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[发明专利]一种基于次摆线进给轨迹的硬脆材料划痕分析方法-CN201810498665.8有效
发明人：林彬;赵菲菲;隋天一;张晓峰;何远评;王安颖 -专利权人：天津大学
申请日： 2018-05-23 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G01N3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于次摆线进给轨迹的硬脆材料划痕分析方法，首先，获取带有次摆线划痕的试件；其次，在试件的轨迹线分布区内做区域划分，划分规则为“点”、“线”、“面”的平面空间几何关系；再次，依据具体实验方案并结合相应的观测设备，参照轨迹线划分规则，提取“点”、“线”、“面”关键区域与材料损伤、材料去除机理相关的实验因素表征信息；最后，综合理论力学、断裂力学等相关理论，结合次摆线划痕轨迹关键区域设备采集信息，分析实验因素与材料损伤、材料去除机理之间的相互关系。该方法是一套完整、高效、逻辑关系紧密的分析方法，因此在硬脆材料去除机理研究方面具有极大科研价值。
一种基于摆线进给轨迹材料划痕分析方法

[发明专利]表征旋转超声铣削陶瓷基复合材料纤维断裂的解析方法-CN202010518092.8有效
发明人：郑侃;薛枫;束静 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2020-06-09 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： G16C60/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种表征旋转超声铣削陶瓷基复合材料纤维断裂的解析方法。首先，定义了纤维两种不同的切削模式：纤维顺向切削和纤维逆向切削；其次，分别建立了这两种模式下的旋转超声铣削FRCMC复合材料纤维断裂应力模型，最终，通过应力模型与纤维强度校核，提出了一种判断纤维断裂机理的方法，计算出了纤维断裂模式，阐明了旋转超声去除机理。本发明重点解析了铣削过程中复合材料纤维受力断裂过程，表征了纤维断裂去除模式，阐明了超声振动对纤维去除的作用机理，证明了旋转超声铣削对纤维增强陶瓷基复合材料加工表面损伤的改善效果。
表征旋转超声铣削陶瓷复合材料纤维断裂解析方法

[发明专利]原子层蚀刻3D结构：水平和竖直表面上Si和SiGe和Ge平滑度-CN201710064610.1有效
发明人：萨曼莎·坦;杨文兵;克伦·雅各布斯·卡纳里克;索斯藤·利尔;潘阳 -专利权人：朗姆研究公司
申请日： 2017-02-04 - 公布日： 2021-01-01 - 主分类号： H01L21/3065 文献下载
摘要：本文描述了用于通过化学吸附、通过沉积或通过化学吸附和沉积机理两者与氧化物钝化结合来使用原子层蚀刻在衬底上蚀刻半导体材料的方法和装置。涉及使用化学吸附机理的原子层蚀刻的方法包括将半导体材料暴露于氯以将氯化学吸附到所述衬底表面上，以及将改性表面暴露于氩气以去除所述改性表面。涉及使用沉积机理的原子层蚀刻的方法包括将半导体材料暴露于含硫气体和氢气以沉积并由此改性衬底表面并去除改性表面。
原子蚀刻结构水平竖直表面上 si sige ge 平滑

[发明专利]一种处理地下水砷污染的方法-CN201310726402.5无效
发明人：温涛;程功弼 -专利权人：江苏盖亚环境工程有限公司
申请日： 2013-12-26 - 公布日： 2014-04-16 - 主分类号： C02F1/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种处理地下水砷污染的方法，针对国内外已成熟的水体砷去除材料，通过对水体砷去除效果比较和矿物元素分析，筛选出适合我国经济稳定高效的PRB化学材料，结合X衍射，傅里叶红外光谱和光电子能谱等现代仪器分析方法，研究金红石型和锐钛型两种晶型的纳米二氧化钛对地下水砷的去除效果、影响因子及其除砷机理。同时采取FeCl₃对金红石矿进行改性并用于水体除砷，研究铁改性金红石矿吸附砷效果、影响因子及再生实验和模拟PRB实验，探讨铁改性金红石矿除砷机理。
一种处理地下水污染方法

