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[实用新型]一种实训教学用移动电源检测设备-CN202022016006.1有效
发明人：梁开双;杨建;李桂祥 -专利权人：江苏汇博机器人技术股份有限公司
申请日： 2020-09-15 - 公布日： 2021-04-30 - 主分类号： G09B9/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及实训教学用移动电源检测设备，包括基台、电源放置工装件、输送线、颜色检测部、外观缺陷检测部以及二维码信息读取部。电源放置工装件用来承载移动电源，且置放于输送线。颜色检测部固定于机架上。外观缺陷检测部布置于颜色检测部的下游，且固定于基台上。二维码信息读取部固定于机架的正下方。这样一来，当移动电源沿着输送线进行流转时，分别借助于颜色检测部、外观缺陷检测部、二维码信息读取部即可在线对其完成颜色识别判定、缺陷识别判定以及入库信息读取，整个检测过程方便、快捷，且精准度高，更有利于学生充分了解智能检测技术在工业制造中所起到的作用
一种教学移动电源检测设备

[发明专利]缺陷检查装置-CN202180063141.6在审
发明人：三品尚登;冈本弘文;田中隆志;杉本贤;早川昌志;畠堀贵秀;堀川浩司 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2021-09-15 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明的缺陷检查装置(100)包括：拍摄部(影像传感器(35))，拍摄检查对象(7)；以及显示部(6)，显示基于由拍摄部所拍摄的图像的图像。而且，缺陷检查装置(100)包括控制部(4)，所述控制部(4)受理对显示于显示部(6)的图像(静态图像(61))上的规定的关注区域(S)的标记(64)的设定。并且，控制部(4)构成为，基于由拍摄部所拍摄的图像来检查检查对象(7)的缺陷，并且使标记(64)的图像重叠于显示于显示部(6)的检查结果图像(叠加图像(65))的与规定的关注区域(S)对应的位置。
缺陷检查装置

[实用新型]板状试样-CN202020233774.X有效
发明人：齐昌超;刘春艳;刘畅;秦林;高健;崔铭芳;李潮浪;孙明楠;舒洁;罗钦;杜炘洁;万泽君;唐荔;张渺;陈妍君 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2020-02-28 - 公布日： 2021-01-29 - 主分类号： G01N29/30 文献下载
摘要：该试样包括板料部、焊料部和试样缺陷，板料部包括第一金属板和第二金属板，焊料部由焊接材料制成；第一金属板的底面与第二金属板的顶面贴合，第一金属板的侧面与第二金属板的侧面衔接，形成板料部的侧面；焊料部设置于板料部的侧面，并与板料部焊接连接；试样缺陷设置在板料部和/或焊料部上。本实用新型通过在板料部上连接焊料部的方式，模拟实际情况中压力容器用复合板的组装方式。通过在板料部和焊料部上开设试样缺陷的方法，使试样内部存在有形状与大小均为固定值的缺陷，在将该板状试样进行超声波检测的过程中，即可确定对于试样进行检测的超声波检测方式的准确性。
试样

[发明专利]用于样本的缺陷检测及光致发光测量的系统及方法-CN201480046386.8有效
发明人： R·萨佩 -专利权人：科磊股份有限公司
申请日： 2014-06-25 - 公布日： 2018-11-09 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：样本的缺陷检测及光致发光测量将斜照明波长光束引导到所述样本的一部分上；将用于引起所述样本的一或多个光致发光缺陷发射光致发光的光的法线照明波长光束引导到所述样本的一部分上；收集来自所述样本的缺陷散射辐射或光致发光辐射；将来自所述样本的所述辐射分离成可见光谱中的辐射的第一部分、包含所述法线照明波长光的辐射的第二部分及包含所述斜照明波长光的辐射的至少第三部分；测量所述辐射的第一部分、所述辐射的第二部分或所述辐射的第三部分的一或多个特性；基于所述辐射的第一部分、所述辐射的第二部分或所述辐射的第三部分的所述经测量的一或多个特性来检测一或多个光致发光缺陷或一或多个散射缺陷。
辐射样本光致发光测量法线缺陷检测照明波长斜照明波长光束光束引导可见光谱散射辐射波长光发射光散射发光检测

