专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]时间测量电路、时间测量芯片及时间测量装置-CN201911139208.0有效
  • 王鸿儒 - 圣邦微电子(北京)股份有限公司
  • 2019-11-20 - 2022-08-19 - G04F10/00
  • 本发明公开了一种时间测量电路、时间测量芯片及时间测量装置,时间测量电路包括:参考电压产生模块,用于产生第一参考电压和第二参考电压;测试信号产生模块,用于根据输入输出信号和第一参考电压输出开始信号和停止信号的其中之一;时间测量模块,用于根据所述第二参考电压、所述开始信号/停止信号以及所述使能控制信号输出第一时间测量值和第二时间测量值,其中,所述第一时间测量值和所述第二时间测量值的差值为目标时间值。可以测量测试用电信号经过待测器件所需时间测量精度高。
  • 时间测量电路芯片装置
  • [发明专利]时间测量电路、时间测量方法、时间测量芯片、时间测量模组和电子设备-CN202210497618.8在审
  • 王方波 - 深圳阜时科技有限公司
  • 2022-05-09 - 2022-07-22 - G04F10/00
  • 本申请公开了一种时间测量电路、时间测量方法、时间测量芯片、时间测量模组和电子设备,涉及时间测量和深度测量技术领域。本申请的时间测量电路包括:信号选择输出模块,用于接收第一信号、第二信号和参考时钟信号,并选择输出的测量信号,其中,所述测量信号为所述第一信号、所述第二信号、所述参考时钟信号以及调整后的参考时钟信号中的一种;时间测量模块,用于校准时间测量精度及测量所述第一信号和所述第二信号之间的时间间隔。本申请还提供基于上述时间测量电路的时间测量方法、时间测量芯片、时间测量模组以及电子设备。本申请在时钟频率提升空间有限的条件下,可以快速实现皮秒级别以内的高精度时间测量
  • 时间测量电路测量方法芯片模组电子设备
  • [发明专利]时间测量装置和时间测量方法-CN202211700638.7在审
  • 盛廷义 - 杭州脑芯科技有限公司
  • 2022-12-28 - 2023-04-18 - G04F10/00
  • 本发明公开了一种时间测量装置和时间测量方法,该时间测量装置包括:延迟模块,其用于基于输入的参考时间信号和待测时间信号进行延迟操作,以对应生成参考延迟信号和待测延迟信号;触发单元,其用于基于所述参考延迟信号和所述待测延迟信号其用于对所述参考电平信号和所述待测电平信号分别进行电平统计,以得到参考电平统计结果和待测电平统计结果;以及运算单元,其用于对所述参考电平统计结果和所述待测电平统计结果进行运算,以便根据运算结果确定待测时间时长根据本发明实施例的时间测量装置能够获得准确度较高的时间测量结果。
  • 时间测量装置测量方法
  • [发明专利]时间测量系统及时间测量方法-CN201110085417.9有效
  • 王培林;魏书军;李道武;帅磊;丰宝桐;胡婷婷;孙芸华;魏龙 - 中国科学院高能物理研究所
  • 2011-04-06 - 2012-10-17 - G04F10/00
  • 本申请涉及一种时间测量系统,包括:起始信号精细时间测量单元,包括延迟链、多个寄存器及数据转换器,延迟链的一端接收起始信号,使接收到起始信号的延迟单元的输出依次变为第二电平,各寄存器在输入起始信号后的第一个时钟上升沿时读取并保存对应的延迟单元的输出值,数据转换器将保存的数据转换为时间数据以获取起始信号精细时间;定时信号精细时间测量单元,用以获取定时信号精细时间,工作原理与起始信号精细时间测量单元类似;粗时间测量单元,在FPGA时钟信号的驱动下测量时间;以及时间计算单元,将粗时间和起始信号精细时间之和减去定时信号精细时间以获取待测时间。本发明提升了时间测量的精确性和实用性。
  • 时间测量系统测量方法
  • [实用新型]时钟测量-CN201420232189.2有效
  • 仇育育;张伟慧 - 宁波石门伟业汽车材料有限公司
  • 2014-05-08 - 2014-09-17 - G04G21/02
  • 本实用新型公开了一种时钟测量器,其包括:显示框装置,所述显示框装置用于显示时间测量结果;齿轮模组,所述齿轮模组由数个齿轮所构成,所述齿轮模组一端结合一卷尺测量装置,另一端结合一轮胎主体;时钟功能控制钮,所述时钟功能控制钮连结于齿轮模组,并用于调整时间测量功能控制钮,所述测量功能控制钮连结于齿轮模组,并用于测量距离;按压播报器,通过按压播报器的按压即可播报正确的时间测量数据;遥控装置,遥控装置用于控制时钟测量
  • 时钟测量器
  • [发明专利]时间测量装置、荧光寿命测量装置及时间测量方法-CN202180046534.6在审
  • 新仓史智 - 浜松光子学株式会社
  • 2021-05-13 - 2023-03-03 - G01N21/64
  • 本发明的时间测量装置(10)具备:TAC电路(12);测量用闸极(11),其设置于检测器(4)及TAC电路(12)之间,设为使检测信号向TAC电路(12)方向通过的第1状态、或不使检测信号向TAC电路(12)方向通过的第2状态;控制部(14),其作为将测量用闸极(11)设为第2状态的时间即闸极死区时间设定于测量用闸极(11)的设定部发挥功能;及控制部(14),其作为基于从TAC电路(12)输出的测量信号而导出并输出与检测信号相关的时间信息的导出部发挥功能,作为设定部发挥功能的控制部(14)将检测器4中检测的荧光的重复周期的整数倍的时间,即,比TAC电路(12)本身的死区时间更长的时间,作为闸极死区时间设定于测量用闸极(11)。
  • 时间测量装置荧光寿命测量方法
  • [发明专利]时间测量器件和时间测量单元-CN201880006334.6有效
  • 长谷川浩一 - 索尼半导体解决方案公司
  • 2018-09-10 - 2020-12-18 - G01S7/4861
  • 本发明的目的是提供能够促进布局的时间测量器件。本发明的时间测量器件(20)包括:多个像素(30),其在第一方向上并排设置,每个像素包括布置在第一半导体基板上的单光子雪崩二极管(SPAD),并根据单光子雪崩二极管(SPAD)中的检出时刻产生第一逻辑信号(S35);以及时间测量部(24),其布置在与第一半导体基板结合的第二半导体基板上并测量多个像素(30)中的每个像素的检出时刻。多个像素(30)之中的除在第一方向上布置在一端处的第一像素之外的每个像素基于除该像素之外的一个像素的输出信号并基于该像素生成的第一逻辑信号(S35)来生成输出信号.时间测量单元(24)基于多个像素(30本发明的时间测量器件(20)可以例如应用到距离测量器件。
  • 时间测量器件单元

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