专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种低损伤晶片减薄工艺-CN201611183350.1在审
  • 马学亮;陈平;张华;王永存 - 上海电机学院
  • 2016-12-20 - 2017-04-26 - H01L21/02
  • 本发明涉及一种低损伤晶片减薄工艺,所述PMNT晶片表面分别标记为表面1与表面2,其工艺流程为PMNT晶片表面1的处理;PMNT晶片表面2的处理;PMNT晶片表面1与PMNT表面2的低损伤处理;清洗清洗去除氢氟酸缓冲液;所述PMNT晶片表面1与PMNT晶片表面2的低损伤处理的具体步骤为采用氢氟酸缓冲液对PMNT晶片的表面1与表面2进行湿法腐蚀以去除缺陷和损伤,时间控制在于10min±30s。
  • 一种损伤晶片工艺
  • [发明专利]一种热释电材料及其制备方法-CN201310337428.0在审
  • 方必军;钱昆;丁建宁 - 常州大学
  • 2013-08-06 - 2014-02-26 - C04B35/472
  • 本发明通过部分草酸盐工艺路线制备PMNT陶瓷,抑制焦绿石相形成、增加陶瓷致密度、提高压电材料综合电学性能;低成本制备的PMNT陶瓷呈现出与热释电单晶PMNT、PZNT相当或更加优良的热释电性能,克服了压电单晶生长困难、成本高、周期长的问题;PMNT陶瓷的优良介电、热物理、热释电和力学性能,适用于制作热释电探测器,可以提高热释电探测器的综合性能,改善热释电探测器的制作工艺,有望在非制冷红外探测和成像器件方面获得应用。
  • 一种热释电材料及其制备方法
  • [发明专利]液相外延制备铁电厚膜的方法-CN03129057.4无效
  • 姚忻;曾新华 - 上海交通大学
  • 2003-06-05 - 2004-02-04 - H01L21/368
  • 钛酸铅晶体生长采用的组分进行氧化物原料配料;然后,把配好的粉料在玛瑙球磨罐中球磨,并在900℃进行煅烧;最后,将煅烧后的粉料与助熔剂氧化铅混合均匀,经过高温下一段时间的泡料后,在钛酸锶基片上外延生长制备PZNT(PMNT本发明采用氧化铅作助熔剂,钛酸锶基片作籽晶,在高温下通过液相外延的方法制备PZNT(PMNT)铁电厚膜材料,工艺简单,操作方便,能制备成分均一、具有一定厚度和特定取向的PZNT(PMNT)铁电厚膜材料。
  • 外延制备铁电厚膜方法

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