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[发明专利]一种组合式软件缺陷报告分类方法-CN201410250512.3有效
发明人：周宇;童燕翔;古睿航 -专利权人：南京航空航天大学
申请日： 2014-06-09 - 公布日： 2017-10-24 - 主分类号： G06F17/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种组合式软件缺陷报告分类方法，包括以下步骤提取软件缺陷报告的非结构型特征属性，并进行预处理而得到特征词集合；利用监督式的文本挖掘技术预测所述特征词集合所描述内容倾向于修正性缺陷的程度等级；将所述等级的预测结果与该软件缺陷报告的编号ID与有用的结构型特征属性相结合，从而生成一新的软件缺陷报告；利用数据挖掘的方法预测新的缺陷报告是否为修正性缺陷。本发明通过滤除非修正性的缺陷，降低缺陷数据库的噪声，从而提高基于缺陷报告数据库的缺陷预测研究的精确度。
一种组合式软件缺陷报告分类方法

[发明专利]一种蒙皮夹芯粘接结构缺陷对比试样-CN201110346199.X有效
发明人：张于北;刘庆珍;郭广平;张建合;刘颖韬 -专利权人：中国航空工业集团公司北京航空材料研究院
申请日： 2011-11-04 - 公布日： 2012-04-25 - 主分类号： G01N29/30 文献下载
摘要：本发明是一种蒙皮夹芯粘接结构缺陷对比试样，其特征在于试样由两块蒙皮和中间的芯板胶粘而成，芯板上各个缺陷的部位应同样高并略高于旁边的无缺陷部位。在试样放入高温高压舱前，芯板各缺陷部位处的胶膜应去除；芯板各缺陷部位和蒙皮接触缺陷的部位可稍涂油脂；在芯板两边的蒙皮外应使用适当强力的夹紧结构，使芯板上各个缺陷的部位受压回落至旁边无缺陷部位的高度。最终保证芯板上缺陷的部位无胶膜且紧贴于蒙皮，其它无缺陷的部位与蒙皮正常胶粘。达到制作紧贴型粘接缺陷模拟样件的目的。
一种蒙皮夹芯粘接结构缺陷对比试样

[发明专利]闪光焊对接铜铝过渡线夹相控阵超声检测试块及检测方法-CN202110805782.6在审
发明人：余超;张泽宇;张晓斌;张华;刘振华;张鹏鲲 -专利权人：华北电力科学研究院有限责任公司;国家电网有限公司;北京华科同和科技有限公司;国网冀北电力有限公司廊坊供电公司
申请日： 2021-07-16 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：本发明为一种闪光焊对接铜铝过渡线夹相控阵超声检测试块及检测方法，闪光焊对接铜铝过渡线夹相控阵超声检测试块包括，第一试块，用于焊缝缺陷检验，包括第一铜块和第一铝块，第一铜块和第一铝块之间形成第一焊缝部，第一焊缝部的内设置第一圆形缺陷结构；第一焊缝部的顶面设置第一条状缺陷结构，第一焊缝部的底面设置第二条状缺陷结构；第二试块，用于热影响区缺陷对比，包括第二铜块和第二铝块，第二铜块和第二铝块之间形成第二焊缝部，第一热影响区的侧面向内设置第二圆形缺陷结构，第二热影响区的侧面向内设置第三圆形缺陷结构；第一热影响区的顶面设置第三条状缺陷结构，第二热影响区的底面设置第四条状缺陷结构。
闪光对接过渡相控阵超声检测方法

[发明专利]弯曲结构金属连线缺陷的检测方法-CN200910198787.6有效
发明人：龚斌;郭强;章鸣;秦天;郭志蓉 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2009-11-09 - 公布日： 2011-05-11 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提出一种带电粒子束检测弯曲结构金属连线缺陷的方法，该方法包括：先把弯曲结构金属连线的首末端接相同电位，然后用带电粒子束横向检测弯曲结构金属连线的金属直线部分，并通过作出电流变化曲线确定缺陷的种类和位置范围，再通过纵向检测并分析电流变化曲线，最终确定弯曲结构金属连线缺陷的精确位置。该方法由于采用带电电子束或带电离子束进行检测，使检测的空间分辨率从微米级提高到纳米级，基本不受缺陷的材料的影响，能检测微小缺陷引起的很小的电阻变化，并通过横向检测缩短了弯曲结构金属连线缺陷的检测时间，极大地提高缺陷分析效率
弯曲结构金属连线缺陷检测方法

