专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种主动式热插拔输入保护电路-CN202111408902.5在审
  • 杨国江;王海波 - 江苏长晶科技有限公司
  • 2021-11-25 - 2021-12-28 - H02H9/04
  • 本发明公开一种主动式热插拔输入保护电路,包括保护对象是低压电路的热插拔输入保护电路和保护对象是高压电路的热插拔输入保护电路,两种保护电路原理相同,只是一种是采用低压元器件,另一种需采用高压元器件,两种保护电路均包含RC延时电路和功率开关。通过合理设置RC延时的控制时间,同时搭配数十欧姆导通电阻的开关管,当输入管脚上电、输入端热插拔过程中,RC延时电路控制该保护电路在数十微秒时间内保持开启,有效地将上电尖峰泄放到地,避免输入电源管脚电位超过额定值。
  • 一种主动式热插拔输入保护电路
  • [发明专利]晶片尺寸封装-CN202111143247.5有效
  • 杨国江;于世珩;毛嘉云 - 江苏长晶科技有限公司
  • 2021-09-28 - 2021-12-17 - H01L23/31
  • 本申请公开了一种晶片尺寸封装,包括:一晶片,具有一正面及一背面,其中正面具有一主动区域。一金属层,形成于背面,且大于主动区域的投影,适于一电流在金属层流动。金属层具有四个边缘,其中至少一边缘具有一键缺口,其中键缺口的凹陷方向若与电流方向平行,则键缺口与主动区域的投影不产生干涉。一封装材料,形成于背面,至少包覆金属层的边缘。本申请的晶片尺寸封装可以改善金属层与封装材料的连接性,提高封装的可靠度,也可以避免毛边的产生。
  • 晶片尺寸封装
  • [发明专利]一种屏蔽栅沟槽型MOSFET结构及其制造方法-CN202110822237.8有效
  • 杨国江;于世珩;张胜凯;白宗伟 - 江苏长晶科技有限公司
  • 2021-07-21 - 2021-11-26 - H01L29/78
  • 本发明公开一种屏蔽栅沟槽型MOSFET结构,包括:半导体衬底;外延半导体层,形成在所述半导体衬底之上;阱区,形成在所述外延半导体层之上;源区,形成在所述阱区内部;第一沟槽和第二沟槽,形成在所述外延半导体层、所述源区和所述阱区的内部;以及第二源极导电通道,形成在所述源区和所述阱区的内部,以及形成在所述第一沟槽和所述第二沟槽之间;其中所述第一沟槽和所述第二沟槽之间的最短距离定义了所述第二源极导电通道的最大宽度。本发明的MOSFET结构可以实现刻蚀的自对准,解决了在两个晶胞之间的间距太小的时候,现有的光刻机台不能满足所需的分辨率的技术问题;并且简化了MOSFET的制造工艺进而节省了制造时间和成本。
  • 一种屏蔽沟槽mosfet结构及其制造方法
  • [发明专利]一种沟槽型MOSFET的制造方法及其结构-CN202011087314.1有效
  • 杨国江;张胜凯;于世珩 - 江苏长晶科技有限公司
  • 2020-10-13 - 2021-01-05 - H01L21/336
  • 本发明公开一种沟槽型MOSFET的制造方法及其结构。该方法中形成栅极导体与屏蔽导体之间绝缘层的方法,包括如下步骤:在沟槽侧壁、屏蔽导体上方以及外延半导体层表面,形成一层第一氧化物;在所述第一氧化物表面形成一层氮化物;在沟槽内部以及外延半导体层上氮化物的上方沉积第二氧化物;将所述外延半导体层上氮化物的上方沉积的第二氧化物去除;将沟槽上部的第二氧化物去除;将外延半导体层上方以及沟槽上部的氮化物去除;将外延半导体层表面以及沟槽上部的第一氧化物去除。采用该方法得到的栅极导体与屏蔽导体之间三层的绝缘层结构,其厚度将变得更厚且更易于控制,有助于改善寄生输入电容,进而改善器件在应用时的切换损失。
  • 一种沟槽mosfet制造方法及其结构
  • [发明专利]一种低导通电阻沟槽式MOSFET结构及其制备方法-CN202010446120.X有效