[发明专利]图像检查装置-CN202110002317.9在审
发明人：池田泰之 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2021-01-04 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：图像检查装置(100)包括：拍摄部(30)，拍摄对象物的图像；提取部(11)，从图像中提取多个特征量；分类部(12)，根据多个特征量各自是否超过阈值，来进行对象物是良品还是缺陷品的分类；以及决定部(13)，对于从被标记了是良品还是缺陷品的多个学习用图像获得的多个特征量，分别决定阈值，以使缺陷品的漏检成为规定比例以下且缺陷品的误检变少。
图像检查装置

[发明专利]激光修复方法、激光修复装置-CN202080017234.0在审
发明人：水村通伸 -专利权人：株式会社V技术
申请日： 2020-02-07 - 公布日： 2021-10-19 - 主分类号： B23K26/00 文献下载
摘要：所述激光修复方法，对形成于基板上的多层膜结构的缺陷部照射激光束来进行修正加工，在所述激光修复方法中，获取包括缺陷部的区域的图像，以包括缺陷部的方式在图像上设定激光束的扫描范围，在进行扫描范围内的激光束的扫描时，在图像的颜色信息被识别为缺陷部的扫描位置，将激光束的输出控制为开启或较高。
激光修复方法装置

[发明专利]信息处理系统、信息处理方法以及计算机可读存储介质-CN202310055612.X在审
发明人：西谷一平 -专利权人：丰田自动车株式会社
申请日： 2023-01-20 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G06F18/22 文献下载
摘要：本发明提供一种对模拟结果进行提示以便用户容易研究缺陷数据的信息处理系统、信息处理方法以及计算机可读存储介质。信息处理系统具备：取得部，其取得与多个模拟条件分别对应的多个模拟数据或与多个实验条件分别对应的多个实验数据；提取部，其从多个模拟数据或多个实验数据中提取多个缺陷数据；分类部，其基于根据多个缺陷数据分别计算出的特征数据，将多个缺陷数据分类为多个小组；提示部，其将从各个小组中提取的代表数据可视化地提示给用户。
信息处理系统方法以及计算机可读存储介质

[发明专利]纱疵检测装置及卷绕装置-CN201310251916.X有效
发明人：川元谦治 -专利权人：村田机械株式会社
申请日： 2013-06-24 - 公布日： 2018-01-02 - 主分类号： B65H63/06 文献下载
摘要：本发明提供一种纱疵检测装置以及卷绕装置，采用具备以下部分的结构在纱线的粗细超出上述判定临界值规定的粗细临界值的部分的长度在规定长度以上的情况下，判定纱线的粗细超出判定临界值规定的粗细临界值的部分为缺陷的纱疵判定部（22）；在部分被纱疵判定部（22）判定为缺陷的情况下确定缺陷的长度方向的终点的终点确定部（21）；在终点确定部（21）确定了缺陷的长度方向的终点时切断纱线的切断器（9）。
检测装置卷绕

[发明专利]一种热轧带钢边部线状缺陷在线预报方法-CN202010852476.3有效
发明人：王东城;段伯伟;徐扬欢;汪永梅;张亚林 -专利权人：燕山大学
申请日： 2020-08-21 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G06Q10/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种热轧带钢边部线状缺陷在线预报方法，其主要步骤包括：1、收集热轧带钢生产数据作为样本数据并对样本数据预处理；2、根据GA‑DNN神经网络建立热轧带钢边部线状缺陷预报模型；3、对热轧带钢边部线状缺陷预报模型进行训练与验证；4、GA‑DNN神经网络热轧带钢边部线状缺陷预报模型在线预报与分析。
一种热轧带钢线状缺陷在线预报方法

[发明专利]检查装置以及检查方法-CN201710838642.2有效
发明人：木川洋一 -专利权人：日东电工株式会社
申请日： 2017-09-18 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：一种用于检查对象物的缺陷的检查装置，构成为，具备摄像部，该摄像部能够将所述对象物拍摄为具有包含RGB值的颜色信息的图像信息，该检查装置基于由所述摄像部拍摄到的所述对象物的不存在缺陷的区域的颜色信息，来决定用于按所述图像信息的每个像素判定各像素是否为缺陷的判定基准，基于所决定的所述判定基准，来针对由所述摄像部拍摄到的图像信息的全部像素按每个像素进行判定是否为缺陷的滤波处理。
检查装置以及方法

