[发明专利]提高边界扫描技术对芯片烧录速度的系统及其方法无效
申请号: | 201210349566.6 | 申请日: | 2012-09-18 |
公开(公告)号: | CN103680608A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 宋平 | 申请(专利权)人: | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
主分类号: | G11C16/02 | 分类号: | G11C16/02;G01R31/3185 |
代理公司: | 北京市浩天知识产权代理事务所 11276 | 代理人: | 靳春鹰;刘云贵 |
地址: | 201114 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 提高 边界 扫描 技术 芯片 速度 系统 及其 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种芯片(chip)烧录(programming)的系统及其方法,尤其涉及一种提高边界扫描技术对芯片烧录速度的系统及其方法。
背景技术
传统和现在流行的烧录芯片(EEPROM或是Flash…等,在此仅为举例说明,并不以此局限本发明的应用范畴)方式是:将芯片放到烧录器的夹具中,然后使用烧录器进行烧录,这种方式烧录效率高,且大量被采用。
但是,如果对于电路板上的芯片要进行烧录,那么需要将芯片从电路板上焊下来,然后烧录,最后再焊回到电路板上去,这种将芯片焊下来的方法操作复杂,对电路板有损坏,且可能引起其他的问题。
因此,则提出了一种边界扫描(Boundary Scan)技术,其使用JTAG硬件接口,由芯片的测试数据输入引脚(Test Data Input,TDI)推送电位,利用芯片内的边界扫描单元(Boundary Scan Cell)控制芯片引脚,类比出烧录芯片所需要的协议,进而对烧录芯片进行控制,完成读写操作。
而对于边界扫描链(Boundary Scan Chain)每往前推送一个电位,都至少需要一个周期时间,所以边界扫描技术对引脚的控制速度,与引脚对应的边界扫描单元在整个边界扫描链的位置有关,离测试数据输入引脚越远,需要推送的电位越多,那么对应的烧录时间会越长,而对于芯片烧录的效率也就越低。
综上所述,可知现有技术中长期以来一直存在边界扫描技术对芯片烧录时间过久且效率低下的问题,因此有必要提出改进的技术手段,来解决这一问题。
发明内容
有鉴于现有技术存在边界扫描技术对芯片烧录时间过久且效率低下的问题,本发明遂揭露一种提高边界扫描技术对芯片烧录速度的系统及其方法,其中:
本发明所揭露的提高边界扫描技术对芯片烧录速度的系统,其包含:芯片以及芯片,而芯片以及芯片都是电性连接于电路板上,其中,芯片支持JTAG1149.1规范,芯片还包含:多个引脚以及多个边界扫描单元。
即芯片的引脚中定义有JTAG的引脚,JTAG的引脚分别为测试数据输入引脚、测试数据输出引脚(Test Data Output,TDO)、TCK引脚以及TMS引脚,芯片的引脚中定义有至少一个数据输入引脚以及至少一个数据输出引脚;及芯片的多个边界扫描单元彼此之间相互电性连接,其中:第N个至第N+A个边界扫描单元与数据输出引脚电性连接,而第N-B个至第N-B+A个边界扫描单元与数据输入引脚电性连接且用以撷取(capture)数据输入引脚的电位,其中:N、A以及B为正整数且N大于B以及B大于A;及测试数据输入引脚电性连接至第1个边界扫描单元,且测试数据输出引脚电性连接至最后的边界扫描单元,以组合成边界扫描链。
第N-B个至第N-B+A个边界扫描单元通过数据输入引脚更新储存数据输入引脚的电位,然后第N-B个至第N-B+A个边界扫描单元所储存的电位由边界扫描链推送,当将第N-B个至第N-B+A个边界扫描单元所储存的电位分别推送至第N个至第N+A个边界扫描单元后,将第N个至第N+A个边界扫描单元所储存的电位更新到数据输出引脚。
芯片的A个控制引脚分别与数据输出引脚电性连接,当将第N-B个至第N-B+A个边界扫描单元所储存的电位推送至第N个至第N+A个边界扫描单元时,将第N个至第N+A个边界扫描单元所储存的电位更新到数据输出引脚,芯片依据数据输出引脚的电位以对芯片进行烧录。
本发明所揭露的提高边界扫描技术对芯片烧录速度的方法,其包含下列步骤:
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