专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]输出测试结果的存储器件及测试其的方法-CN202211515368.2在审
  • 孙钟弼 - 三星电子株式会社
  • 2022-11-29 - 2023-06-09 - G11C29/04
  • 提供了一种输出测试结果的存储器件及测试其的方法。所述存储器件包括:存储单元阵列;以及修复电路,所述修复电路被配置为执行修复操作并且向位于所述存储器件外部的外部目的地输出脏信号。选择冗余存储单元的第一冗余地址而不是第一故障存储单元的第一故障地址,存储所述第一故障地址到所述第一冗余地址的第一冗余映射,以及响应于确定第二故障存储单元的第二故障地址与所述第一故障地址匹配,忽略所述第一冗余映射,并且输出脏信号
  • 输出测试结果存储器件方法
  • [发明专利]用于输出信息的方法和装置-CN201810078473.1有效
  • 周秀霞 - 百度在线网络技术(北京)有限公司
  • 2018-01-26 - 2021-09-07 - G06F11/36
  • 本申请实施例公开了用于输出信息的方法和装置。该方法的一具体实施方式包括:获取针对待测试应用的测试用例,其中,测试用例包括第一测试结果集合,第一测试结果是针对测试用例预先确定的测试结果;利用测试用例对待测试应用进行测试,生成第二测试结果集合;将包含于第二测试结果集合且不包含于第一测试结果集合的测试结果确定为目标测试结果,得到目标测试结果集合并输出。该实施方式提高了信息输出的丰富性,有助于提高测试的灵活性。
  • 用于输出信息方法装置
  • [发明专利]银行产品的自动化测试方法及装置-CN202111016558.5在审
  • 刘洋;党娜;李昊 - 中国银行股份有限公司
  • 2021-08-31 - 2021-11-12 - G06Q40/02
  • 本发明公开了一种银行产品的自动化测试方法及装置,涉及人工智能技术领域;其中该方法包括:根据测试人员输入的银行产品的测试案例、以及测试周期,自动执行所述测试案例,得到测试案例的输出结果;根据测试案例的输出结果确定出输出结果与预设输出结果不一致的失败测试案例、以及失败测试案例的执行时刻;根据失败测试案例的标识、以及失败案例执行时刻生成风险评估结果;根据风险评估结果、银行产品的标识、测试周期、测试人员名称、测试人员联系方式生成测试报告。本发明可以实现对银行产品的自动化测试,并且根据失败测试案例的标识、以及失败案例执行时刻得到风险评估结果,提高了银行产品测试结果的准确性。
  • 银行产品自动化测试方法装置
  • [发明专利]测试用例的数据分析方法、装置、存储介质和测试设备-CN201911197290.2在审
  • 孟建春 - 江苏芯盛智能科技有限公司
  • 2019-11-29 - 2020-03-06 - G06F11/36
  • 本申请提供了一种测试用例的数据分析方法、装置、存储介质和测试设备,涉及测试领域。该方法包括:获取被测设备执行测试用例后的测试数据;测试数据包括测试输出信息及被测设备信息;根据测试输出信息及预设对应关系表确定与测试输出信息对应的测试结果信息;根据测试结果信息和被测设备信息生成测试用例的分析结果由于预设对应关系表表征多个测试输出信息和测试结果信息的对应关系,在根据测试输出信息及预设对应关系表确定测试结果信息时,能够快速、准确地确定出测试用例的分析结果,避免人工对被测设备执行测试用例后的测试数据进行分析,故而能够提高测试用例的测试数据的分析效率,加快产品开发进程。
  • 测试数据分析方法装置存储介质设备
  • [发明专利]嵌入式芯片测试方法及系统-CN201510214829.6在审
  • 權彞振;倪昊;赵子鉴;程昱 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2015-04-29 - 2016-12-07 - G11C29/56
  • 一种嵌入式芯片测试方法及系统,所述系统包括:测试仪、测试平台以及锁存器,其中:所述测试仪,适于生成测试信号并通过测试信号输出输出;所述测试平台,包括:测试信号输入端、锁存控制端以及测试结果输出端,其中:所述测试信号输入端分别与所述测试仪的测试信号输出端及所述嵌入式芯片的测试信号输入端耦接,所述锁存控制端与所述锁存器耦接;所述测试结果输出端与所述测试仪的测试结果输入端耦接;所述锁存器,包括:响应信号输入端,与所述嵌入式芯片的数据输出端耦接;锁存数据输出端,与所述测试结果输出端耦接。采用所述方法及系统,可以减少嵌入式芯片的测试时延,提升测试速度。
  • 嵌入式芯片测试方法系统

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