[发明专利]基于模式耦合效应的液晶微结构光纤温度传感器-CN201911243278.0有效
发明人：陈海良;王明月;张文逊;张赢月;马明建;井西利;李曙光 -专利权人：燕山大学
申请日： 2019-12-06 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： G02B6/02 文献下载
摘要：本发明提供一种基于模式耦合效应的液晶微结构光纤温度传感器，该微结构光纤温度传感器的基底材料为二氧化硅，包括纤芯、包层和包层外侧的完美匹配层；纤芯正上方对应的空气孔的内部填充液晶，形成缺陷芯，缺陷芯左右两边为两个直径为由于液晶折射率高于基底材料，并且缺陷芯旁边的两个大空气孔可以调节缺陷芯周围的折射率，使得缺陷芯与纤芯更易发生模式耦合，从而使得微结构光纤的缺陷芯模式发生变化，通过优化微结构光纤结构参数来调节缺陷芯与纤芯耦合损耗峰的移动
基于模式耦合效应液晶微结构光纤温度传感器

[发明专利]一种导电结构缺陷稀疏电涡流快速成像检测方法及系统-CN201910115396.7有效
发明人：邓为权;叶波;吴建德;王晓东;黄国勇;范玉刚;冯早;邹金慧 -专利权人：昆明理工大学
申请日： 2019-02-14 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01N27/9013 文献下载
摘要：本发明公开了一种导电结构缺陷稀疏电涡流快速成像检测方法及系统，该成像检测方法包括初始化处理步骤、获取稀疏缺陷信号步骤和重建信号并成像识别步骤。本发明利用导电结构中缺陷空间分布的稀疏特性，结合压缩感知原理，以远小于常规奈奎斯特采样定理所需信号采样数量的采样次数来进行稀疏采样，然后利用优化算法从少量稀疏采样信号中准确重构出导电结构的缺陷成像信息同时无需额外增加现有缺陷信号采集设备的硬件设计，提高了导电结构缺陷电涡流快速成像检测的效率。
一种导电结构缺陷稀疏涡流快速成像检测方法系统

[发明专利]软件测试缺陷分析方法及装置-CN202011055410.8在审
发明人：胡尚禹 -专利权人：武汉虹旭信息技术有限责任公司
申请日： 2020-09-29 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种软件测试缺陷分析方法及装置，其中，该方法包括：以目标属性为单位，对结构化的缺陷列表数据进行分类统计，获取分类统计结果；对结构化的缺陷列表数据和分类统计结果进行关联分析，获取关联分析结果本发明实施例提供的软件测试缺陷分析方法及装置，能获取缺陷分布和缺陷状态结果，能从更多维度综合分析缺陷，能发现缺陷之间潜在的关联性，能发现软件测试存在的问题，能提高测试的工作效率，能提高软件开发流程的工作效率
软件测试缺陷分析方法装置

[发明专利]一种粉末床熔融制件射线检测对比试块及制作方法-CN202310570685.2在审
发明人：高运来;叶佐元;陈鑫;王卫东;彭俊阳;刘建光 -专利权人：中国商用飞机有限责任公司北京民用飞机技术研究中心;中国商用飞机有限责任公司
申请日： 2023-05-19 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：该对比试块包括阶梯结构试块基体和缺陷单元；所述阶梯结构试块基体，用于射线检测法对粉末床熔融制件厚度灵敏度的对比试验；所述缺陷单元，设置在所述阶梯结构试块基体上，用于验证射线检测法对粉末床熔融制件的缺陷检出能力、提高射线检测结果的可靠性并辅助对缺陷评定。本发明的对比试块通过对比缺陷单元的相同尺寸平底孔和球状缺陷的射线检测图像，分析可识别的平底孔和球状缺陷细节，可用于确定粉末床熔融制件孔隙和未熔合缺陷的内部未熔化金属粉末对射线检测灵敏度和缺陷识别的影响，有助于提高粉末床熔融制件射线检测结果的可靠性并辅助用于缺陷评定。
一种粉末熔融制件射线检测比试制作方法

[发明专利]微带线滤波器-CN201510175623.7有效
发明人：江孟谦;陈建铭 -专利权人：中磊电子（苏州）有限公司;中磊电子股份有限公司
申请日： 2015-04-14 - 公布日： 2017-12-12 - 主分类号： H01P1/212 文献下载
摘要：金属接地层配置于介质基板的第二层，金属接地层包括第一缺陷接地结构。第一缺陷接地结构包括第一缺陷区域、第二缺陷区域以及第三缺陷区域。第一缺陷区域在第一层的投影位于第一发夹形谐振器的发夹结构内部。第二缺陷区域在第一层的投影位于第一发夹形谐振器开口的相反方向。第三缺陷区域连接第一缺陷区域及第二缺陷区域。
微带滤波器

[发明专利]具缺陷接地结构微带线滤波器-CN201410326631.2无效
发明人：江孟谦;陈建铭 -专利权人：中怡（苏州）科技有限公司;中磊电子股份有限公司
申请日： 2014-07-10 - 公布日： 2014-09-24 - 主分类号： H01P1/203 文献下载
摘要：金属接地层配置于介质基板的第二层，金属接地层包括第一缺陷接地结构。第一缺陷接地结构包括第一缺陷区域、第二缺陷区域以及第三缺陷区域。第一缺陷区域在第一层的投影位于第一发夹形谐振器的发夹结构内部。第二缺陷区域在第一层的投影位于第一发夹形谐振器开口的相反方向。第三缺陷区域连接第一缺陷区域及第二缺陷区域。
缺陷接地结构微带滤波器