[发明专利]一种密封式电磁继电器失效机理判别方法-CN201910386724.7在审
发明人：郭继峰;张国强;于鸣 -专利权人：东北林业大学
申请日： 2019-05-09 - 公布日： 2019-09-17 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本实发明涉及一种密封式电磁驱动开关电器失效机理判别方法。该方法简单易行、适用范围广、成本低、准确率高、可去除电弧侵蚀等干扰因素、无需对受试电继器进行开腔处理、无需借助高倍显微镜，具体步骤如下：1.采集继电器生命周期内的六个关键性能退化参数数据，将采集到的数据矩阵作为电磁继电器失效机理判别的数据集2.采用FIR(Finite Impulse Response，FIR)高通滤波器对试验获得的数据集进行滤波处理，去除电弧侵蚀和材料转移的随机性对数据采集系统造成的干扰。3.采用贝叶斯判别法从降噪滤波后的数据集中提取出能区分继电器失效机理的最佳组合参数。4.利用随机森林算法通过最佳组合参数对继电器失效机理进行判别。
失效机理继电器电磁继电器电弧侵蚀最佳组合密封式数据集随机性开腔电磁驱动开关数据采集系统采集继电器高倍显微镜高通滤波器材料转移参数数据干扰因素滤波处理生命周期数据集中数据矩阵随机森林性能退化贝叶斯可去除准确率继器降噪滤波试电算法去除采集电器试验

[发明专利]一种航空金属材料加工过程中材料去除率的预测方法-CN202111180813.X在审
发明人：王奔;张棋;赵家兴;马书娟;庄鑫 -专利权人：沈阳航空航天大学
申请日： 2021-10-11 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提供一种航空金属材料加工过程中材料去除率的预测方法，首先求解实际加工过程中金属材料的弹塑性变形量方程并确定参数变量，然后建立待检测金属材料加工过程中的材料去除率模型，根据建立的材料去除率模型预测实际加工过程中材料的去除率；本发明考虑了材料去除机理，将几何因素与力学因素结合在一起。在考虑实际加工过程中材料发生弹塑性变形的同时，将材料自身性能、显微硬度、切削力以及刀具参数加入到模型中，建立关于材料去除率的数学模型；使得航空金属在实际加工过程中的材料去除率可以准确的预测出来，为后续的改善加工工艺提供了极大的便利
一种航空金属材料加工过程材料去除预测方法

[发明专利]一种液体磁性磨具小孔光整加工材料去除率计算方法-CN201410057401.0有效
发明人：孙桓五;周钦 -专利权人：太原理工大学
申请日： 2014-02-20 - 公布日： 2014-06-04 - 主分类号： B24B1/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种液体磁性磨具小孔光整加工材料去除率计算方法，本发明依据液体磁性磨具的磁流变特性，从微观角度阐述了液体磁性磨具研磨孔光整加工的材料去除机理；通过采用″双刃圆半径″模型作为单颗磨料粒子的切削模型研究，推导出小孔光整加工的材料去除率数学表达式并对其影响因素进行了理论分析，得出光整加工的材料去除率与磨料粒子直径的平方、液体磁性磨具的剪切应力以及流体压力成正比，与工件材料的屈服极限成反比。在一定程度范围内，增大磨料颗粒直径、入口压力以及电流强度有利于提高材料的去除效率，加工一段时间后获得的表面质量相应提高。
一种液体磁性磨具小孔加工材料去除计算方法

[发明专利]金刚石刀具预修有色金属试件的磨粒划擦快停测试方法-CN201610077823.3有效
发明人：姜峰;张涛;言兰;徐西鹏 -专利权人：华侨大学
申请日： 2016-02-04 - 公布日： 2019-01-29 - 主分类号： G01N19/06 文献下载
摘要：本发明公开了金刚石刀具预修有色金属试件的磨粒划擦快停测试方法，属于机械加工中的材料性能测试及精密与超精密加工领域，将有色金属试件固定并进行在线动平衡；采用金刚石刀具进行修盘，达到测试所需的端面跳动以及粗糙度要求顶端固接有单颗磨粒的工具头以指定切深径向进给划擦，在试件端面形成螺旋形划痕，划擦过程中工具头与试件瞬间脱离，实现单磨粒划擦过程中磨粒和试件接触状态的“冻结”，通过三维形貌测量和显微观察，可以更好的了解磨粒去除材料过程中的材料变形、已加工表面形成、界面摩擦等相关机理，进而为磨削等磨粒加工过程材料去除机理的深入研究提供手段。
一种金刚石刀具有色金属单颗磨粒划擦快停测试方法

