作用于所述待测样品产生的信号电子的方向;所述探测装置,包括用于接收所述信号电子中的背散射电子的第一子探测器,和用于接收所述信号电子中的二次电子的第二子探测器。本发明还公开了一种样品探测方法。
- 聚焦粒子束系统和分析带电粒子束的能量的方法-201310506512.0
- D.W.塔格尔;J.B.麦金;C.奥蒂斯 - FEI公司
- 2013-10-24 - 2018-04-17 - H01J37/12
- 一种减速场分析器使用带电粒子束系统的现有部件,消除了对插入单独的减速场分析器装置的需要。使用现有柱的部件减少了分析束所需的时间。使用现有柱的成像能力便于束与分析器的对准。
- 离子束线-201610458165.2
- 萨米·K·哈托;山元徹朗 - 日新离子机器株式会社
- 2016-06-22 - 2018-04-10 - H01J37/12
- 本发明涉及离子束线。在一个方面,公开了一种离子注入系统,所述离子注入系统包括减速系统,其被构造成接收离子束并且以至少2的减速比将离子束减速;静电弯道,其设置在所述减速系统的下游,用于造成所述离子束偏转。所述静电弯道包括用于接收减速离子束的三个串联电极对,其中,各电极对具有分隔开以允许离子束从中通过的内部电极和外部电极。末端电极对的电极中的每个被保持在比中间电极对的任一个电极所保持的电位低的电位并且第一电极对的电极被保持在相对于中间电极对的电极的更低电位。
- 复合式静电杆与静电透镜-201380049471.5
- 奥利佛·V·那莫佛斯奇;沙杜·佩特尔;查理斯·A·泰欧多尔赤克 - 瓦里安半导体设备公司
- 2013-06-28 - 2017-09-15 - H01J37/12
- 本发明提供一种复合式静电杆与静电透镜。所述复合式静电杆可包括具有长度L及截面积A的本体。所述本体可包括具有第一材料的外部部分以及具有不同于第一材料的第二材料的核心部分,且所述核心部分被所述外部部分包围,其中复合式静电杆的自然频率大于具有长度L及截面积A的石墨杆的自然频率。
- 用于离子植入机中的静电透镜的端电极-201621045811.4
- W·戴维斯·李 - 瓦里安半导体设备公司
- 2016-09-09 - 2017-04-12 - H01J37/12
- 本实用新型提供一种用于离子植入机中的静电透镜的端电极。端电极具有第一和第二表面及端电极开口以用于接收穿过其中沿着z轴行进的离子束,第一和第二表面在y‑z平面中是弯曲的,端电极开口具有顶端、底端和中心部分,端电极开口在顶端和底端处的宽度大于端电极开口在中心部分处的宽度,端电极开口在顶端处的宽度等于端电极开口在底端处的宽度;端电极开口具有沿着y轴测量的开口高度;端电极的第一表面具有第一曲率半径,端电极的第二表面具有第二曲率半径,第一和第二曲率半径是从沿着正z轴的点测量的;第一曲率半径大于第二曲率半径。静电透镜通过调节端电极可以获得多种不同射束形状。
- 一种紧凑型偏转会聚离子束的静电透镜-201310689834.3
- 李海洋;陈平;花磊;谢园园;蒋吉春;刘巍 - 中国科学院大连化学物理研究所
- 2013-12-13 - 2017-02-15 - H01J37/12
- 本发明涉及质谱中实现离子束偏转会聚功能的离子光学系统,具体的说是利用静电场对离子束实现偏转角度调节及离子束径向会聚功能的一种离子光学透镜。该透镜体积小巧,结构紧凑,包括主透镜电极组件和三维定位绝缘组件,依次施加有不同电压;离子束开始沿透镜轴线方向运动,经过主透镜电极后,离子束的运动方向发生偏转,且在径向方向产生会聚。偏转的角度可以通过主透镜电极电压差来调节,而会聚的焦点通过主透镜的电位来调节。本发明所涉及的紧凑型偏转会聚离子束的静电透镜系统,采用尽量少的电源模块,实现离子束偏转角度和会聚焦面的控制,且减少离子传输损失。
- 带电粒子透镜中的集成光学件和气体输送-201510365464.7
- N.W.帕克;M.斯特劳;J.菲列维奇;A.P.J.麦克洛波特曼;M.W.乌特劳特;S.兰多尔夫;C.D.钱德勒 - FEI公司
- 2015-06-29 - 2016-02-10 - H01J37/12
- 带电粒子透镜中的集成光学件和气体输送。一种用于将光或气体或两者指引到离带电粒子束柱的下端约2mm内安置的样品的方法和装置。该带电粒子束柱组件包括定义样品保持位置的平台,并且具有每个包括一组电极的一组静电透镜。该组件包括最后静电透镜,其包括最接近于样品保持位置的最后电极。此最后电极定义至少一个内部通路,其具有接近于且指向样品保持位置的终点。