  • 杨国江;赖信彰;于世珩 - 江苏长晶科技有限公司
  • 2020-05-25 - 2020-11-17 - H01L27/088
  • 本发明公开了一种低导通电阻沟槽式MOSFET结构及其制备方法,涉及半导体技术,一种低导通电阻沟槽式MOSFET结构,包括半导体衬底、依次固定在半导体衬底上的半导体外延层主体、隔膜层、金属覆盖层,半导体外延层主体内并位于隔膜层下部阵列设有排布紧密的小沟渠结构的沟槽,沟槽沿其长度方向至少设有一个环形槽,沟槽及环形槽内填充多晶硅;沟槽的底部和环形槽的外侧分别设有离子浓度高于半导体外延层主体的第一离子布值区和第二离子布值区。本发明还提供了一种低导通电阻沟槽式MOSFET结构的制备方法,本发明电流在整个外延层的分布更加均匀,发散角度更大,从而降低了器件的导通电阻,有利于提高器件整体的击穿电压。
  • 一种通电沟槽mosfet结构及其制备方法
  • [发明专利]屏蔽栅沟槽MOSFET及其制备方法、电子设备-CN202010906159.5在审
  • 杨国江;赖信彰;于世珩 - 江苏长晶科技有限公司
  • 2020-09-01 - 2020-10-27 - H01L29/78
  • 本发明提供了一种屏蔽栅沟槽MOSFET及其制备方法、电子设备,该制备方法包括:在外延半导体层上形成沟槽;在沟槽的内壁形成第一绝缘层,并在沟槽中形成第一栅极,第一绝缘层和第一栅极延伸至外延半导体层的表面,第一绝缘层用于隔开第一栅极和外延半导体层;刻蚀第一绝缘层和第一栅极,使得刻蚀后的第一绝缘层的表面与刻蚀后的第一栅极的表面共面;在刻蚀后的第一栅极和刻蚀后的第一绝缘层的表面形成层间介电层;在沟槽的上部的侧壁上形成第二绝缘层,并在沟槽的上部中形成第二栅极,其中,沟槽的上部为层间介电层远离第一栅极的表面至沟槽开口的部分。本发明的技术方案利用,能够简化工艺、提高屏蔽栅沟槽MOSFET的性能和可靠性。
  • 屏蔽沟槽mosfet及其制备方法电子设备
  • [实用新型]一种三端稳压器用检测装置-CN201921190878.0有效
  • 范荣定;陈益忠;夏昊天;陈炜;汤振凯;于世珩;毛嘉云;刘健;缪国平;刘丹萍 - 江苏长晶科技有限公司
  • 2019-07-26 - 2020-10-13 - G01R31/00
  • 本实用新型公开了一种三端稳压器用检测装置,涉及三端稳压器的检测领域,为解决现有技术中检测装置存在缺陷,无法检测出最佳的降压范围的问题。所述外壳体的一侧外表面上设置有稳压器检测口,所述稳压器检测口的内部设置有稳压器连接插孔,所述外壳体的上端外表面上设置有检测电压观察口、输入电压观察口、温度观察口,所述外壳体的内部设置有蓄电池,所述蓄电池的两端位置处设置有电池固定架,所述电池固定架通过固定螺栓连接在外壳体的内部底端,所述蓄电池的一侧设置有检测开关,所述检测开关的一侧设置有滑动变阻器,所述蓄电池的一侧设置有滑动变阻器。
  • 一种稳压器用检测装置
  • [实用新型]一种测试打印编带机用振动盘-CN201921160616.X有效
  • 杨国江;夏昊天;葛海波 - 江苏长晶科技有限公司
  • 2019-07-23 - 2020-09-29 - B65B15/04
  • 本实用新型提出了一种测试打印编带机用振动盘,包括底座、振动盘主体和传送轨道,所述振动盘主体固定安装在所述底座上,所述传送轨道设置在所述振动盘主体中间位置,所述传送轨道包括依次首尾相接并螺旋上升的下传送轨道、上传送轨道和出料轨道,所述下传送轨道上开设有凹槽,所述上传送轨道内壁设置有吹料管,位于所述吹料管上方的上传送轨道壁面上设置有颜色传感器,所述颜色传感器与所述吹料管的电磁阀电性连接。本实用新型使用方便,可将产品进行准确排序并区分正反面,准确率高。
  • 一种测试打印编带机用振动

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