[发明专利]一种GaN基半导体发光二极管的制造方法有效
申请号: | 201210351639.5 | 申请日: | 2012-09-20 |
公开(公告)号: | CN102832304A | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
发明(设计)人: | 虞浩辉;周宇杭 | 申请(专利权)人: | 江苏威纳德照明科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 | 代理人: | 黄明哲 |
地址: | 213342 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 gan 半导体 发光二极管 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种发光二极管的制造方法。
背景技术
半导体发光二极管(LED)是一种由Ga、N、As、P等的化合物制成的二极管,当电子与空穴复合时可以发出可见光,可用于制造发光器件,由于其结构简单,体积小,工作电流小,使用方便,成本低,目前已广泛应用于各种光电系统。
半导体发光二极管包括衬底以及依次沉积在衬底上的P/N型外延层、有源层和P/N型外延层。衬底作为LED这座大厦的地基,具有重要的作用。蓝宝石是一种常用的LED衬底,但由于其与其上的异相外延层的晶格和热应力失配,发热后由于膨胀程度不同会崩裂,导致器件损坏。另外一类LED衬底包括GaN,GaAs,InP,InAlGaAs,InAlGaP,InGaAsP等半导体材料。作为衬底的上述半导体材料中一般都会包括各种缺陷,例如位错、间隙或空位等,缺陷会引起晶体应变,应变会造成衬底上外延层的品质及性能降低,导致发光二极管的寿命缩短。
多年来,随着半导体技术的发展,经过本领域技术人员的长期研究和实践,形成了较为完善的晶体生长工艺流程,减少了半导体衬底材料生长过程中形成的缺陷密度。但是,人们还希望得到缺陷密度更低的衬底,制得性能更佳、寿命更长的发光二极管。如何进一步减少或消除缺陷成为本领域急需解决的问题。
发明内容
为了克服现有技术中存在的缺陷,本发明提供了一种GaN基半导体发光二极管的制造方法,该方法可以明显的减小发光二极管衬底中的晶体缺陷密度,提高发光二极管的性能和寿命。
本发明的GaN基半导体发光二极管包括依次层叠的衬底、n型接触层、有源层和p型接触层;
其中,衬底为GaN,n型接触层为n型AlGaN层,p型接触层为p型GaN层;有源层为AlGaN多量子阱。
优选地,AlGaN有源层为2-5个周期的AlxGa1-xN/AlyGa1-yN多量子阱,其中,阱的厚度为1-3nm,Al组分x=0-0.5;垒的厚度为5-10nm,Al组分y=0.2-0.7p。
优选地,在有源层和p型接触层之间还包括p型电子阻挡层和p型过渡层。优选的,p型电子阻挡层为n型AlGaN层,p型过渡层为p型AlGaN过渡层。
本发明的GaN基半导体发光二极管的制造方法,包括形成GaN衬底,以及在GaN衬底上沉积n型接触层、有源层、p型电子阻挡层、p型过渡层和p型接触层;
其中形成GaN衬底的方法包括如下步骤:
(1)在常温常压下,将GaN晶片放入高温高压装置中,在高温高压装置中加入传压介质,该传压介质为NaCL和液氮;
(2)对GaN晶片加热的同时加压,加热温度为820~880℃,加压压力为4.1~4.6GPa,保持10~15分钟;此处的加压压力也可以称作加压压强。其中,加热速率为100℃/分钟,加压速率为0.2~0.3GPa/分钟。
(3)停止加热,使GaN晶片冷却至常温;同时缓慢卸压,使GaN晶片恢复至常压。卸压速度为0.5~0.8GPa/分钟。
(4)在高温高压装置中退火20~30分钟后,取出GaN晶片。
附图说明
图1为本发明的半导体发光二极管的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述,但不作为对本发明的限定。
本发明的GaN基半导体发光二极管的包括依次层叠的衬底1、n型接触层2、有源层3和p型接触层4。
其中,衬底1为GaN,n型接触层2为n型AlGaN层,p型接触层4为p型GaN层。
有源层3为AlGaN多量子阱,优选为2-5个周期的AlxGa1-xN/AlyGa1-yN多量子阱,其中,阱的厚度为1-3nm,Al组分x=0-0.5;垒的厚度为5-10nm,Al组分y=0.2-0.7,其为发射深紫外光波段的量子阱。
在有源层3和p型接触层4之间还包括p型电子阻挡层5和p型过渡层6。优选的,p型电子阻挡层5为p型AlGaN层,p型过渡层6为p型AlGaN过渡层。
本发明的GaN基半导体发光二极管的制造方法,包括形成GaN衬底,以及在GaN衬底上沉积n型接触层、有源层、p型电子阻挡层、p型过渡层和p型接触层。
其中形成GaN衬底的方法包括如下步骤:
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