专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果1022446个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]缺陷类别识别、孪生神经网络训练方法、装置及存储介质-CN202011201472.5在审
  • 汤寅航;赵迪 - 创新奇智(青岛)科技有限公司
  • 2020-11-02 - 2021-02-02 - G06K9/62
  • 本申请提供一种缺陷类别识别、孪生神经网络训练方法、装置及存储介质,其中,缺陷类别识别方法包括将待缺陷识别图像输入至孪生神经网络中的第一神经网络,以使得第一神经网络输出第一特征向量,第一特征向量包括用于表征待缺陷识别图像的缺陷类别相似度的第一特征信息、将测试样本输入至孪生神经网络中的第二神经网络,以使得第二神经网络输出第二特征向量,第二特征向量包括用于表征测试样本的缺陷类别相似度的第二特征信息、基于第一特征信息和第二特征信息,计算第一特征向量与第二特征向量进行向量之间的向量距离、根据向量距离确定待缺陷识别图像的缺陷类型。本申请能够实现对产品的新出现缺陷进行快速识别,以缩短缺陷识别周期。
  • 缺陷类别识别孪生神经网络训练方法装置存储介质
  • [发明专利]一种判断表面缺陷显性程度的方法-CN202210117147.3在审
  • 何星 - 厦门聚视智创科技有限公司
  • 2022-02-08 - 2022-06-07 - G01N21/88
  • 本发明公开了一种判断表面缺陷显性程度的方法,在缺陷识别区上方架设垂直于缺陷识别区轴向的弧形轨道,并在弧形轨道上安装工业相机;将工业相机运动到缺陷识别区中待识别工件的正上方,进行第一次拍照识别,获得第一图像,识别完成后在第一图像上标注缺陷存在的位置,同时对标注了缺陷位置的第一图像取灰度值;驱动工业相机在弧形轨道上运动,在运动过程中持续对待识别工件的表面做各角度取景抓拍;对抓拍的各角度图片分别取灰度值;根据工业相机在弧形轨道上运动时的角度连续变化将各角度图片的灰度值依次排列获得灰度梯度,将缺陷位置的灰度梯度列出并根据缺陷位置的灰度梯度判断缺陷位置的显性程度,本发明可以高效判断缺陷的显性程度。
  • 一种判断表面缺陷显性程度方法
  • [发明专利]语法缺陷数据识别模型构建方法和语法缺陷数据识别方法-CN202011552924.4在审
  • 张为泰;刘俊华;魏思;刘聪 - 科大讯飞股份有限公司
  • 2020-12-24 - 2021-04-16 - G06F40/58
  • 本申请公开了一种语法缺陷数据识别模型构建方法和语法缺陷数据识别方法,该构建方法包括:在获取到第一训练源文本、第一标准翻译文本及其对应的第一实际识别结果、和第一语法缺陷翻译文本及其对应的第二实际识别结果后,将第一训练源文本、第一标准翻译文本和第一语法缺陷翻译文本输入第一模型,得到第一标准翻译文本对应的第一预测识别结果和第一语法缺陷翻译文本对应的第二预测识别结果;再根据第一预测识别结果、第二预测识别结果、第一实际识别结果和第二实际识别结果更新第一模型,并返回执行将第一训练源文本、第一标准翻译文本和第一语法缺陷翻译文本输入第一模型的步骤,直至在达到第一停止条件时根据第一模型构建语法缺陷数据识别模型。
  • 语法缺陷数据识别模型构建方法
  • [发明专利]一种硅片表面缺陷的机器视觉识别方法、装置及介质-CN202310684968.X在审
  • 李安杰 - 西安奕斯伟材料科技股份有限公司
  • 2023-06-09 - 2023-09-08 - G06T7/00
  • 本发明实施例公开了一种硅片表面缺陷的机器视觉识别方法、装置及介质,属于半导体制造技术领域,包括:基于采集到的硅片表面局部缺陷的图像识别待分类的缺陷区域;根据所述待分类的缺陷区域的长值与径值的比值确定所述待分类的缺陷区域的长径比,其中,所述长值为所述待分类的缺陷区域的边缘像素之间距离最大的值,所述径值为垂直于所述长值所在直线的方向上所述待分类的缺陷区域的边缘像素之间距离最大的值;根据所述长径比识别所述待分类的缺陷区域所表征的缺陷类型长径比作为缺陷区域的外形特征,能够更准确地对缺陷进行识别及分类,进一步减少缺陷最终识别的步骤,从而实现硅片表面主要缺陷快速分类,提高高端产品监控水平。
  • 一种硅片表面缺陷机器视觉识别方法装置介质
  • [发明专利]缺陷检测方法及缺陷检测装置-CN202310200887.8有效
  • 潘勇;郭俊敏;员雪辉 - 深圳市深视智能科技有限公司
  • 2023-03-06 - 2023-07-14 - G06T7/00
  • 本申请提供了缺陷检测方法及缺陷检测装置。所述缺陷检测方法包括:对训练样品进行扫描,以得到第一图像,其中,所述训练样品具有焊接缺陷;对所述第一图像进行去噪处理,以得到第二图像;根据所述第二图像生成所述训练样品的三维点云图及亮度图;根据所述三维点云图及所述亮度图训练识别所述焊接缺陷;训练结束后生成缺陷识别模型;及利用所述缺陷识别模型对待检测物进行焊接缺陷检测。本申请提供的缺陷检测方法能够提高对焊接缺陷识别率,从而降低对焊接缺陷的漏检率及过杀率。
  • 缺陷检测方法装置
  • [发明专利]基于图像识别的色谱柱状态识别方法及系统-CN202310778220.6有效
  • 龚施健;陈国富;郑经纬;吴春弟;吕巧丽;翁新增 - 博纯材料股份有限公司
  • 2023-06-29 - 2023-08-29 - G06T7/00
  • 本申请实施例提供一种基于图像识别的色谱柱状态识别方法及系统,涉及色谱柱状态识别技术领域,依据参考色谱柱图像的色谱柱角度特征图集合以及参考色谱柱图像携带的色谱柱缺陷特征序列对应的色谱柱缺陷特征簇来训练色谱柱状态识别模型,这样,在训练色谱柱状态识别模型的过程中,不仅了结合参考色谱柱图像中各个色谱柱角度特征图之间的关系,还结合了色谱柱角度特征图与色谱柱缺陷特征以及色谱柱缺陷特征与色谱柱缺陷特征之间的关系,由此可以提高色谱柱状态识别模型的缺陷识别可靠性,使得依据该色谱柱状态识别模型可以准确分析出色谱柱图像具有色谱柱损伤关联性的多个色谱柱缺陷特征,提高色谱柱状态识别的精度。
  • 基于图像识别色谱柱状方法系统

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top