[发明专利]缺陷检测装置、图像传感器器件、图像传感器模块-CN200610141619.X无效
发明人：口井敏匡;市原英行 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2006-09-27 - 公布日： 2007-04-04 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷检测装置，具有：块分割部，把成为检测缺陷区域的被检测图像分割为多个块；块相加值计算部，计算由块分割部分割的各块的块相加值，其中，该块相加值是对块内存在的像素的像素数据进行相加后所得到的值；统计处理部及优劣判断部，通过统计处理来判断是否存在块相加值的误差值，从而判断是否存在缺陷区域。由此，可由紧凑的电路结构在短时间内判断出数字图像是否存在缺陷区域。
缺陷检测装置图像传感器器件模块

[发明专利]分析装置及分析方法-CN202180091761.0在审
发明人：大津晓彦;吉留正洋;河田幸寿;西塔亮 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2021-12-08 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明提供一种能够分析半导体基板的表面上的更微小的缺陷的分析装置及分析方法。分析装置具有：表面缺陷测定部，测定半导体基板的表面上的缺陷的有无，关于半导体基板的表面上的缺陷，得到半导体基板的表面上的位置信息；及分析部，根据缺陷在半导体基板的表面上的位置信息对半导体基板的表面上的缺陷照射激光
分析装置方法

[发明专利]表面缺陷检查方法及表面缺陷检查装置-CN201880018467.5有效
发明人：腰原敬弘;梅垣嘉之;大重贵彦 -专利权人：杰富意钢铁株式会社
申请日： 2018-02-28 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：在作为本发明的一个实施方式的表面缺陷检查装置(1)中，纹理特征图像生成部(43)通过对输入图像实施基于多个空间滤波的滤波处理，从而生成多个纹理特征图像，纹理特征提取部(44)关于输入图像上的各位置分别提取多个纹理特征图像的对应的位置的值，生成图像上的各位置处的特征向量，异常程度计算部(45)关于各个特征向量计算特征向量所成的多维分布中的异常程度，生成表示关于输入图像上的各位置的异常程度的异常程度图像，缺陷候补检测部(46)将异常程度图像中异常程度超过规定值的部分检测为缺陷部或者缺陷候补部
表面缺陷检查方法装置

[发明专利]液晶面板的缺陷像素修正装置-CN200610142986.1无效
发明人：外川隆一 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2006-10-26 - 公布日： 2007-08-08 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供可以提高修正液晶面板的缺陷像素的修正操作的效率的液晶面板的缺陷像素修正装置。液晶面板的缺陷像素修正装置(10)具备激光输出部(11)，和计测机构(40)。激光输出部(11)具有调整激光的强度的调整功能。所以，激光输出部(11)输出具有较弱的强度的计测用激光(L2)。计测机构(40)计测被亮点缺陷(21)反射的计测用激光(L2)的强度。
液晶面板缺陷像素修正装置

[发明专利]一种坡口缺陷检测方法、计算设备及可读存储介质-CN202110263930.6在审
发明人：刘坚;索鑫宇;姜潮;孟宇;周飞滔;崔超齐;王有源 -专利权人：湖南大学
申请日： 2021-02-23 - 公布日： 2021-07-02 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种坡口缺陷检测方法、计算设备及可读存储介质。其中，该方法在计算设备中执行，适于检测管状元件端部的环形坡口的缺陷，包括：获取待检测元件的端部图像中的环形坡口区域；将环形坡口区域展开成矩形，得到矩形的坡口图像；对矩形的坡口图像进行滑窗切分，得到多个子坡口图像；将每个子坡口图像输入到训练好的目标检测网络中进行处理，得到有缺陷的子坡口图像中的缺陷框；对缺陷框进行二值化处理，得到缺陷框的二值化图像；从缺陷框的二值化图像中获取缺陷区域的像素坐标。本发明的坡口缺陷检测方法既能加快坡口缺陷的检测速度还能提高坡口缺陷的检测精度。
一种缺陷检测方法计算设备可读存储介质