[发明专利]一种提高NAND flash读速度的方法及装置有效
申请号: | 201710606312.0 | 申请日: | 2017-07-24 |
公开(公告)号: | CN107423160B | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 朱苏雁;刘凯;王运哲;孙晓宁 | 申请(专利权)人: | 山东华芯半导体有限公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10;G11C29/42 |
代理公司: | 济南泉城专利商标事务所 37218 | 代理人: | 赵玉凤 |
地址: | 250101 山东省济南市高新*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 nand flash 速度 方法 装置 | ||
本发明公开一种提高NAND flash读速度的方法及装置,本发明将重读操作放进硬件中实现,当出现错误比特数超出ECC纠错范围时,自动触发重读操作,不需软件再配置一遍命令,节省了CPU访问底层的时间;其次本发明允许CPU更新重读参数,动态调整重读参数,最大限度的提高重读命中率,硬件从最优的电压参数进行配置,减少重读次数,从而提高读速度。本装置保留原有传统软件控制重读的功能,同时也可以选择由硬件主动发起重读;硬件自动重读,省去了中断时间和CPU处理配置时间;CPU可以根据重读结果,对SRAM中的重读参数进行调整,也可以调整普通读命令时的读电压,双重保障,提高重读命中率,降低重读次数,从而提高flash的读速度。
技术领域
本发明涉及一种提高NAND flash读速度的方法和装置,属于数字集成电路设计技术领域。
背景技术
由NAND flash特性决定,flash的每页数据划分成一个或多个ECC block,数据写入时,每个ECC block都要进行ECC纠错编码;读出数据时,每个ECC block进行ECC纠错解码,以保证这个ECC block的数据正确。ECC可纠错比特数有一定范围,超出该范围时,即发生了ECC无法纠正过来的错误。此时需要重读该ECC block,即通过参数调整,改变当前读电压的偏移量,重新读取数据。
P/E cycle是评断NAND flash生命周期的重要指标,而不论P/E cycle多少,NANDflash的读命令所需时间是一样的;而影响NAND flash的读速度的关键在于,flash操作过程中,默认的读电压有的时候不能正确的读出数据,需要调整读电压,重新读取数据。这个操作分为两步,第一步调整读电压;第二步重新发送读命令。而这个操作一般需要多次循环,每次都需要一个一个参数去试验,读一页数据的时间变成该页读多次的时间。即现有的依靠软件重新读取数据的方法会导致flash的读速度很慢。
发明内容
针对现有技术的缺陷,本发明提供一种提高NAND flash读速度的方法及装置,本发明将重读操作放进硬件中实现,从而提高flash的读速度。
为了解决所述技术问题,本发明采用的技术方案是:一种提高NAND flash读速度的方法,通过以下硬件系统实现,该系统包括NAND控制系统和重读模块,NAND控制系统包括NAND控制器和寄存器,NAND控制器内设置纠错模块,重读模块内置重读命令序列,纠错模块和寄存器通过逻辑与运算器连接至选择器,重读模块通过选择器连接至NAND控制器;工作时,由CPU配置寄存器,决定是否使能自动重读功能;如果不使能,则不开启重读模块;纠错模块发生错误溢出时,产生中断,由CPU控制整个系统向寄存器重新写入新的命令;如果使能自动重读功能,发生错误溢出时,NAND控制系统从重读模块读入重读命令序列,开始重读,当前页数据全部正确读出或读失败,结束重读过程,重读模块向寄存器中写入重读结果中断位、重读成功的参数,之后CPU控制整个系统进行后续处理。
本发明所述提高NAND flash读速度的方法,所述重读模块还包括地址生成模块、命令生成模块和SRAM模块,地址生成模块的输入端与NAND控制器相连,用于接收NAND控制器传过来的info信号;命令生成模块的输入端与地址生成模块的输出端相连,用于接收地址生成模块输出的地址参数;重读命令序列中存放重读命令,并且重读命令序列的输入端与命令生成模块的输出端相连,用于接收更新重读命令的信息,重读命令序列的输出端连接NAND控制器,用于向NAND控制器输出重读命令序列;SRAM模块由CPU访问配置重读参数,并且SRAM模块的输出端与命令生成模块相连,用于向命令生成模块传输重读参数。
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