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[发明专利]一种LCD屏幕表面吸附物的检测方法-CN202211082402.1有效
发明人：刘凌霄;杨慧;杨凌;乔明胜;李晓旻 -专利权人：胜科纳米（苏州）股份有限公司
申请日： 2022-09-06 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明提供一种LCD屏幕表面吸附物的检测方法。所述检测方法具体包括以下步骤：(1)采用平头微量进样器将溶剂滴于吸附有污染物的LCD屏幕表面；(2)使步骤(1)滴于LCD屏幕表面的溶剂铺展扩散，待污染物完全被溶解后，采用平头微量进样器收集，得到含有污染物的溶液；(3)将步骤(2)含有污染物的溶液转移到金镜上，使溶剂挥发后，采用全反射红外光谱仪对污染物进行定性检测。本方法可以实现定位取样分析，将样品转移至金镜上可以排除无机物及LCD屏幕的影响，测试信号更准确；此外，此方法中污染物的测试浓度较高，信号会更强一些；此方法所需有机溶剂较少，成本低。
一种 lcd 屏幕表面吸附检测方法

[发明专利]器件级纳米膜层界面结合力的图案化测试方法-CN202110211058.0有效
发明人：李晓旻;刘兵海;华佑南;乔明胜;傅超;张兮 -专利权人：胜科纳米（苏州）股份有限公司
申请日： 2021-02-25 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01N3/00 文献下载
摘要：本发明涉及材料样品检测技术领域，尤其涉及器件级纳米膜层界面结合力的图案化测试方法，包括以下步骤：(a)准备待测样品；(b)FIB对所述待测样品进行纳米级精确剥层，暴露出用于测试膜层结合力的上层膜层；(c)对所述上层膜层加压进行纳米膜层界面结合力测试；(d)观察所述待测膜层在测试过程中的变化，并得到结合力测试结果。本发明提出的基于FIB技术的图案化界面剥离测试方案，为纳米器件中工艺膜层间的界面结合力的测试分析提供解决方案。
器件纳米界面结合图案测试方法

[发明专利]发光二极管灯板、其防护封装方法、背光模组及显示装置-CN202110356693.8有效
发明人：杨洲;乔明胜;高上;曹晓梅 -专利权人：海信视像科技股份有限公司
申请日： 2018-10-22 - 公布日： 2023-01-10 - 主分类号： H01L25/075 文献下载
摘要：本发明公开了一种发光二极管灯板、其防护封装方法、背光模组及显示装置，该发光二极管灯板，包括：底板，位于底板之上的多个发光二极管芯片，与各发光二极管芯片对应的保护结构；保护结构由保护封装胶构成；保护结构覆盖对应的发光二极管芯片，且相邻的保护结构之间具有间隙。本发明实施例提供的发光二极管灯板中，通过设置与各发光二极管芯片对应的保护结构，该保护结构可以覆盖对应的发光二极管芯片，从而起到保护发光二极管芯片的作用，此外，相邻的保护结构之间具有间隙，能够减少形成保护结构的保护封装胶的使用量，而且比较容易形成厚度均匀的多个保护结构。
发光二极管防护封装方法背光模组显示装置

[发明专利]一种屏幕表面裂纹的检测方法及其应用-CN202211083171.6在审
发明人：刘凌霄;杨慧;杨凌;乔明胜;李晓旻 -专利权人：胜科纳米（苏州）股份有限公司
申请日： 2022-09-06 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G01N21/91 文献下载
摘要：本发明提供了一种屏幕表面裂纹的检测方法及其应用，所述检测方法包括以下步骤：将待测样品表面清洗干燥，之后进行等离子表面处理，得到处理后样品，之后将处理后样品浸入荧光分子溶液中，接着取出、清洗、干燥，之后观察样品，记录荧光区域，即为裂纹区域。本发明提供的检测方法能够有效检测屏幕表面的细微裂纹，避免了常规检测方法中对于细微裂纹的遗漏造成的误判，提高了检测的准确性。
一种屏幕表面裂纹检测方法及其应用

[发明专利]一种显示装置-CN202010570713.7有效
发明人：李富琳;乔明胜;张楠楠 -专利权人：海信视像科技股份有限公司
申请日： 2020-06-19 - 公布日： 2022-10-14 - 主分类号： G02F1/13357 文献下载
摘要：本发明公开了一种显示装置，包括：显示面板和微型发光二极管灯板；微型发光二极管灯板包括电路板和微型发光二极管；电路板暴露的至少一个焊盘上焊接至少两个微型发光二极管，那么焊接于同一个焊盘上的各微型发光二极管为并联的连接关系，当各微型发光二极管均焊接正常时，则各微型发光二极管分流驱动，各微型发光二极管的总发光强度与驱动电路相对应；当焊盘上有微型发光二极管故障时，只要还存在一个微型发光二极管焊接正常可以正常发光，则驱动电流可以流经正常的微型发光二极管，同时保证总的发光强度保持不变。由此，可以大大降低微型发光二极管灯板的维修概率。
一种显示装置

