“晶振频率”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果685267个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]基于晶振频差的可调脉宽皮秒级高频脉冲发生器-CN202210168813.6有效
发明人：李苏;李鲁亚;黄宝忠;李慧;孙兴健 -专利权人：美核电气（济南）股份有限公司
申请日： 2022-02-24 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： H03K5/26 文献下载
摘要：本发明公开一种基于晶振频差的可调脉宽皮秒级高频脉冲发生器，涉及数字信息传输与信号传输技术领域，包括：第一晶振模块和第二晶振模块分别产生不同频率的第一晶振频率和第二晶振频率；脉冲触发模块接收第一晶振频率和第二晶振频率，用于根据第一晶振频率和第二晶振频率的晶振频差产生脉冲信号；时钟同步比较模块接收第一晶振频率和第二晶振频率，用于根据第一晶振频率和第二晶振频率得到频率比较结果；控制模块接收频率比较结果，用于根据频率比较结果控制第一晶振模块或第二晶振模块按设定工作状态调节产生的晶振频率，且根据晶振频差和所需脉宽在脉冲信号中选择所需的脉冲信号。自动调节晶振模块输出的晶振频率；脉冲宽度可灵活选择。
基于晶振频差可调脉宽皮秒级高频脉冲发生器

[发明专利]一种调整芯片晶振频率的方法及装置-CN202210339994.4在审
发明人：李金秀;肖勇 -专利权人：硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司
申请日： 2022-04-01 - 公布日： 2022-06-21 - 主分类号： H03L1/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种调整芯片晶振频率的方法及装置。该发明包括：确定目标芯片的异常晶振频率点，并确定异常晶振频率点对应的异常晶振频率；确定目标芯片对应的最低温度晶振频率、目标芯片对应的最高温度晶振频率以及目标芯片对应的晶振频率漂移值；依据异常晶振频率、最低温度晶振频率以及晶振频率漂移值，确定目标芯片是否处于待调整状态；在目标芯片处于待调整状态的情况下，确定晶振的调整步长；依据调整步长对异常晶振频率点的晶振频率进行调整。通过本发明，解决了相关技术中防止芯片内部频率的漂移采用的技术手段引起芯片制造成本增加的问题。
一种调整芯片频率方法装置

[实用新型]一种兼容无源晶振和有源晶振的一分三晶振电路-CN201821066549.0有效
发明人：张治宇;钟景维;石庆;马保军;张铁军;郑科;张龙;张思平 -专利权人：深圳市亿道数码技术有限公司
申请日： 2018-07-05 - 公布日： 2019-04-02 - 主分类号： H03B5/02 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种兼容无源晶振和有源晶振的一分三晶振电路，其包括供电输入端、双非门电路、无源晶振电路、有源晶振电路、CPU模块频率输出端、PMU模块频率输出端、WCN模块频率输出端；供电输入端与有源晶振电路的电源输入端、双非门电路的电源输入端连接；有源晶振电路与无源晶振电路连接，无源晶振电路、有源晶振电路与双非门电路连接；双非门电路、有源晶振电路的输出端分别与CPU模块频率输出端、PMU模块频率输出端、WCN模块频率输出端连接采用本实用新型的晶振电路，可根据需求选择无源晶振或有源晶振由一路分三路输出晶振频率给三路模块工作。
晶振电路无源晶振非门电路模块频率输出端晶振本实用新型电源输入端供电输入端频率输出三路电路兼容输出端连接电路连接晶振频率需求选择输出

[发明专利]调整时钟晶振的频率的方法及装置、晶振模块、芯片-CN201110369351.6无效
发明人：张华龙;叶媲舟 -专利权人：深圳芯邦科技股份有限公司
申请日： 2011-11-18 - 公布日： 2012-06-20 - 主分类号： H03L7/06 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种调整时钟晶振的频率的方法及装置、晶振模块、芯片，用于对芯片内的时钟晶振的频率进行调整。本发明实施例方法包括：芯片上电后，获取芯片中的晶振模块的时钟晶振当前的频率；判断时钟晶振当前的频率与预置的目标频率之间的差值是否在预置的可调范围内；若是，则将时钟晶振的频率调整为预置的目标频率。本发明实施例中还公开了与方法对应的装置、及晶振模块、芯片，能够有效的满足芯片对时钟晶振的频率的需求，提高芯片的良品率和系统。
调整时钟频率方法装置模块芯片

[发明专利]一种新型恒温晶振的调试和起振电路-CN202110076601.0在审
发明人：陈功;刘搏 -专利权人：深圳市金科泰通信设备有限公司
申请日： 2021-01-20 - 公布日： 2021-05-25 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请涉及恒温晶振的领域，尤其是涉及一种新型恒温晶振的调试和起振电路，其包括单片机、与单片机电连接的数字调整电路，数字调整电路用于调试恒温晶振的拐点和频率数值；数字调整电路连接有用于调整恒温晶振拐点的运放控温电路和用于调整恒温晶振频率的频率调整电路，运放控温电路和频率调整电路均与恒温晶振相连；恒温晶振连接有用于检测恒温晶振输出频率的频率检测设备，频率检测设备与单片机相连。本申请具有可以提高恒温晶振调试精度的效果。
一种新型恒温调试电路

