[发明专利]NAND闪存参数自动检测系统有效
| 申请号： | 201010564749.0 | 申请日： | 2010-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN102063943A | 公开（公告）日： | 2011-05-18 |
| 发明（设计）人： | 林志豪;何家良 | 申请（专利权）人： | 香港应用科技研究院有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 中国香港新界沙田香港科*** | 国省代码： | 中国香港;81 |
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| 摘要： | 一个NAND闪存参数自动检测系统包括：一个有多个参数的NAND闪存装置和一个闪存控制器；闪存控制器被设置以自动检测NAND闪存参数，过程包括：读取NAND闪存装置的装置标识符，如果返回一个有效装置标识符就继续进行，检测NAND闪存装置的地址周期和区块类型，检测NAND闪存装置的页面尺寸，检测NAND闪存装置的空闲尺寸，检测NAND闪存装置的存储容量，并检测NAND闪存装置的区块尺寸。 | ||
| 搜索关键词： | nand 闪存 参数 自动检测 系统 | ||
【主权项】：
一个NAND闪存参数自动检测的系统，包括：一个NAND闪存装置，其有多个参数；一个控制模块，其被设置以执行NAND闪存参数检测过程，包括：读取NAND闪存装置的装置标识符，如果返回一个有效装置标识符就继续进行；检测NAND闪存装置的地址周期和区块类型；检测NAND闪存装置的页面尺寸；检测NAND闪存装置的空闲尺寸(spare size)；检测NAND闪存装置的存储容量；检测NAND闪存装置的区块尺寸。
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