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- [发明专利]一种自适应校正的EVM测试系统及方法-CN202110660606.8有效
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马万治;徐梦然;徐强;阎嘉怡;潘文生;刘颖
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电子科技大学
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2021-06-15
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2022-11-08
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H04L27/38
- 本发明公开了一种自适应校正的EVM测试系统及方法,所述系统包括:nPSK信号源(1),用于产生多种模式的PSK信号,作为EVM测试方法的测试信号,并传输给信号类型检测单元(2);信号类型检测单元(2),用于对来自nPSK信号源(1)的测试信号类型进行判断,并将测试信号和判断结果传输给信号估计子系统;信号估计子系统,用于进行测试信号和参考信号的估计,并将估计结果传输给EVM测试单元(10);EVM测试单元(10),用于接收来自信号估计子系统的估计结果,计算测试信号的EVM值,并将结果通过EVM测试结果输出单元(11)对外输出。本发明实现了对测试信号的频偏补偿,并在利用滤波器进行频偏校正的同时完成参考信号的构造,相较于传统测试方法更加简单。
- 一种自适应校正evm测试系统方法
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