[实用新型]一种新型恒温晶振的调试和起振电路-CN202120157889.X有效
发明人：陈功;刘传瑞 -专利权人：深圳市金科泰通信设备有限公司
申请日： 2021-01-20 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请涉及恒温晶振的领域，尤其是涉及一种新型恒温晶振的调试和起振电路，其包括单片机、与单片机电连接的数字调整电路，数字调整电路用于调试恒温晶振的拐点和频率数值；数字调整电路连接有用于调整恒温晶振拐点的运放控温电路和用于调整恒温晶振频率的频率调整电路，运放控温电路和频率调整电路均与恒温晶振相连；恒温晶振连接有用于检测恒温晶振输出频率的频率检测设备，频率检测设备与单片机相连。本申请具有可以提高恒温晶振调试精度的效果。
一种新型恒温调试电路

[发明专利]一种可频率校准的温补晶振测试方法、电路及系统-CN202211734403.X在审
发明人：邓宏民;许家群;彭英铭 -专利权人：广东惠伦晶体科技股份有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01R23/02 文献下载
摘要：本发明属于晶体振荡器技术领域，尤其涉及一种可频率校准的温补晶振测试方法、电路及系统，包括：测试板模块，所述测试板模块用于连接待测试温补晶振，读取待测试温补晶振的频率信号；温度补偿参数计算模块，所述温度补偿参数计算模块用于根据读取的温补晶振的频率信号，计算温补晶振的偏移频率，判断该温补晶振的偏移频率是否处于预设偏移频率的范围内，若是，则不需要频率校准；若否，则返还温度补偿参数值，重新计算待测试温补晶振的频率信号；对温补晶振的频率进行校准处理，从而将该修正后的温度补偿参数重写写入至温补晶振的芯片内，有效防止温补晶振在回流焊工序后出现频率漂移无法处理的现象，提高温补晶振产品的生产良率。
一种频率校准温补晶振测试方法电路系统

[发明专利]一种识别晶振激发性跳变的频率/温度特性测试方法及系统-CN202210762101.7在审
发明人：田永盛;周业华 -专利权人：深圳市北测检测技术有限公司
申请日： 2022-06-29 - 公布日： 2022-10-14 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种识别晶振激发性跳变的频率/温度特性测试方法及系统，涉及晶振测试技术领域，该方法包括以下的步骤：S1、启动晶振测量模块，晶振测量模块按时间读取并记录被测晶振的频率数据和温度数据；S2、在温箱降温至被测晶振规定的最低温度时，从晶振测量模块读取并记录频率数据和温度数据；当温箱达到设定温度并持续了设定时间后，停止从晶振测量模块读取并记录频率数据和温度数据；S3、将晶振测量模块记录到的频率数据作为频率/温度特性测试的基准频率值；S4、将所有晶振测量模块记录到的频率数据与所述基准频率值进行比较，计算出每一个频率数据相对于所述基准频率值的偏差值，输出频率/温度曲线。
一种识别激发性跳变频率温度特性测试方法系统

[发明专利]降低窄带系统晶振温漂影响的方法、终端及介质-CN202210406836.6在审
发明人：林旭 -专利权人：芯翼信息科技（上海）有限公司;芯翼信息科技（南京）有限公司
申请日： 2022-04-18 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： H04W56/00 文献下载
摘要：本申请实施例涉及物联网系统技术领域，公开了一种降低窄带系统晶振温漂影响的方法、终端及介质。上述降低窄带系统晶振温漂影响的方法包括以下步骤：基于晶振温漂特性函数，获取第一晶振频率、第二晶振频率、第三晶振频率；获取第一计数值、第二计数值；基于第一晶振频率、第一计数值、第二计数值，获取第一时长；基于窄带系统降温特性函数，获取第二时长；获取第三时长；以第二时长和第三时长为权重，对第二晶振频率和第三晶振频率进行加权平均，获取等效晶振频率；基于等效晶振频率，对本地时钟进行补偿。本申请实施例提供的降低窄带系统晶振温漂影响的方法，能够减小窄带系统在省电模式期间本地时钟的时域偏差。
降低窄带系统晶振温漂影响方法终端介质

[发明专利]5G标准源高频晶振电路-CN201811332643.0在审
发明人：陈功 -专利权人：深圳市金科泰通信设备有限公司
申请日： 2018-11-09 - 公布日： 2019-03-15 - 主分类号： H03B5/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种5G标准源高频晶振电路，属于标准源晶振领域，其包括晶振控制电路，晶振控制电路包括低频晶振单元、高频晶振单元和协调控制单元，低频晶振单元向协调控制单元输出时钟频率Vout1，高频晶振单元向协调控制单元输出时钟频率Vout2，协调控制单元根据时钟频率Vout1和时钟频率Vout2生成控制信号PWM并传输给高频晶振单元，高频晶振单元根据接收到的控制信号PWM调整并向外界输出时钟频率Vout2，本发明具有在输出较高频的时钟频率时，也能够长时间保证时钟频率稳定的效果。
高频晶振时钟频率协调控制输出时钟频率标准源晶振低频晶振控制电路电路生成控制信号控制信号传输输出保证

