[发明专利]半导体处理系统和气化器有效
申请号: | 200610146543.X | 申请日: | 2006-11-15 |
公开(公告)号: | CN1967776A | 公开(公告)日: | 2007-05-23 |
发明(设计)人: | 冈部庸之;大仓成幸 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/20;H01L21/28;H01L21/31;H01L21/3205;H01L21/768;C30B33/02;F22B3/02;F22D1/38 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 半导体处理系统,具有将水蒸气供给收容被处理基板的处理室内的气体供给系统。气体供给系统包含用于从纯水得到水蒸气的气体生成装置。气体生成装置包含第一气化部和第二气化部。第一气化部通过在利用载体气体喷雾纯水的同时进行加热,生成包含雾的一次水蒸气。第二气化部通过气化一次水蒸气中的雾,从第一次水蒸气生成处理用水蒸气。第二气化部包含由配置为在第一气化部和处理室之间横穿所述一次水蒸气的通路的、捕捉雾的网状结构体构成的薄膜。 | ||
搜索关键词: | 半导体 处理 系统 气化 | ||
【主权项】:
1.一种半导体处理系统,其特征在于,包括:收容被处理基板的处理室;在所述处理室内支承所述被处理基板的支承部件;排出所述处理室内的气体的排气系统;和将水蒸气供给所述处理室内的气体供给系统,所述气体供给系统包括用于从纯水得到水蒸气的气体生成装置,其中,所述气体生成装置包括:通过在利用载体气体喷雾纯水的同时进行加热,生成包含雾的一次水蒸气的第一气化部;和包含通过气化所述一次水蒸气中的雾,从所述一次水蒸气生成处理用的水蒸气的第二气化部,其中,所述第二气化部包括以在所述第一气化部和所述处理室之间横切所述一次水蒸气的通路的方式配置的、捕捉雾的网状结构体构成的薄膜。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造