专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]存储装置和操作存储装置的方法-CN202110504878.9在审
  • 朴志云;崔宰赫 - 三星电子株式会社
  • 2021-05-10 - 2022-02-22 - G11C29/42
  • 提供了存储装置和操作存储装置的方法。所述存储装置包括半导体存储器装置和存储控制器。半导体存储器装置基于数据选通信号和数据信号接收写入数据,并且基于数据选通信号和数据信号输出读取数据。存储控制器通过信号线将数据选通信号和数据信号并行地发送到半导体存储器装置。存储控制器包括第一延迟电路,第一延迟电路对数据信号进行延迟,使得信号线上的数据信号的窗口的一些边沿通过彼此不同的第一偏斜偏移被去同步。
  • 存储装置操作方法
  • [发明专利]存储器系统及其操作方法以及使用存储器系统的存储装置-CN202110590653.X在审
  • 朴志云 - 三星电子株式会社
  • 2021-05-28 - 2022-02-22 - G11C29/42
  • 公开了一种存储器系统及其操作方法以及使用存储器系统的存储装置。所述存储器系统包括存储器控制器和M个存储器芯片。存储器控制器生成具有彼此不同的2M个电压电平之一的第一数据信号,并且通过第一通道输出第一数据信号,其中,M是大于或等于二的自然数。第一数据信号表示包括M个位的第一数据。M个存储器芯片通过第一通道共同连接到存储器控制器。当M个存储器芯片具有启用状态时,M个存储器芯片同时从存储器控制器接收通过第一通道发送的第一数据信号,并且基于第一数据信号同时获得包括在第一数据中的M个位。M个存储器芯片中的每个获得M个位中的相应一个,并且基于M个位中的相应一个进行操作。
  • 存储器系统及其操作方法以及使用存储装置
  • [发明专利]对微电子装置测试数据的编码及其相关方法、装置和系统-CN202110847712.7在审
  • J·M·约翰逊 - 美光科技公司
  • 2021-07-27 - 2022-02-22 - G11C29/42
  • 公开了对微电子装置的测试数据进行编码以及相关方法、装置和系统。一种存储器装置可以包含多个列平面和至少一个电路。所述至少一个电路可以被配置成接收针对所述存储器装置的所述多个列平面中的每个列平面的列地址的测试结果数据。所述至少一个电路还可以被配置成响应于所述多个列平面的多个位中的仅一个位未通过针对所述列地址的测试而将所述测试结果数据转换为第一结果。进一步地,所述至少一个电路可以被配置成响应于仅一个列平面未通过针对所述列地址的所述测试并且所述一个列平面的多于一个位有缺陷而将所述测试结果数据转换为第二结果。
  • 微电子装置测试数据编码及其相关方法系统
  • [发明专利]利用纠错码自动校正访问存储装置数据的装置及方法-CN201810356725.2有效
  • 张士锦;罗韬;刘少礼;陈云霁 - 中国科学院计算技术研究所
  • 2015-12-18 - 2022-02-08 - G11C29/42
  • 本公开提供了一种利用纠错码自动校正访问存储装置数据的装置及方法,其中,该利用纠错码自动校正访问存储装置数据的装置包括:存储装置模块,用于存储数据,其包括用于存储数据的区域与用于存储监督位的区域;编码器模块,包括监督位生成模块与合并模块,监督位生成模块用于根据数据生成监督位;合并模块用于将数据与监督位合并;解码器模块,用于当存储装置模块读取数据时,根据监督位检验所读取的数据的正确性,当发现所读取的数据中存在错误数据时,发送错误信号,同时将错误数据进行校正,并将校正后的数据发送给存储装置模块。本公开实现了数据自动校正的目的,避免了数据错误增多导致最后校正失败的情况。
  • 利用纠错码自动校正访问存储装置数据方法
  • [发明专利]一种闪存open block特性的测试方法-CN202111268294.2在审
