[发明专利]半导体装置的形成方法有效
申请号: | 201710367867.4 | 申请日: | 2017-05-23 |
公开(公告)号: | CN108231547B | 公开(公告)日: | 2022-01-21 |
发明(设计)人: | 赖韦翰;王建惟;张庆裕;林进祥 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;H01L21/033 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 冯志云;王芝艳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 形成 方法 | ||
提供改质基板的方法与材料组成。图案化基板以包含多个结构。结构包含第一子集,其具有一或多个实质上钝性的表面。在多种实施例中,沉积底漆材料于基板上、结构上、以及实质上钝性的表面上。举例来说,沉积的底漆材料至少键合至实质上钝性的表面。此外,沉积的底漆材料提供改质的基板表面。在沉积底漆材料后,旋转涂布层状物于改质的基板表面上,其中旋转涂布的层状物实质上平坦。
技术领域
本发明实施例关于半导体装置,更特别关于改质基板的方法与材料。
背景技术
电子产业对较小与较快的电子装置的需求增加,且电子装置同时提供大量的复杂功能。综上所述,半导体产业的持续趋势为制作低成本、高效能、与低能耗的集成电路。通过缩小半导体的集成电路尺寸(如最小结构尺寸)可达这些远程目标,进而改良产能与降低相关成本。然而缩小尺寸也会增加集成电路制程的复杂性。为了实现半导体集成电路与装置单元的持续进展,需要在半导体制程与技术上具有类似进展。
在一例中,缩小集成电路尺寸的方法可采用较薄的光阻膜与多层的硬掩模堆叠。举例来说,在部份的光微影制程中达到所需的解析度时,多层硬掩模可用以提供所需的深宽比。在多种例子中,多层硬掩模可包含碳底层如旋转涂布碳层,其上可沉积硅硬掩模如旋转涂布玻璃层。薄光层可沉积于硅硬掩模上,其可用以图案化硅硬掩模(比如以曝光、显影、与蚀刻等制程)。接着可采用图案化的硅硬掩模图案化下方的旋转涂布碳层(比如以蚀刻制程)。
然而在多种例子中,多层硬掩模(如旋转涂布碳与旋转涂布玻璃)的沉积一致性,大幅取决于其沉积的基板的特性。此外,进阶的半导体制程技术在制程中采用多种制程与结构。如此一来,在半导体制程中的任一时点,基板表面可包含多种材料种类(如疏水、亲水、钝性)及/或复杂结构(如立体的鳍状场效晶体管结构等等),其具有不同的表面特性。如此一来,旋转涂布于多种特性的基板上的层状物(如旋转涂布碳与旋转涂布玻璃)具有低一致性与低平坦性。因此现有技术无法完全适用于所有方向。
发明内容
本发明一实施例提供的半导体装置的形成方法,包括:图案化基板,以包含多个结构,其中结构包含第一子集,其具有一或多个实质上钝性的表面;沉积底漆材料于基板上、些结构上、以及实质上钝性的表面上,其中沉积的底漆材料至少键合至实质上钝性的表面,且沉积的底漆材料提供改质的基板表面;以及在沉积底漆材料后,旋转涂布层状物于改质的基板表面上,其中旋转涂布的层状物实质上平坦。
附图说明
图1A一些实施例中,具有多个结构的基板,其表面具有多种特性。
图1B形成于多种结构上的层状物,且层状物具有低一致性与低平坦性。
图2多种实施例中,用以改质基板的方法200的流程图。
图3A一些实施例中,具有多个结构形成于基板上的装置的剖视图。
图3B一些实施例中,具有底漆材料沉积于多个结构上的装置的剖视图。
图3C一些实施例中,具有层状物沉积于多个结构上的装置的剖视图,且底漆材料位于层状物与多个结构之间。
图4A与4B一些实施例中,以底漆材料涂布基板与结构的第一沉积方法。
图5A、5B、5C、与5D一些实施例中,以底漆材料涂布基板与结构的第二沉积方法。
图6A与6B一些实施例中,以底漆材料涂布基板与结构的第三沉积方法。
图7一些实施例中,沉积于表面上的底漆材料的详图,且底漆材料包含多个单体或寡聚物。
图8一些实施例中,沉积于表面上的底漆材料的详图,且底漆材料包含聚合物。
图9A、9B、9C、9D、9E、9F、9G、9H、9I、9J、与9K多种实施例中,底漆材料与螯合官能基的结构。
【符号说明】
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造