[发明专利]半导体处理系统和气化器有效

专利信息
申请号: 200610146543.X 申请日: 2006-11-15
公开(公告)号: CN1967776A 公开(公告)日: 2007-05-23
发明(设计)人: 冈部庸之;大仓成幸 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/20;H01L21/28;H01L21/31;H01L21/3205;H01L21/768;C30B33/02;F22B3/02;F22D1/38
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 半导体处理系统,具有将水蒸气供给收容被处理基板的处理室内的气体供给系统。气体供给系统包含用于从纯水得到水蒸气的气体生成装置。气体生成装置包含第一气化部和第二气化部。第一气化部通过在利用载体气体喷雾纯水的同时进行加热,生成包含雾的一次水蒸气。第二气化部通过气化一次水蒸气中的雾,从第一次水蒸气生成处理用水蒸气。第二气化部包含由配置为在第一气化部和处理室之间横穿所述一次水蒸气的通路的、捕捉雾的网状结构体构成的薄膜。
搜索关键词: 半导体 处理 系统 气化
【主权项】:
1.一种半导体处理系统,其特征在于,包括:收容被处理基板的处理室;在所述处理室内支承所述被处理基板的支承部件;排出所述处理室内的气体的排气系统;和将水蒸气供给所述处理室内的气体供给系统,所述气体供给系统包括用于从纯水得到水蒸气的气体生成装置,其中,所述气体生成装置包括:通过在利用载体气体喷雾纯水的同时进行加热,生成包含雾的一次水蒸气的第一气化部;和包含通过气化所述一次水蒸气中的雾,从所述一次水蒸气生成处理用的水蒸气的第二气化部,其中,所述第二气化部包括以在所述第一气化部和所述处理室之间横切所述一次水蒸气的通路的方式配置的、捕捉雾的网状结构体构成的薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东京毅力科创株式会社,未经东京毅力科创株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610146543.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top