专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]测试电路系统-CN200910178653.8无效
  • 宋海镇;朱镇太 - 三星电子株式会社
  • 2006-02-05 - 2010-04-14 - G01R31/28
  • 本发明提供了一种测试电路以及系统。所述测试电路包括:输入/输出引脚,用于接收测试数据;延迟复位信号生成器,用于延迟复位信号;计数器,用于响应于所述复位信号而对时钟信号计数以生成计数值;模式寄存器,用于存储所述测试数据;以及解码器,用于生成到所述模式寄存器的选择信号,以指定在所述模式寄存器中写入测试数据的位置。
  • 测试电路系统
  • [发明专利]一种多核处理器的测试电路及其可测试性设计方法-CN200710304267.X有效
  • 李佳;胡瑜;李晓维 - 中国科学院计算技术研究所
  • 2007-12-26 - 2008-05-21 - G01R31/3185
  • 本发明提供一种多核处理器的测试电路及其可测试性设计方法,其中测试电路包括:测试外壳寄存器链、待测芯核连接电路数据通路连接电路以及控制逻辑电路;所述待测芯核连接电路是连接在所述测试外壳寄存器链与待测芯核之间的互连电路,所述数据通路连接电路是连接在所述测试外壳寄存器链与数据通路之间的互连电路;所述控制逻辑电路控制所述待测芯核连接电路数据通路连接电路中的数据流向。本发明根据多核处理器的特点进行了优化设计,充分利用了数据通路的带宽,降低了测试成本,减少了数据通路中传输数据包的数目,所以大大降低了大量活跃数据包导致的额外功耗开销,并且大大缩短了测试时间。
  • 一种多核处理器测试电路及其设计方法
  • [发明专利]一种防止SOC芯片测试模式反向激活的方法及装置-CN201510553156.7在审
  • 滕虓宇;马文波;张昊;张君劢 - 北京华大信安科技有限公司
  • 2015-09-01 - 2016-01-13 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种防止SOC芯片测试模式反向激活的方法及装置,用于对晶圆的芯片进行测试,所述晶圆设置有若干个芯片,且相邻的芯片之间设置有划片槽。所述方法包括:将与所述晶圆的目标芯片相连接的测试电路设置在所述晶圆上划片槽内;在对所述晶圆进行圆测试时,利用测试电路对所述目标芯片进行测试;当利用测试电路对所述目标芯片完成测试时,将所述晶圆的划片槽切开,使得所述测试电路损毁和/或与所述目标芯片脱离。由于测试电路的损毁和/或脱离使得测试电路不能产生测试使能信号,缺少必要的激活条件,不能被反向激活,从根本消除了SOC芯片测试模式被重激活的可能,进一步提高了SOC芯片的安全性。
  • 一种防止soc芯片测试模式反向激活方法装置
  • [发明专利]集成电路系统核间连线故障的测试系统和方法-CN201010023116.9有效
  • 李娇;张金艺;杨晓冬;蔡万林;施慧;张冬;黄徐辉;翁寒一;丁梦玲 - 上海大学
  • 2010-01-21 - 2010-12-22 - G01R31/02
  • 本发明涉及一种集成电路系统核间连线故障的测试系统和方法。本系统包含有为完善集成电路系统中IP核间连线故障测试和IP核内故障测试而增加的电路结构和基于此电路结构运行的测试寻访机制。本发明能够对集成电路系统的IP核间连线进行测试测试覆盖的故障类型包括:固零故障、固一故障、开路故障、短路故障、延迟故障和噪声故障;通过添加硬件结构分解边缘封装单元扫描链以实现并行测试总线的充分利用和测试时间的缩短;通过输出型边缘封装单元自动生成测试矢量,通过输入型边缘封装单元捕获测试响应,进一步缩短测试时间;本结构与核内测试结构兼容,实现了较高的灵活性以及测试资源的充分利用,使整个集成电路系统的故障覆盖率进一步提高本发明电路结构简单、测试寻访机制简捷,适用于各种使用IP复用技术设计构建的集成电路系统。
  • 集成电路系统连线故障测试方法
  • [实用新型]一种便于测试生产的锅仔结构-CN201620861682.X有效
  • 吴俊 - 深圳市创荣发电子有限公司
  • 2016-08-10 - 2017-04-26 - H01H13/48
  • 本实用新型涉及电路板的测试领域,特别涉及一种便于测试生产的锅仔结构。该便于测试生产的锅仔结构,包括锅仔和PCB板,所述锅仔和PCB板连接,所述PCB板设有控制电路,所述锅仔与在控制电路的连接处开设有测试孔,所述测试孔位于控制电路的主路上。本实用新型在锅仔增加测试点避空孔位,使PCB测试点裸露出来,以便在做测试夹具时在此处下测试针,通过按按钮开关代替按锅仔实现PCB板性能测试。通过对锅仔改善,在测试时用按按钮开关代替按锅仔弹片,提高了按按键的效率,避免了按锅仔按不到,不容易按的现象,实现标准化作业,提升生产效率。
  • 一种便于测试生产锅仔片结构
  • [发明专利]基于动态输入向量的SET脉冲测试方法-CN201610124947.2有效
  • 梁斌;池雅庆;刘尧;向文超;陈建军;胡春媚 - 中国人民解放军国防科学技术大学
  • 2016-03-06 - 2018-01-12 - H03K5/19
  • 本发明公开了基于动态输入向量的SET脉冲测试方法,目的是提供一种与电路实际工作环境更为接近的SET脉冲测试方法。技术方案是1.设计基于动态输入向量的SET脉冲测试电路;2.对基于动态输入向量的SET脉冲测试电路上电,在反相器链的输入端加载一个动态输入向量;3.将基于动态输入向量的SET脉冲测试电路置于粒子辐射环境中,测试SET脉冲,最终在外部主机端口得到动态输入向量下电路产生的SET脉冲。本发明相比于现有片SET脉冲测试方法,测得的SET脉冲个数、每个SET脉冲的宽度以及SET脉冲的平均宽度等与电路在实际工作过程中受到单粒子轰击时所产生的SET脉冲更为接近,从而使得测试结果更具指导意义,降低集成电路软错误率分析的难度。
  • 基于动态输入向量set脉冲测试方法
  • [发明专利]系统中高速超宽总线故障测试系统和方法-CN201110142785.2有效
  • 张金艺;丁梦玲;李娇;段苏阳;吴玉见;王春华 - 上海大学
  • 2011-05-31 - 2012-01-18 - G01R31/3177
  • 本发明涉及一种系统中高速超宽总线故障测试系统和方法。它包含有为完善系统可测试性而增加的电路和基于此电路运行的测试流程,其电路由一个测试访问通道组、六条测试链路和一组高速超宽总线测试控制线组成;其测试流程由单向型高速超宽总线测试流程和双向型高速超宽总线测试流程组成采用本发明,能够对系统中的高速超宽总线实现全面的测试访问,完成高速超宽总线上信号完整性故障和固定逻辑值故障的测试,并且能够保证各条总线在测试过程中的相互隔离和有效控制。本发明电路结构简单、测试流程简捷,适用于系统中各种类型的高速超宽总线。
  • 系统高速总线故障测试方法

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