- 处理离子束的装置-201380061200.1
- 常胜武 - 瓦里安半导体设备公司
- 2013-10-22 - 2015-08-05 - H01J37/12
- 一种离子束扫描总成(202,300)包括扫描电极组(314a,314b,316a,316b,318),扫描电极组界定一间隙(330)以接收离子束或在第一平面(xz-平面)扫描离子束。静电多极透镜系统,包括多个电极(304,306,310,312),沿部分藉由一对扫描电极所界定的离子束前进路径排列。静电多极透镜系统经组态以在垂直于第一平面的方向(y)上改变离子束的形状。
- 离子注入器电极-201310625335.8
- 理查德·大卫·戈德堡;大卫·乔治·阿穆尔;克里斯多佛·伯吉斯;艾德里安·J·默雷尔 - 应用材料公司
- 2004-10-15 - 2014-03-26 - H01J37/12
- 本发明提供了一种离子注入器(1),该离子注入器具有减速透镜组件(9),该减速透镜组件包括多个电极(60、61、65),其中减速电极中的一个或多个孔隙(62、63、67)以可以提高离子注入器性能的方式成形。在一个实施例中,电极孔隙(67)总体上为椭圆形,并且总体上符合穿过该孔隙的离子束(146)的形状。在另一个方面中,轴线段(H)从孔隙中心(C)延伸孔隙长度的40%到在该线段的末端处的中间点(l1)。在从中心到中间点的每个点处测量出的孔隙的平均宽度比该孔隙的最大宽度小很多。
- 有关离子束的中央射线轨迹的控制静电透镜的方法及装置-201180063161.X
- 史费特那·瑞都凡诺;彼德·L·凯勒曼;法兰克·辛克莱;罗伯特·C·林德柏格 - 瓦里安半导体设备公司
- 2011-12-12 - 2014-03-26 - H01J37/12
- 一种在静电透镜(700)中控制带电粒子束偏向的方法,包括建立对称静电透镜组态,所述组态包括在对称于中央射线轨迹(702)的未调整位置(L1)上配置多个电极(714,716),所述多个电极被施加一组未调整电压,以产生相对对称于中央射线轨迹的场。对应于未调整电压的对称电场被计算。多个下部电极(716)被安排至不对称于中央射线轨迹的调整位置(L2)上。一组调整电压由下部电极得到。其中,所述的一组调整电压在对称电场的各自调整位置上具有一组各自相应的电位。当带电粒子通过时,此组调整电压被施加被于不对称的透镜组态。
- 用于在靶处以不同束能量操作的聚焦带电粒子镜筒-201210242351.4
- M.马佐斯;J.H.奥尔洛夫 - FEI公司
- 2012-07-13 - 2014-01-01 - H01J37/12
- 本发明涉及用于在靶处以不同束能量操作的聚焦带电粒子镜筒。一种在多个束能量具有改进性能的带电粒子镜筒。该镜筒运用四元件物镜以在高和低束能量两者实现改进的对靶的束聚焦性能而不同聚焦电压配置用于不同束能量。通过改变向物镜的四个电极施加的电压,可以迅速配置不同的聚焦条件从而实现在目标的优化成像与优化处理之间的迅速切换。
- 静电透镜的电极及其制造方法-201310176238.5
- 山田修嗣 - 佳能株式会社
- 2013-05-14 - 2013-12-04 - H01J37/12
- 本发明涉及静电透镜的电极及其制造方法。提供一种用于静电透镜的电极,其中,该电极至少包含:具有第一贯通孔的第一基板和具有第二贯通孔的第二基板;第一基板具有比第二基板小的厚度;第一贯通孔具有比第二贯通孔小的直径,第二基板具有比第一基板小的电阻率,其中,第一基板和第二基板被叠置,使得第一贯通孔和第二贯通孔相互对准。可以减少在干蚀刻处理中在贯通孔中的任一个附近出现的开槽,由此可以精确地形成贯通孔。
- 带电粒子束透镜-201310168505.4
- 盐泽崇史 - 佳能株式会社
- 2013-05-09 - 2013-12-04 - H01J37/12
- 本发明涉及一种带电粒子束透镜。带电粒子束透镜包括板状阳极、板状阴极和设置在阳极与阴极之间的绝缘体。绝缘体、阳极和阴极具有带电束从其中通过的通道部分。高电阻膜在绝缘体的形成通道部分的内侧面或绝缘体的最外侧面上形成,并且,阳极和阴极通过高电阻膜被电连接在一起。阳极和高电阻膜、阴极和高电阻膜分别包含相同的金属或半导体元素并具有不同的电阻值。这抑制由于阳极和阴极与高电阻膜之间的界面处或导电膜与高电阻膜之间的界面处的电阻增加和连接不良导致的电场集中,由此抑制放电的产生。
- 专利分类