专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体器件-CN201910186229.1有效
  • R·西明耶科;W·伯格纳;R·埃斯特夫;D·彼得斯 - 英飞凌科技股份有限公司
  • 2015-05-22 - 2023-07-14 - H01L21/8234
  • 本发明的各个实施例涉及一种半导体器件。公开了一种半导体器件及其生产方法。该半导体器件包括半导体本体、和集成在该半导体本体中的至少一个器件单元(101、102)。该至少一个器件单元包括:漂移区域(11)、源极区域(12)和布置在源极区域(12)与漂移区域(11)之间的本体区域(13);二极管区域(30)和在二极管区域(30)与漂移区域(11)之间的pn结;沟槽,具有第一侧壁(1101)、与第一侧壁相对的第二侧壁(1102)、和底部(1103);其中本体区域(13)与第一侧壁(1101)邻接,二极管区域(30)与第二侧壁(1102)邻接,并且pn结与沟槽的底部(1103)邻接;栅极电极(21),布置在沟槽中,并且通过栅极电介质(22)与本体区域(13)、二极管区域(30)和漂移区域(11)介电绝缘;其中二极管区域(30)包括布置在沟槽的底部(1103)下方的下二极管区域;并且其中下二极管区域包括与沟槽的底部(1103)远离的掺杂浓度最大值。
  • 半导体器件
  • [发明专利]用于形成超结器件的漂移区的方法-CN202210758197.X在审
  • M·黑尔;D·彼得斯 - 英飞凌科技股份有限公司
  • 2022-06-30 - 2023-01-03 - H01L29/06
  • 公开了用于形成超结器件的漂移区的方法和一种超结器件。一种形成包括半导体层的至少一个漂移区区段的方法,所述半导体层具有第一掺杂类型的第一区和第二掺杂类型的第二区,其中所述第一区和所述第二区是在所述半导体层的第一横向方向上交替布置的。形成所述至少一个漂移区区段包括:在所述半导体层的第一表面顶上形成注入掩模,其中所述注入掩模包括均在所述第一横向方向上具有第一宽度的第一开口;在第一注入工艺中,通过所述第一开口将所述第一掺杂类型的掺杂剂原子注入到所述第一表面中;增大所述第一开口的大小,以获得在横向方向上具有第二宽度的第二开口;在第二注入工艺中,通过所述第二开口将所述第二掺杂类型的掺杂剂原子注入到所述第一表面中;移除所述注入掩模;以及在移除所述注入掩模之后,在第三注入工艺中,将所述第一掺杂类型的掺杂剂原子注入到所述第一表面中。
  • 用于形成器件漂移方法
  • [发明专利]更新用于人工智能的训练示例-CN202080094068.4在审
  • J·S·克里希穆尔蒂;D·彼得斯;J·J·克劳斯曼 - 微软技术许可有限责任公司
  • 2020-12-15 - 2022-09-06 - G06F16/33
  • 公开了用于将先前注释的训练示例调整为用于训练机器学习模型的经更新的训练示例的技术。一个示例包括一种计算机程序,其识别查找表达、替换表达和过滤约束,其中,所述过滤约束将先前注释的训练示例的子集与先前注释的训练示例中的其他训练示例区分开来。基于所述过滤约束,由所述计算机程序在所述先前注释的训练示例中识别出的所述先前注释的训练示例的子集内识别查找表达的实例。由计算机程序利用替换表达的实例替换在所述先前注释的训练示例的子集内识别出的查找表达的实例,以获得训练示例的经更新的子集。由计算机程序输出训练示例的经更新的子集,其可以被用于训练所述机器学习模型。
  • 更新用于人工智能训练示例

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