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[发明专利]离子反射镜-CN202310369716.8在审
发明人： D·格林菲尔德;H·斯图尔特;C·霍克;A·瓦格纳;W·布拉舒恩;A·马卡洛夫 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2023-04-07 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：本公开提供了一种用于飞行时间质谱仪(ToF)的离子反射镜。该离子反射镜沿漂移方向(z)从第一端伸长到第二端，并且被配置为在与漂移方向正交的反射方向(y)上反射离子。该离子反射镜包括多个伸长的反射镜电极和至少一个边缘场校正(FFC)组件。该伸长的反射镜电极中的每个伸长的反射镜电极在漂移方向上延伸。该多个伸长的反射镜电极中的每个伸长的反射镜电极被配置为接收相应反射镜电极电压，以便提供离子反射镜的静电场。至少一个FFC组件设置在离子反射镜的第一端和/或第二端处。FFC组件包括多个电极，该多个电极在与漂移方向正交的平面中延伸，每个电极被配置为接收相应的FFC电压。FFC组件被配置为当用FFC电压偏压时抑制离子反射镜的静电场的边缘扰动。
离子反射

[发明专利]飞行时间质谱分析-CN202310310353.0在审
发明人： B·哈格多恩;D·格林菲尔德;A·迪维维蒂;H·斯图尔特 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2023-03-28 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：一种分析由离子分析仪生成的数据的方法，包括(i)接收由离子分析仪生成的数据片段，其中该数据片段包括与第一到达时间范围相关联的数据，以及(ii)对该数据片段应用滤波器，以产生该数据片段的经滤波版本。与该滤波器相关联的宽度被配置为取决于该离子分析仪针对该第一到达时间范围内的到达时间的预期离子到达时间分布的宽度。该方法还包括(iii)标识该数据片段的该经滤波版本中的一个或多个离子峰；并且然后(iv)确定该一个或多个所标识的离子峰中的每个离子峰的一个或多个特性。
飞行时间谱分析

[发明专利]同位素质谱法-CN201980054472.6有效
发明人： J·M·埃勒;S·C·牛鲍威;M·J·斯威多斯基;J·戈利普-拉明 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司;加利福尼亚技术学院
申请日： 2019-08-13 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：提供了一种用于确定分子的同位素概况的方法。所述同位素概况指示所述分子的同位素含量。所述方法包含在质量窗口中对所述分子的离子进行质量选择，所述质量窗口不包括单同位素分子离子的质量，且包括所述单同位素分子离子的至少一个同位素变体的质量。所述方法包含将质量选择的离子片段化成片段离子，对一个或多个所述片段离子执行质量分析以产生质谱，以及确定所述分子的同位素概况，所述同位素概况包含至少一个数据值。根据所述质谱中多个峰的强度来计算片段离子的每个数据值。提供了一种计算机程序。提供了一种质谱系统。提供了一种用于鉴别样品的方法。
同位素质

[发明专利]高分辨率多反射飞行时间质量分析仪-CN202310239970.6在审
发明人： H·斯图尔特;D·格林菲尔德;B·哈格多恩;R·奥斯特曼恩 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2023-03-06 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：提供操作多反射飞行时间质量分析仪的方法，分析仪包括：在方向X上隔开且相对的离子镜，每个镜沿方向Y伸长，方向Y与方向X正交；将离子注入镜之间的空间的离子注入器；检测离子的检测器；接近第一端部的偏转器。方法包括：将离子注入镜之间的空间，离子完成第一循环，其中，离子沿Z字形离子路径，同时：从偏转器沿方向Y朝第二端部漂移，接近第二端部反转漂移方向速度，以及沿方向Y漂移到偏转器；使用偏转器来反转离子的漂移方向速度，使离子完成另外的循环，其中，离子沿Z字形离子路径，同时：从偏转器沿方向Y朝第二端部漂移，接近第二端部反转漂移方向速度，沿方向Y漂移到偏转器；重复以上步骤一次或多次；使离子从偏转器行进到检测器。
高分辨率反射飞行时间质量分析

[发明专利]循环离子分析仪谱的消歧-CN202310210632.X在审
发明人： H·斯图尔特;D·格林菲尔德;B·哈格多恩;R·奥斯特曼恩 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2023-03-06 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：提供操作分析仪器的方法，分析仪器包括离子分析仪，确定离子沿离子路径的漂移时间，离子路径包括第一区段和循环区段，离子路径使离子单次穿越第一区段并一次或多次穿越循环区段。方法包括：在第一模式中：沿第一区段提供第一电位，沿循环区段提供第二电位，第一区段具有第一路径长度，循环区段具有第二路径长度，通过确定漂移时间来分析离子以获得第一组离子数据；通过改变第一电位、第二电位、第一路径长度和第二路径长度中的至少一者在第二模式中操作，通过确定漂移时间来分析离子以获得第二组离子数据；比较第一和第二组离子数据，标识第一组离子数据中的第一离子峰，基于比较确定离子的穿越次数；使用穿越次数确定离子的物理化学性质。
循环离子分析

