[发明专利]半导体器件塑封抽真空装置无效

专利信息
申请号: 201110240200.0 申请日: 2011-08-19
公开(公告)号: CN102950700A 公开(公告)日: 2013-03-06
发明(设计)人: 黄振忠;谢伟波;张伟洪;郭树源;蚁淡星 申请(专利权)人: 汕头华汕电子器件有限公司
主分类号: B29C45/17 分类号: B29C45/17;B29C45/34
代理公司: 汕头市南粤专利商标事务所(特殊普通合伙) 44301 代理人: 何办君
地址: 515041 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件 塑封 真空 装置
【权利要求书】:

1.半导体器件塑封抽真空装置,包括有塑封机(1),其特征在于:塑封机(1)上设有塑封模具(11),塑封模具(11)合模后可形成密封空间,一真空容器罐(2)通过真空管道(21)连通塑封模具(11)合模后形成的密封空间,于真空管道(21)上设有抽气阀(3)、放气阀(6)及真空压力表(4),真空压力表(4)通过压力信号线(41)连接塑封机(1)进行信号控制;所述真空容器罐(2)与一真空泵(5)连通。

2.根据权利要求1所述的半导体器件塑封抽真空装置,其特征在于:于真空管道(21)上还设有空气过滤器(7)。

3.根据权利要求1所述的半导体器件塑封抽真空装置,其特征在于:真空容器罐(2)与真空泵(5)一起安装在一可移动的真空机壳体(8)内。

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