[发明专利]半导体存储器件无效
申请号: | 200610072553.3 | 申请日: | 2006-04-07 |
公开(公告)号: | CN1845330A | 公开(公告)日: | 2006-10-11 |
发明(设计)人: | 龟代典史;竹村理一郎;石井智之 | 申请(专利权)人: | 株式会社瑞萨科技 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108;H01L23/522;G11C11/401 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 季向冈 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种半导体存储器件,在双晶体管式的增益单元中可以进行没有误动作的稳定的读出,并且具有小面积的存储单元。在具有写入晶体管(M2)和读出晶体管(M1)的双晶体管式增益单元存储器中,分别具有写入字线(WWL)、读出字线(RWL)、写入位线(WBL)以及读出位线(RBL),并被分别独立地设定施加电压。而且使存储单元(MC)与相邻存储单元(MC)连接在同一读出字线(RWL)以及写入位线(WBL)上。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 器件 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储器件,具有将存储单元配置成矩阵状的存储单元阵列,所述存储单元包括写入晶体管和读出晶体管;所述半导体存储器件的特征在于:上述写入晶体管的控制电极与写入字线连接,上述写入晶体管的源极和漏极区域的一者与写入位线连接,上述写入晶体管的源极和漏极区域的另一者与上述读出晶体管的控制电极连接,上述读出晶体管的源极和漏极区域的一者与读出字线连接,上述读出晶体管的源极和漏极区域的另一者与读出位线连接,上述读出晶体管的源极和漏极区域的一者与相邻存储单元连接在同一读出字线上,上述读出晶体管的源极和漏极区域的另一者与上述相邻存储单元连接在不同的读出位线上,上述写入晶体管的源极和漏极区域的一者与上述相邻存储单元连接在同一写入位线上,上述写入晶体管的控制电极与上述相邻存储单元连接在不同的写入字线上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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