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[发明专利]含铱氧化物及其制造方法以及含有含铱氧化物的催化剂-CN202180080650.X在审
发明人： 池田泰之;寺田健二;铃木宏明;渡辺纯一;伊藤贤 -专利权人：株式会社古屋金属
申请日： 2021-12-14 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： B01J23/46 文献下载
摘要：本发明的目的在于通过控制细孔构造，而获得作为阳离子交换膜水电解或阳离子交换膜燃料电池的水分解电极催化剂兼具高活性及高耐久性，且能够减少催化剂使用量的含铱氧化物。本发明的含铱氧化物的特征在于，根据氮的吸附脱附等温线测定并通过BJH法计算的总细孔容积为0.20cm3/g以上，且具有平均细孔直径为7.0nm以上的细孔分布。
氧化物及其制造方法以及含有催化剂

[发明专利]检查系统以及检查方法-CN202180037604.1在审
发明人： 池田泰之 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2021-03-08 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：检查系统具有：发光装置，其用于照明对象物；准直透镜，其配置在发光装置与对象物之间；以及拍摄装置，其拍摄对象物。发光装置使发光位置可变。检查系统还具有图像分析部，该图像分析部通过对从发光位置互不相同的状态下的多次拍摄分别得到的多个拍摄图像进行分析，来生成各像素的值与在相应像素中映现的对象物的表面的法线方向对应的分析图像。由此，能够减少用于检查的调整的工夫，缺陷的检测精度提高。
检查系统以及方法

[发明专利]图像检查装置、图像检查方法以及学习完毕模型生成装置-CN202180027283.7在审
发明人： 池田泰之 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2021-03-10 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：提供一种能够复原特殊图案并且能够抑制不良品图案的生成的图像检查装置、图像检查方法以及学习完毕模型生成装置。图像检查装置20包括：分割图像生成部234，对学习完毕模型输入检查分割图像与周围含有图像而生成复原分割图像，所述学习完毕模型经学习，以使得将使良品的检查对象物的图像分割而成的图像即良品分割图像、及包含基于良品分割图像的周围图像的至少一部分的图像的图像作为输入而输出复原分割图像，所述检查分割图像是将检查对象物30的图像分割而成的图像，所述周围含有图像包含基于检查分割图像的周围图像的至少一部分的图像；以及检查部237，基于由分割图像生成部234所生成的复原分割图像来进行检查对象物的检查。
图像检查装置方法以及学习完毕模型生成

[发明专利]图像处理系统-CN201810153471.4有效
发明人：黄载煜;藤枝紫朗;池田泰之;吉冈和志 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-02-22 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种即便在现场配置了低功能装置的情况下也能够提高判定准确度的图像处理系统。图像处理系统是使用低功能装置以及运算能力高于低功能装置的高功能装置对至少一个对象物进行判定。低功能装置包括：输出对于对象物的拍摄图像应用第一卷积神经网络而识别对象物的第一判定结果的单元；以及如果第一判定结果符合规定条件，那么将拍摄图像输出到高功能装置的单元。高功能装置包括，输出对拍摄图像应用第二卷积神经网络而识别对象物的第二判定结果的单元，该第二卷积神经网络利用至少一部分与第一卷积神经网络共通的样本进行过事先学习。
图像处理系统

[发明专利]图像处理装置、电脑可读取记录媒体、图像处理系统-CN201810143688.7有效
发明人： 池田泰之 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-02-11 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提出一种图像处理装置、电脑可读取记录媒体、图像处理系统。图像处理装置包括：特征检测图像生成单元，通过将经过事前学习的具有多个类别的卷积神经网络应用于输入图像，从而分别生成对应于多个类别的多个特征检测图像；后处理单元，通过按照设定参数对多个特征检测图像的至少一部分特征检测图像进行后处理，从而生成计测结果；以及用户界面单元，向用户提示多个特征检测图像的至少一部分及计测结果该两者中的至少一者，并且接收设定参数，所述多个特征检测图像是由特征检测图像生成单元生成，所述计测结果是通过使用由特征检测图像生成单元生成的多个特征检测图像的至少一部分并利用后处理单元进行后处理而生成。
图像处理装置电脑读取记录媒体系统