[发明专利]球形磨头预修黑色金属试件的单颗磨粒划擦快停测试方法-CN201610077994.6有效
发明人：姜峰;张涛;言兰;徐西鹏 -专利权人：华侨大学
申请日： 2016-02-04 - 公布日： 2019-01-29 - 主分类号： G01N19/06 文献下载
摘要：本发明公开了球形磨头预修黑色金属试件的单颗磨粒划擦快停测试方法，属于机械加工中的材料性能测试及精密与超精密加工领域，将黑色金属试件固定并进行在线动平衡；然后采用球形磨头进行修盘，达到测试所需的端面跳动以及粗糙度要求顶端固接有单颗磨粒的工具头以指定切深径向进给划擦，在试件端面形成螺旋形划痕，划擦过程中工具头与试件瞬间脱离，实现单磨粒划擦过程中磨粒和试件接触状态的“冻结”，通过金相制样、三维形貌测量和显微观察，可以更好的了解磨粒去除材料过程中的材料变形、已加工表面形成、界面摩擦等相关机理，进而为磨削等磨粒加工过程材料去除机理的深入研究提供手段。
一种球形磨头预修黑色金属单颗磨粒划擦快停测试方法

[发明专利]CBN刀具预修黑色金属试件的磨粒划擦快停测试方法-CN201610077826.7有效
发明人：姜峰;张涛;言兰;徐西鹏 -专利权人：华侨大学
申请日： 2016-02-04 - 公布日： 2019-01-29 - 主分类号： G01N19/06 文献下载
摘要：本发明公开了CBN刀具预修黑色金属试件的磨粒划擦快停测试方法，属于机械加工中的材料性能测试及精密与超精密加工领域，通过将黑色金属试件固定并进行在线动平衡；然后采用CBN刀具对该试件进行修盘，达到测试所需的端面跳动以及粗糙度要求顶端固接有单颗磨粒的工具头以指定切深径向进给，在试件端面形成螺旋形划痕，划擦过程中工具头与试件瞬间脱离，实现单磨粒划擦过程中磨粒和试件接触状态的“冻结”，通过三维形貌测量和显微观察，可以更好的了解磨粒去除材料过程中的材料变形、已加工表面形成、界面摩擦等相关机理，进而为磨削等磨粒加工过程材料去除机理的深入研究提供手段。
一种 cbn 刀具黑色金属单颗磨粒划擦快停测试方法

[发明专利]互为基准法预修硬脆试件的单颗磨粒划擦快停测试方法-CN201610077974.9有效
发明人：姜峰;张涛;言兰;徐西鹏 -专利权人：华侨大学
申请日： 2016-02-04 - 公布日： 2019-01-22 - 主分类号： G01N19/06 文献下载
摘要：本发明公开了互为基准法预修硬脆试件的单颗磨粒划擦快停测试方法，属于机械加工中的材料性能测试及精密与超精密加工领域，先将硬脆试件进行背衬，采用互为基准法对该试件和背衬进行处理，达到测试所需的表面质量与平行度要求顶端固接有单颗磨粒的工具头以指定切深径向进给划擦，在试件端面形成螺旋形划痕，划擦过程中工具头与试件瞬间脱离，实现单磨粒划擦过程中磨粒和试件接触状态的“冻结”，通过三维形貌测量和显微观察，可以更好的了解磨粒去除材料过程中的材料变形、已加工表面形成、界面摩擦等相关机理，进而为磨削等磨粒加工过程材料去除机理的深入研究提供手段。
一种互为基准法预修硬脆试件单颗磨粒划擦快停测试方法

