专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]处理器程序的测试方法和装置-CN201610620616.8有效
  • 陈博文 - 龙芯中科技术有限公司
  • 2016-07-29 - 2020-07-28 - G06F11/36
  • 本发明提供一种处理器程序的测试方法和装置,用于获取对处理器程序进行测试测试指令序列以及测试指令序列的预期结果序列测试指令序列存储于处理器的内存空间,该方法包括:获取当前指令地址,当前指令地址为内存中的地址;判断当前指令地址是否为已存储任一测试指令的已存储指令地址,测试指令为待测试的处理器程序所支持的指令;若当前指令地址为已存储指令地址,则执行当前指令地址中存储的测试指令,并将当前指令地址中存储的测试指令的执行结果加入预期结果序列本发明的方法能够使得测试处理器程序的测试指令序列能够重复执行以及包含不确定结果指令时提高测试效率。
  • 处理器程序测试方法装置
  • [发明专利]嵌入式设备自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质-CN202211663231.1在审
  • 黄君 - 深圳融昕医疗科技有限公司
  • 2022-12-23 - 2023-05-12 - G06F11/07
  • 本申请涉及一种嵌入式设备自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:根据嵌入式设备的操作序列获取对应的测试指令序列脚本,测试指令序列脚本包括指令序列指令时序和第一运行状态参数,第一运行状态参数为人工操作嵌入式设备时的运行状态参数提取测试指令序列脚本中的指令序列并将指令序列发送至嵌入式设备端,以使嵌入式设备按照指令时序执行指令序列。获取嵌入式设备的第二运行状态参数,并将第二运行状态参数与第一运行状态参数进行对比,若一致,则指令序列通过测试,第二运行状态参数为嵌入式设备执行指令序列时的运行状态参数。该方法只需要普通联网电脑和配套的测试软件即可实现,降低了设备成本,且测试过程较简单。
  • 嵌入式设备自动化测试方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]基于UVM的测试构架、测试平台及测试方法-CN201911422845.9在审
  • 陈岩;薛江 - OPPO广东移动通信有限公司
  • 2019-12-31 - 2020-05-22 - G06F11/26
  • 本申请实施例提供一种基于UVM的测试构架、测试平台及测试方法,测试构架包括软件用例、输入单元和输出单元,软件用例包括第一测试指令,输入单元与软件用例通讯连接,输入单元用于从软件用例中获取第一测试指令,并用于根据第一测试指令生成第一指令包并用于将第一二进制指令传输至待测试模块;输出单元用于与待测试模块通讯连接,输出单元用于接收待测试模块运行第一二进制指令得到的第一测试结果。基于此,输入单元可以从软件用例中获取带有应用场景的第一测试指令及第一测试指令序列,由于应用场景的约束,可以缩小第一测试指令序列随机的空间,减少输入单元获取的第一测试指令序列的长度,最终可以提高测试效率。
  • 基于uvm测试构架平台方法
  • [发明专利]测试脚本的处理方法、装置、存储介质和电子设备-CN202111342530.0在审
  • 余苏楠 - 东软集团股份有限公司
  • 2021-11-12 - 2022-02-11 - G06F8/30
  • 本公开涉及一种测试脚本的处理方法、装置、存储介质和电子设备,涉及电子信息处理技术领域,该方法包括:采集通过云测平台发出的,用于控制被测终端的行为指令、行为指令对应的指令参数,以及被测终端执行行为指令时的执行参数,指令参数包括发出行为指令的用户标识,和/或发出行为指令的时间段。根据多个行为指令以及每个行为指令对应的执行参数,确定每个行为指令对应的行为特征,以得到多组行为特征序列,每组行为特征序列包括按照时序排列,属于相同指令参数的多个行为特征,从多组行为特征序列中,确定与至少指定数量组行为特征序列匹配的目标行为特征子序列,根据目标行为特征子序列生成测试脚本。本公开能够自动生成测试脚本。
  • 测试脚本处理方法装置存储介质电子设备
  • [发明专利]基于指令码表的指令测试序列生成方法-CN202211666730.6在审
  • 刘鹏;胡文超;刘扬帆;刘恒;钱晨 - 浙江大学;合芯科技有限公司
  • 2022-12-23 - 2023-05-09 - G06F30/33
  • 本发明公开了基于指令码表的指令测试序列生成方法,根据指令集体系架构规范构建指令码表模型;根据指令码表模型构建覆盖率历史记录表;构建指令测试序列,将生成的指令测试序列中的指令分别送入待验证处理器和指令模拟器中,检查并记录每一条指令处理器执行前后的寄存器资源状态和处理器给出的异常信号,判断并修改暗指令缺陷。本发明以指令码表为基础,根据指令码表构建覆盖率历史记录表,再以覆盖率历史记录表驱动指令生成。相比于现有的指令测试序列生成方法,本发明在保证对暗指令全覆盖的同时提高对指令集架构中暗指令缺陷的检测效率。
  • 基于指令码表测试序列生成方法

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