[发明专利]缺陷检查装置、缺陷检查方法及计算机可读存储介质-CN201811055662.3有效
发明人： 池田泰之;栗田真嗣 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-09-11 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷检查装置、缺陷检查方法及计算机可读存储介质，能够根据检查对象或背景图像来灵活地利用经事先学习的识别器的技术。所述缺陷检查装置具备：存储部，存储已学习模型和对所述已学习模型设定的内部参数；获取部，获取在规定的条件下所拍摄的检查对象的图像；前处理部，根据由获取部所获取的包含缺陷的检查对象的图像即前处理图像中的特征量、和与内部参数对应的特征量，生成规定的前处理过滤器，将所生成的前处理过滤器适用于由获取部所获取的检查对象的图像即检查图像而对所述检查图像进行转换，由此生成已前处理图像；以及检查部，针对已前处理图像，使用所存储的已学习模型来对检查对象有无缺陷进行检查。
缺陷检查装置方法计算机可读存储介质

[发明专利]负载型催化剂合成装置及微粒子合成装置-CN202080043954.4在审
发明人： 池田泰之;寺田健二 -专利权人：株式会社古屋金属
申请日： 2020-06-16 - 公布日： 2022-02-15 - 主分类号： B01J23/46 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种将单金属微粒子或固溶体微粒子负载于载体粒子的负载催化剂中能实现单金属微粒子或者固溶体微粒子的0.5～2nm左右的小粒径化，且能够稳定地量产负载催化剂的负载型催化剂合成装置。本发明的负载型催化剂合成装置具有：含有还原剂的液体的第1供给源；含有构成负载的单金属微粒子或者固溶体微粒子的元素的液体的第2供给源；含有载体粒子的液体的第3供给源；使这些液体合流的反应部(D)；连结第1供给源与反应部(D)的送液路径(A)；连结第2供给源与反应部(D)的送液路径(B)；连结第3供给源与反应部(D)的送液路径(C)；及经由配管连接于反应部(D)，回收所生成的反应物的回收部(E)；且进一步具有连接于回收部(E)的压力调整机构(F)。
负载催化剂合成装置微粒子

[发明专利]缺陷检查装置、缺陷检查方法以及计算机可读记录介质-CN201910030739.X有效
发明人： 池田泰之;栗田真嗣 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-01-14 - 公布日： 2022-01-11 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷检查装置、缺陷检查方法以及计算机可读记录介质。缺陷检查装置包括：获取部，获取检查对象物的检查图像；图像生成部，通过对检查图像适用以使用学习用的图像数据提取一个以上的特征的方式进行了事先学习的已学习识别器，而生成一个以上的特征提取图像；检查部，基于用以判定检查对象物中有无检测对象部位的一个以上的判定用参数及基于特征提取图像而生成的二值化图像来确定与缺陷对应的区域；以及设定部，使用确定了与缺陷对应的区域的二值化图像即设定用图像，算出基于设定用图像的像素的颜色的浓度的图像得分，并以使区域的内部的图像得分与区域的外部的图像得分之差相对变大的方式更新判定用参数。
缺陷检查装置方法以及计算机可读记录介质

[发明专利]图像检查装置-CN202110002317.9在审
发明人： 池田泰之 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2021-01-04 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种图像检查装置，对于根据对象物的图像而算出的多个特征量，能够更迅速地决定更适当的阈值。图像检查装置(100)包括：拍摄部(30)，拍摄对象物的图像；提取部(11)，从图像中提取多个特征量；分类部(12)，根据多个特征量各自是否超过阈值，来进行对象物是良品还是缺陷品的分类；以及决定部(13)，对于从被标记了是良品还是缺陷品的多个学习用图像获得的多个特征量，分别决定阈值，以使缺陷品的漏检成为规定比例以下且缺陷品的误检变少。
图像检查装置

[发明专利]学习装置、学习方法以及记录介质-CN202011079035.0在审
发明人： 池田泰之;枦山博幸;松田健利 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2020-10-10 - 公布日： 2021-05-28 - 主分类号： G06N3/04 文献下载
摘要：本发明提供一种能够削减学习模型的调整工时的学习装置、学习方法以及记录介质。学习部进行使用学习用图像组的机器学习，由此来生成被利用于判定对象物的属性的学习模型，所述学习用图像组包含映照有对象物的一个以上的学习用图像。评估部将评估用图像组中所含的一个以上的评估用图像输入至学习模型，由此来进行学习模型的性能评估。受理部受理对学习用图像组进行更新的第一操作。记录部针对每个第一操作，将第一操作的内容、与对使用更新后的学习用图像组而生成的学习模型的评估的结果相关联地予以记录。输出部输出由记录部所记录的历史信息。
学习装置学习方法以及记录介质