[发明专利]用于跟踪片材中的缺陷的设备和方法-CN201480049476.2有效
发明人： J-P·赫尔曼;M·M·赫尔曼;W·朔恩 -专利权人： KHS有限责任公司
申请日： 2014-08-01 - 公布日： 2020-06-09 - 主分类号： B65H26/06 文献下载
摘要：本发明涉及用于标记片材中的材料缺陷的方法。为了提供能够被用于特别准确地、可靠地和永久地识别片材中的材料缺陷，设置成通过缺陷传感器来感测移动的片材中的材料缺陷，并且由第一标记传感器(4a)感测所感测的材料缺陷的区域内的表面结构特征，并且确定并存储体现表面结构特征的第一表面结构数据记录
用于跟踪中的缺陷设备方法

[发明专利]基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法、设备-CN202210638255.5有效
发明人：崔悦;魏东;杜雁霞;向静;童福林;肖光明;石友安;桂业伟 -专利权人：中国空气动力研究与发展中心计算空气动力研究所
申请日： 2022-06-08 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： G01N29/04 文献下载
摘要：本发明公开了基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法、设备，属于超声无损探测技术领域，包括步骤：在对结构表面的多种形状减薄缺陷进行超声横波探测时，通过检测减薄缺陷起始位置点的反射叠加波幅值，实现减薄缺陷起始点的精确定位本发明提高对减薄缺陷所在位置的识别精度，从而为结构的安全评估提供最准确的基准数据和评价依据。
基于超声结构表面缺陷起始定位方法设备

[实用新型]一种具有寄生通带抑制结构的微带带通滤波器-CN201020694818.5无效
发明人：郑宏兴;成丹;王利强 -专利权人：天津职业技术师范大学
申请日： 2010-12-31 - 公布日： 2011-08-17 - 主分类号： H01P1/203 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种具有寄生通带抑制结构的微带带通滤波器，包括U形谐振器，微带线一，微带线二，U形槽缺陷微带结构一，U形槽缺陷微带结构二；U形谐振器开口向下设置，微带线一右侧与U形谐振器左侧微带线耦合，左侧与U形槽缺陷微带结构一右侧相连，微带线二左侧与U形谐振器右侧微带线耦合，右侧与U形槽缺陷微带结构二左侧相连。U形槽缺陷微带结构一中U形槽的开口方向朝向信号输入端，U形槽缺陷微带结构二中U形槽的开口方向朝向信号输出端。该结构易于设计，尺寸小，谐振频率调整方便，有着良好的带阻特性。
一种具有寄生抑制结构微带带通滤波器

[发明专利]一种高节点缺陷和构件损伤耐受度的单层网壳结构-CN201911190844.6有效
发明人：刘慧娟;艾德生;徐春丽;赵亮;杨胜召;周呈祥 -专利权人：广西大学
申请日： 2019-11-28 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： E04B1/32 文献下载
摘要：本发明提供的一种高节点缺陷和构件损伤耐受度的单层网壳结构，所述单层网壳结构为螺旋线型单层网壳结构。本发明提供的高节点缺陷和构件损伤耐受度的单层网壳结构结构承载能力强，具有节点缺陷和腐蚀损伤的高耐受性；同时，本申请发现，其发现缺陷和损伤对结构耐受性的影响是耦合作用的，并非线性叠加。
一种节点缺陷构件损伤耐受单层结构

[发明专利]一种蜡模铸造缺陷知识图谱构建方法-CN202210951670.6在审
发明人：马洪波;凌李石保;吴庆捷;汪东红;汪伟;卢文婷;李佳丁;姜淼;蔡稷惟;常建涛;孔宪光 -专利权人：嘉善鑫海精密铸件有限公司;西安电子科技大学;浙江鑫淼精密铸件股份有限公司
申请日： 2022-08-09 - 公布日： 2022-11-15 - 主分类号： G06F16/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种蜡模铸造缺陷知识图谱构建方法，实现包括：集成已有的铸造缺陷数据；对缺陷数据进行数据清洗及结构化处理；构建缺陷数据的元模型；通过信息化技术，对缺陷数据进行内容识别、特征提取，再按照元模型进行存储；基于缺陷数据构建数据实体，建立实体之间的连接；基于知识图谱构建工具，导入所有的实体及实体之间的关系，形成蜡模铸造缺陷知识图谱；基于大数据分析模型的分析结果，对蜡模铸造缺陷知识图谱进行知识更新。本发明的蜡模铸造缺陷知识图谱构建方法对蜡模铸造生产过程中的缺陷进行结构化、系统化整理，以图形化方式向用户展示经过分类整理的结构化知识，能够解决蜡模铸造领域缺陷知识分散、模糊、无指导性等问题。
一种铸造缺陷知识图谱构建方法

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