[发明专利]改进的向离子存储设备中注入离子-CN202010379632.9有效
发明人： H·斯图尔特;A·马卡洛夫;C·霍克 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2020-05-07 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： H01J49/42 文献下载
摘要：一种将离子注入离子存储设备的方法，包含：在离子存储设备中提供RF俘获场，通过将一个或多个RF电压施加于一个或多个俘获电极来界定离子存储设备中的俘获体积；向俘获体积中提供气体；通过位于离子存储设备的第一端的端电极中的孔将离子注入俘获体积，端电极具有施加于其上的DC电压；在离子存储设备的与第一端相对的第二端处反射所注入的离子从而使离子返回到第一端；以及在通过孔注入离子与离子返回到第一端之间的时间段内，使施加于端电极的DC电压逐渐变化，使得当离子第一次返回到第一端时，由逐渐变化的DC电压建立势垒，以防止返回离子撞击端电极。
改进离子存储设备注入

[发明专利]补偿离子束波动的质谱仪-CN201911280923.6有效
发明人： J·施韦特斯 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2019-12-12 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： H01J49/02 文献下载
摘要：一种质谱仪，包括：接口，所述接口用于从离子源接收离子束；质量分析器单元，所述质量分析器单元用于在两个或更多个时间段中从接收到的离子束中选择具有不同质荷比范围的离子；第一检测单元，所述第一检测单元用于在所述时间段中的每个时间段中检测选定范围内的离子，并产生表示具有相应质荷比的所检测离子的数量的第一检测信号；以及第二检测单元，所述第二检测单元布置在所述接口与所述质量分析器单元之间以产生表示从所述离子源接收到的所述离子束的作为时间的函数的总强度的第二检测信号。所述质谱仪进一步包括处理单元，所述处理单元用于使用所述第二检测信号对所述第一检测信号进行归一化，所述处理单元可以输出经过归一化的第一检测信号的比率。
补偿离子束波动质谱仪

[发明专利]多反射质谱仪-CN201911342609.6有效
发明人： H·斯图尔特;D·格林菲尔德;A·马卡洛夫 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2019-12-20 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：一种多反射质谱仪，其包括：两个离子镜，所述两个离子镜在方向X上彼此隔开并相对，每个离子镜大体上沿漂移方向Y伸长，所述漂移方向Y与所述方向X正交；脉冲离子注入器，所述脉冲离子注入器用于将离子脉冲注入到所述离子镜之间的空间中，所述离子以与所述X方向成非零倾角进入所述空间，所述离子由此形成沿着之字形离子路径的离子束，所述离子束在所述方向X上在所述离子镜之间具有N次反射，同时沿所述漂移方向Y漂移；检测器，所述检测器用于在完成所述离子镜之间的相同数量N次反射之后检测离子；以及离子聚焦布置，所述离子聚焦布置至少部分地定位在相对的离子镜之间，并且被配置成在所述漂移方向Y上提供对所述离子束的聚焦，以使所述离子束在所述漂移方向Y上的空间展度在次数介于0.25N与0.75N之间的反射时或反射后立即通过单个最小值，其中所有检测到的离子均是在完成所述离子镜之间的相同数量N次反射之后检测到的。
反射质谱仪

[发明专利]具有改进的四极杆鲁棒性的质谱仪-CN202010264259.2有效
发明人： A·C·彼德森;J-P·豪斯切德;O·兰格;A·马卡洛夫 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2020-04-07 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： H01J49/06 文献下载
摘要：一种操作质谱仪的方法，包括：由样品生成离子；使用具有一组选择参数的四极杆滤质器对离子进行质量过滤，以使比初始范围窄的至少一个选定的质荷比范围内的离子传输，其中四极杆包括四个平行的细长电极，布置成向其施加RF和DC的相反对，其中吸引DC电压施加到一对相反电极，并且排斥DC电压施加到另一对相反电极；对四极杆滤质器传输的离子进行质量分析或检测；多次重复生成离子、质量过滤以及质量分析或检测的步骤；在重复步骤的过程中，多次切换向其施加吸引DC电压和排斥DC电压的相反电极对的配置；以及确定应在其之间保持定量准确性的质量过滤步骤，并且对于所确定的质量过滤步骤，保持向其施加吸引DC电压和排斥DC电压的相反电极对的相同配置。
具有改进四极杆鲁棒性质谱仪

[发明专利]用于离子电流控制的电荷检测-CN202010390001.7有效
发明人： A·彼德森;J-P·哈奇尔德;A·霍洛弥夫;A·马卡洛夫 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2020-05-09 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： H01J49/10 文献下载
摘要：一种控制用预定量的离子填充离子阱的方法。所述方法包括通过沿着到离子阱的离子路径传输离子来产生离子电流，使得在传输时间周期内离子累积在所述离子阱中，其中所述离子电流的幅值随时间变化。所述方法进一步包括在所述传输时间周期内穿插的多个不同采样时间间隔内在离子检测器处检测来自所述离子源的至少一些离子，并且基于在所述离子检测器处的所述离子检测来设置所述传输时间周期的持续时间。一个采样时间间隔的开始与紧随其后的采样时间间隔的开始之间的时间差小于所述离子电流幅值变化的时标。还描述了一种控制用预定量的离子填充离子阱的控制器和一种包括所述控制器的质谱仪。
用于离子电流控制电荷检测