[发明专利]缺陷检查装置、缺陷检查方法及其程序-CN201980053565.7在审
发明人： 池田泰之;栗田真嗣 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-11-13 - 公布日： 2021-03-26 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：缺陷检查装置包括：获取部，获取检查对象物的检查图像；图像生成部，通过对检查图像适用以使用学习用的图像数据提取特征的方式进行了事先学习的已学习识别器，而生成一个以上的特征提取图像；检查部，基于用以判定检查对象物中有无检测对象部位的一个以上的判定用参数及以特征提取图像而生成的二值化图像来确定与缺陷对应的区域；以及设定部，在基于已事先学习的特征来确定与缺陷对应的区域的情况下，当与特征对应的学习用的图像数据的数未满阈值时，以来自用户的事后调整为前提而临时设定判定用参数，在基于已事先学习的特征以外的特征来确定与缺陷对应的区域的情况下，根据来自用户的指定来设定判定用参数。
缺陷检查装置方法及其程序

[发明专利]图像处理装置、图像处理方法以及图像处理程序-CN201980052562.1在审
发明人： 池田泰之;栗田真嗣 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-10-10 - 公布日： 2021-03-23 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：卷积神经网络进行第一屏蔽处理，所述第一屏蔽处理是通过检查图像与屏蔽图像的各自对应的像素彼此的像素值的运算，来屏蔽检查对象外的像素区域，所述检查图像包含检查对象的像素区域与检查对象外的像素区域，所述屏蔽图像包含具有用于屏蔽检查对象外的像素区域的像素值，且与检查对象外的像素区域相关联的像素区域，进行用于从进行了第一屏蔽处理的检查图像中提取特征图像的中间处理，且进行第二屏蔽处理，所述第二屏蔽处理是通过进行了中间处理的检查图像、与进行了与中间处理相同的处理的屏蔽图像的各自对应的像素彼此的像素值的运算，来屏蔽检查对象外的像素区域。
图像处理装置方法以及程序

[发明专利]图像处理装置、图像处理方法以及图像处理程序-CN201980051518.9在审
发明人：栗田真嗣;池田泰之;山元左近 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-10-23 - 公布日： 2021-03-19 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：图像处理装置将检查对象的原图像作为背景图像51而将缺陷图像52重叠于背景图像51，并且进行改变缺陷图像52的显示形态或背景图像51的显示形态的图像处理，由此，生成缺陷图像52相对于背景图像51的视觉性不同的多个合成图像50(步骤403)，验证可否从多个合成图像50分别检测出缺陷图像52(步骤404)，基于检测可否的验证结果来推测缺陷图像52的可检测范围60(步骤405)，并显示可检测范围60(步骤406)。
图像处理装置方法以及程序

[发明专利]区域分割方法以及检查装置-CN201480018765.6有效
发明人：凑善久;柳川由纪子;池田泰之;木内丰;加藤丰 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2014-02-25 - 公布日： 2018-04-17 - 主分类号： G06T7/11 文献下载
摘要：使用户指定应该作为前景的区域内的一部分像素作为前景指定像素，根据前景指定像素的颜色来估计前景的颜色分布和背景的颜色分布。估计处理包含以下的步骤将图像的颜色分布分为多个聚类；以及选择所述多个聚类中的、与用户指定的前景指定像素的关联性大的一个以上的聚类，作为前景的颜色分布，选择与前景指定像素的关联性小的一个以上的聚类，作为背景的颜色分布。
区域分割方法以及检查装置

[发明专利]控制系统及控制方法-CN201410138678.6有效
发明人： 池田泰之;吉冈和志;加藤豊;土井雄一 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2014-04-08 - 公布日： 2017-08-25 - 主分类号： G05D1/12 文献下载
摘要：提供控制系统及控制方法，要求更高速且更高精度实现利用图像处理的定位。执行第一控制动作后执行第二控制动作，第一控制动作，图像处理单元获取图像数据并确定特征部分的位置，控制单元基于所确定的特征部分的位置来决定如下的控制指令，使对象物加速至规定的第一速度后减速至小于第一速度的规定的第二速度，使对象物移动至与最终目标位置相距规定的余量距离的中间目标位置。第二控制动作，图像处理单元在移动机构的移动过程中获取图像数据并确定特征部分的位置，控制单元基于所确定的特征部分的位置决定将对象物定位到最终目标位置的控制指令。以使移动机构以容许最大加速度从第二速度开始减速时使对象物不超过最终目标位置的方式决定余量距离。
控制系统控制方法

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