[发明专利]一种球形磨头预修硬脆试件的单颗磨粒划擦快停测试方法-CN201610078090.5有效
发明人：姜峰;张涛;言兰;徐西鹏 -专利权人：华侨大学
申请日： 2016-02-04 - 公布日： 2019-03-12 - 主分类号： G01N19/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种球形磨头预修硬脆试件的单颗磨粒划擦快停测试方法，属于机械加工中的材料性能测试及精密与超精密加工领域，将硬脆试件固定并进行在线动平衡，采用球形磨头进行修盘，达到所需的端面跳动以及粗糙度要求顶端固接有单颗磨粒的工具头以指定切深径向进给划擦，在试件端面形成螺旋形划痕，划擦过程中工具头与试件瞬间脱离，实现单磨粒划擦过程中磨粒和试件接触状态的“冻结”，通过三维形貌测量和显微观察，可以更好的了解磨粒去除材料过程中的材料变形、已加工表面形成、界面摩擦等相关机理，进而为磨削等磨粒加工过程材料去除机理的深入研究提供手段。
一种球形磨头预修硬脆试件单颗磨粒划擦快停测试方法

[发明专利]基于机器学习的吸附机理分析和吸附条件定位方法及装置-CN202211127340.1在审
发明人：吴兵;李家豪;任洪强;胡海冬;王瑾丰 -专利权人：南京大学
申请日： 2022-09-16 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01N15/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于机器学习的吸附机理分析和吸附条件定位方法，所述方法包括污染物分子指纹计算、材料特征和吸附条件特征获取，经过数据清洗建立训练数据集；进行最优算法比选，优化模型超参数，获得最优机器学习吸附模型；基于污染物分子指纹进行聚类分析，根据分类标签进行数据集拆分，实现基于构效关系的预测思路；根据训练数据中MOFs金属中心的类型划分子数据集分别训练模型，评价各类型MOFs材料在吸附过程中的关键影响因素，分析主导吸附机理；建立吸附条件库，代入模型预测相应去除率，评价不同吸附条件对吸附过程的共同影响，以去除率为标准定位特定MOFs‑污染物组合的最佳吸附条件。
基于机器学习吸附机理分析条件定位方法装置

[发明专利]一种基于离散元固液两相磨粒流抛光材料去除的数值模拟方法-CN201810570644.2在审
发明人：李俊烨;胡敬磊;周曾炜;范景峰;赵伟宏;许颖;修航;周化文 -专利权人：长春理工大学
申请日： 2018-06-07 - 公布日： 2018-11-20 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于离散元固液两相磨粒流抛光材料去除的数值模拟方法，其具体方法如下：(1)建立物理模型；(2)在CFD‑DEM耦合中设置参数；(3)在Abaqus软件中设置参数；(4)应用Abaqus软件数值模拟项；基于离散元固液两相磨粒流抛光材料去除的数值模拟结果分析包括：(1)CFD‑DEM耦合数值模拟分析结果；(2)Abaqus数值模拟分析结果；磨粒流抛光过程中磨粒与磨粒和磨粒与工件壁面的相互作用，分析磨粒对工件壁面碰撞、去毛刺和倒圆角的过程，分析单磨粒对壁面滑擦的材料去除和多磨粒对壁面碰撞的材料去除，探讨磨粒对工件内表面的磨损程度，获得了磨粒对工件壁面冲蚀的材料去除机理。
数值模拟磨粒材料去除磨粒流抛光固液两相离散元工件壁面设置参数耦合对壁材料去除机理工件内表面结果分析物理模型单磨粒倒圆角面碰撞去毛刺中磨粒面滑磨损分析应用

[发明专利]一种基于降低仿真与实验之间拟合误差的永磁小球头磁流变抛光材料去除率模型建立方法-CN202310750123.6在审
发明人：刘赫男;田金川;陈明君;程健;吴春亚 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2023-06-25 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G06F30/23 文献下载
摘要：本发明一种基于降低仿真与实验之间拟合误差的永磁小球头磁流变抛光材料去除率模型建立方法，涉及超精密加工技术领域，为解决现有技术针对永磁小球头磁流变抛光方法的材料去除机理未完全揭示，材料去除率模型难以准确建立的问题采用有限元仿真建立永磁小球头磁流变抛光区域的加工模型，获取不同模型参数组合下的仿真抛光凹坑轮廓及轮廓参数；S3、计算各组模型参数下仿真抛光凹坑与实际抛光凹坑之间的拟合误差；S4、以拟合误差最小为优化目标获取模型的最优参数值，建立永磁小球头磁流变抛光材料去除率模型本发明方法能够确保材料去除率模型的可信性与准确性。
一种基于降低仿真实验之间拟合误差永磁小球流变抛光材料去除模型建立方法

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