  • 刘凯;王璞 - 山东华芯半导体有限公司
  • 2021-10-29 - 2022-01-21 - G11C29/42
  • 本发明公开一种闪存open block特性的测试方法,属于闪存测试领域,本方法分阶段向block中写入数据,直至写满整个block,这样中间的每个阶段都是open block。每个阶段选取一组对照的block写满数据,通过对比数据的错误位数,得到每个阶段open block与close block的特性关系,根据这些特性可以进行对应的处理。本方法可以全面、快速的得到open block在使用过程中存在的前后数据稳定性不一致的特性。通过本方法得到的数据结果可以很容易的得出open block使用的间隔时间、open分组等信息,根据这些信息可以使处理open block变得容易。
  • 一种闪存openblock特性测试方法
  • [发明专利]进行选择性地启用的ECC解码的熔丝逻辑-CN202110794044.6在审
  • B·D·巴里 - 美光科技公司
  • 2021-07-14 - 2022-01-18 - G11C29/42
  • 本申请涉及进行选择性地启用的ECC解码的熔丝逻辑。熔丝逻辑配置成选择性地启用熔丝阵列中的熔丝的特定群组以支持一个应用中的列(或行)冗余或另一应用中的纠错码ECC操作中的一个。举例来说,所述熔丝逻辑可对所述熔丝的群组进行解码以启用在一个模式或应用中的存储器单元的替换列(或行),且对所述熔丝的群组的子组进行解码以检索对应于经过编码以启用在第二模式或应用中的存储器单元的不同替换列或行的熔丝的第二群组的ECC数据。所述熔丝逻辑包含ECC解码逻辑电路,所述ECC解码逻辑电路选择性地启用以基于在所述熔丝的第一群组中的熔丝的所述子组中编码的所述ECC数据来检测和校正在所述熔丝的第二群组中编码的数据中的错误。
  • 进行选择性启用ecc解码逻辑
  • [发明专利]数据存储设备及其操作方法-CN202110226243.7在审
  • 罗充彦 - 爱思开海力士有限公司
  • 2021-03-01 - 2022-01-11 - G11C29/42
  • 本发明公开了一种数据存储设备,该数据存储设备可以包括:数据存储装置,包括用于存储第一数据的至少一个数据管芯以及用于存储第二数据、第三数据和芯片猎杀奇偶校验的至少一个奇偶校验管芯,其中,该至少一个数据管芯和该至少一个奇偶校验管芯被连接到通道;以及控制器,与数据存储装置通信,并且被配置为:通过通道从与数据存储装置通信的主机接收针对第一数据和第二数据的写入请求,以根据第一数据和第二数据生成芯片猎杀奇偶校验。控制器被进一步配置为:在芯片猎杀奇偶校验正被基于第一数据进行更新的同时从主机接收到针对第三数据的读取请求时,从奇偶校验管芯读取第三数据,并且将该第三数据提供到主机。
  • 数据存储设备及其操作方法
  • [发明专利]存储器、存储系统以及存储器的操作方法-CN202110676294.X在审
  • 张文选;郑会柱 - 爱思开海力士有限公司
  • 2021-06-18 - 2022-01-07 - G11C29/42
  • 本申请公开了存储器、存储系统以及存储器的操作方法。一种存储器包括:下行链路错误校正电路,其适用于基于从存储器控制器传送的下行链路错误校正码来校正从存储器控制器传送的数据中的错误,以产生错误校正数据;存储器错误校正码生成电路,其适用于基于通过下行链路错误校正电路获得的错误校正数据来生成存储器错误校正码;错误注入电路,其适用于当下行链路错误校正电路检测到从存储器控制器传送的数据中的未校正的错误时,将错误注入到由下行链路错误校正电路获得的错误校正数据和存储器错误校正码中的至少一个中;以及存储器核,其适用于储存从错误注入电路传送的存储器错误校正码和数据。
  • 存储器存储系统以及操作方法

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