[发明专利]一种压控晶振频率测试系统及方案-CN202011352732.9在审
发明人：唐立 -专利权人：成都恒晶科技有限公司
申请日： 2020-11-26 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： G01R23/06 文献下载
摘要：本发明一种压控晶振频率测试系统，包括测试板本体，测试板本体上分别设置有待测试压控晶振频率、标志频率源，待测试压控晶振频率、标志频率源通过锁相环进行锁相，锁相环输出符合要求频率及压控范围符合要求的压控晶振，锁相环能正常锁定，否则不能锁定，根据锁相环路输出锁相结果，完成压控晶振测试，测试板上采用多个锁相环，同时进行多路压控晶振测试，本发明可以同时进行多路压控晶振频率测试，可以提供压控晶振测试效率，降低测试成本
一种压控晶振频率测试系统方案

[发明专利]带自检功能的低功耗晶振驱动电路-CN202310314774.0在审
发明人：孙洋 -专利权人：无锡矽杰微电子有限公司
申请日： 2023-03-28 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： H03H9/17 文献下载
摘要：本申请公开一种带自检功能的低功耗晶振驱动电路，涉及电路领域，晶振电路包括可变增益驱动模块、整形模块、和频率自检模块；可变增益驱动模块的OSCI及OSCO端与晶振模块并联，用于控制晶振模块起振，以及根据频率自检模块的增益反馈信号调节驱动增益；整形模块并联在OSCI和OSCO端，用于将OSCI和OSCO信号转换为方波信号；频率自检模块与整形模块的输出端连接，用于方波信号的频率进行检测，根据实测频率输出晶振的状态信号，以及更新增益反馈信号。该方案能够实时检测晶振的工作频率，并根据检测的频率大小及时生成增益反馈信号来改变晶振的驱动电流，不仅可以缩短晶振启动时间，还能在晶振稳定后减小增益，降低系统损耗。
自检功能功耗驱动电路

[发明专利]物质检测系统及物质检测方法-CN201780069423.0有效
发明人：茎田启行;若松俊一;塩原毅;石川贵之;宫崎英治;土屋佑太 -专利权人：日本电波工业株式会社;国立研究开发法人宇宙航空研究开发机构
申请日： 2017-07-05 - 公布日： 2021-12-28 - 主分类号： G01N5/04 文献下载
摘要：物质检测系统具有：参考晶振及检测用晶振，形成于单一的晶体基板；振荡电路模块，使参考晶振及检测用晶振以基波频率及三次谐波频率依次振荡；温度确定部，基于参考晶振及检测用晶振的至少任一个的基波频率相对于既定的基准基波频率的偏差、与三次谐波频率相对于既定的基准三次谐波频率的偏差之差值，来确定晶体基板的表面温度；以及物质确定部，基于频率测定部所测定的参考晶振的基波频率与检测用晶振的基波频率之差、和温度确定部所确定的温度，来确定附着于检测用晶振的污染物质从检测用晶振脱离的温度
物质检测系统方法

[发明专利]晶振初始频率调整方法和装置以及时钟同步系统-CN201810143273.X有效
发明人：王瑞伟;方绍湖;潘文辉;黄金伙 -专利权人：京信网络系统股份有限公司
申请日： 2018-02-11 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： H04L7/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种晶振初始频率调整方法和装置以及时钟同步系统，其中方法包括：在晶振起振的初始阶段，读取驯服值集合内的多个驯服值，其中，所述驯服值为对时钟同步模块输出的压控值进行训练获取的驯服值，根据读取的所述多个驯服值计算所述晶振起振的初始压控值，将所述初始压控值输出至所述晶振，触发所述晶振按照所述初始压控值振荡。上述晶振初始频率调整方法，能够实现晶振起振的初始压控值基于驯服值进行实时更新调整，触发晶振按照初始压控值开始振荡输出初始频率，实现对晶振的初始频率的及时校准，降低晶振的初始输出频率误差，提升晶振初始输出频率的稳定性和准确性
初始频率调整方法装置以及时钟同步系统

[发明专利]一种晶振频率跳变的检测方法-CN201310005682.0无效
发明人：储文淼;汪春晖;赵富;赵旺;魏鹏 -专利权人：河北远东通信系统工程有限公司
申请日： 2013-01-08 - 公布日： 2013-05-15 - 主分类号： G01R23/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶振频率跳变的检测方法，包括步骤：S1.将晶振在温度控制箱中冷却至低温；S2.在室温下，测试晶振由低温逐渐升温至室温的频率输出曲线，利用拟合软件判断晶振是否存在频率跳变；S3.利用加热器将晶振快速加热至其最高工作温度，测试晶振由室温至高温段的频率输出曲线，判断晶振的频率输出是否存在跳变现象。本发明具有操作简单、检测速度快、判定准确可靠、检测效率高等特点，特别适用于晶振大批量生产过程中对晶振频率跳变相关性能的检测。
一种频率检测方法

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条