[发明专利]分析仪器的离子累积控制-CN202310016856.7在审
发明人： H·斯图尔特;A·马卡洛夫;D·格林菲尔德;K·阿伊兹科夫;K·福特;T·阿瑞伊;M·别尔 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2023-01-06 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： H01J49/10 文献下载
摘要：公开了一种操作例如质谱仪之类的分析器的方法。所述分析仪器包括第一离子存储器和布置在所述第一离子存储器下游的第二离子存储器。所述方法包括确定所述第二离子存储器的目标累积时间是否大于阈值累积时间。当确定所述目标累积时间小于所述阈值累积时间时，使用基于所述目标累积时间的累积时间在所述第二离子存储器内累积离子。当确定所述目标累积时间大于所述阈值累积时间时，使用基于所述目标累积时间与所述阈值累积时间之间的差的第一累积时间在所述第一离子存储器内累积离子，将累积在所述第一离子存储器内的所述离子传递到所述第二离子存储器，并且使用基于所述阈值累积时间的第二累积时间在所述第二离子存储器内累积另外的离子。
分析仪器离子累积控制

[发明专利]一种质谱仪-CN201980020044.1有效
发明人： J·施韦特斯;G·荣 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2019-03-19 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： H01J49/28 文献下载
摘要：同位素比质谱仪100具有离子源15、静态场滤质器120、引起质量转移反应的反应池30和用于根据离子的m/z在空间上分离来自所述反应池30的离子的扇形场质量分析器41、42、43。检测器平台50检测由所述扇形场质量分析器分离的多种不同的离子种类。所述静态场滤质器120具有第一维恩过滤器220和第二维恩过滤器230，所述第一维恩过滤器根据离子的m/z使所述离子远离所述质谱仪100的纵向对称轴偏转，所述第二维恩过滤器根据离子的m/z使所述离子朝所述纵向对称轴往回偏转。反转透镜240沿所述纵轴定位在维恩过滤器220、230之间，以反转来自所述第一维恩过滤器220的所述离子的偏转方向。所述静态场滤质器120提供高传输和优化的质谱仪灵敏度。所述第一维恩过滤器220和所述第二维恩过滤器230允许简单的调谐。
一种质谱仪

[发明专利]分析光谱峰的方法-CN202211623392.8在审
发明人：潘宁宁 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2022-12-16 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： G01N21/62 文献下载
摘要：提供了一种分析使用光学光谱仪的检测器生成的样品光谱的干扰峰的方法。所述干扰峰由不同波长的多个光谱发射产生。所述方法包括基于所述光学光谱仪的预期曲线参数的模型和所述样品峰在所述光学光谱仪的所述检测器上的位置，生成表示所述干扰峰中每个光谱发射的峰形的干扰曲线参数。所述方法还包括将多条曲线拟合到所述干扰峰，每条曲线对应于形成所述干扰峰的所述不同波长的多个光谱发射之一，其中每条曲线使用由所述预期峰参数的模型提供的所述干扰曲线参数进行拟合。输出所述多条曲线以供进一步分析。
分析光谱方法

[发明专利]质谱仪的质量校准-CN202010079357.9有效
发明人： A·詹纳考普洛斯 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2020-02-05 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：公开一种校准质谱仪10的方法以及用于所述质谱仪10的控制器200。所述质谱仪10包含生成样本离子的第一离子源20、生成外部校准物离子的第二离子源50以及质量分析器100。执行初步质量校准。在样本分析的时间段t之后，将外部校准物离子与所述样本离子分别引入到所述质谱仪10中。获得表示所述外部校准物离子的质荷比的数据。将所述外部校准物离子数据与参考外部校准物离子数据相比较以获得表示质量差的偏移值。如果此偏移低于阈值，则使用新的外部校准物离子数据修改所述初步校准。如果所述偏移高于阈值，则执行全面重新校准。
质谱仪质量校准

[发明专利]质谱方法-CN202011239621.7有效
发明人：轩玥 -专利权人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
申请日： 2020-11-09 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G01N30/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种质谱方法。所述方法包含向样品中添加目标分析物的同位素物，并且在所述同位素物从色谱系统中洗脱时使所述样品和同位素物电离以形成前体离子。使用数据独立获取(DIA)方法质量分析所述前体离子，其包含在MS1域中执行质量分析扫描和在MS2域中执行质量分析扫描。在鉴定所述同位素物从所述色谱系统中洗脱时，所述方法另外包含执行多次目标扫描，每次目标扫描具有目标隔离窗口，所述目标隔离窗口包括在所述同位素物的色谱峰的持续时间内代表所述目标分析物的质荷比，用于所述目标分析物的鉴定和定量中的至少一个，其中所述目标扫描被配置成还提供所述目标分析物的定量数据。
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