[发明专利]一种显示装置-CN202010522067.7有效
发明人：李富琳;张楠楠;乔明胜 -专利权人：海信视像科技股份有限公司
申请日： 2020-06-10 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： G02F1/13357 文献下载
摘要：本发明公开了一种显示装置，包括：显示面板和微型发光二极管灯板；微型发光二极管灯板包括电路板以及位于电路板同一侧的微型发光二极管和驱动芯片，在驱动芯片背离电路板的一侧设置保护罩，保护罩与电路板形成一容置空间，驱动芯片位于该容置空间内。保护罩不仅可以起到保护驱动芯片的作用，还具有反光作用，这样入射到驱动芯片所在位置的光线会被保护罩进一步反射，从而避免在驱动芯片的上方产生发暗的主观问题。
一种显示装置

[发明专利]器件中悬空膜层的原位力学测试方法-CN202110210269.2在审
发明人：李晓旻;刘兵海;华佑南;乔明胜;傅超;张兮 -专利权人：胜科纳米（苏州）有限公司
申请日： 2021-02-25 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G01N3/00 文献下载
摘要：本发明涉及材料样品检测技术领域，尤其涉及器件中悬空膜层的原位力学测试方法，包括以下步骤：(a)准备待测样品；(b)FIB或plasma‑FIB对待测悬空膜层中心的上方膜层图案化开口，得到测试窗口；(c)从所述测试窗口插入测试探头对待测悬空膜层进行力学性能测试；(d)观察所述待测悬空膜层在测试过程中的动态应变和微观结构的变化，得到检测结果。本发明提出的基于聚焦离子束(FIB)样品制备的一整套图案化测试技术方法，可以实现对器件内部悬空膜层的力学性能量测，如硬度、弹性模量、弹性/塑性形变、断裂强度等，为纳米/微米级别的力学测试提供新的解决方案。
器件悬空原位力学测试方法

[发明专利]用于器件级纳米膜层的压痕测试方法-CN202110210680.X在审
发明人：李晓旻;刘兵海;张兮;傅超;华佑南;乔明胜 -专利权人：胜科纳米（苏州）有限公司
申请日： 2021-02-25 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G01N3/00 文献下载
摘要：本发明涉及材料样品检测技术领域，尤其涉及用于器件级纳米膜层的压痕测试方法，包括以下步骤：(a)准备待测样品；(b)FIB对所述待测样品图案化处理，所述待测样品的待测膜层暴露；(c)对所述待测膜层进行纳米级压痕测试；(d)观察所述待测膜层在测试过程中的动态应变和微观结构的变化，得到检测结果。本发明解决了纳米器件级的薄膜工艺层的力学测试问题，是基于聚焦离子束(FIB)样品制备的一整套图案化纳米压痕测试技术方案，可以实现对器件内部膜层的力学性能的量测，如硬度、弹性模量、弹性/塑性形变、断裂强度和膜层间结合力等。
用于器件纳米压痕测试方法

[发明专利]一种原位力学性能测试装置及其设备-CN202110210683.3在审
发明人：李晓旻;刘兵海;傅超;陈汉杰;张兮;华佑南;乔明胜 -专利权人：胜科纳米（苏州）有限公司
申请日： 2021-02-25 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G01N3/00 文献下载
摘要：本发明涉及材料力学性能测试设备技术领域，尤其涉及一种原位力学性能测试装置及其设备。原位力学性能测试装置包括底座、连接杆、测试探头、控制系统以及压力测试系统；底座用于与商业化的材料分析测试设备封连接；连接杆包括依次连接的第一连接杆和第二连接杆，第一连接杆的自由端与底座连接，第二连接杆的自由端与测试探头连接；控制系统控制连接杆的运动；压力测试系统用于控制和量测测试探头的施加应力。本发明提供的原位力学性能测试装置和现有商业化的商业化的材料分析测试设备相匹配，其方式可以是通过SEM、FIB上现有的接口直接插入，然后进行真空密封实现系统集成；在不使用的时候可以抽出，不会对SEM和FIB正常使用造成影响。
一种原位力学性能测试装置及其设备

[发明专利]一种多功能原位力学测试装置及其设备-CN202110211062.7在审
发明人：李晓旻;刘兵海;傅超;张兮;华佑南;乔明胜 -专利权人：胜科纳米（苏州）有限公司
申请日： 2021-02-25 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G01N3/00 文献下载
摘要：本发明涉及材料力学性能测试设备技术领域，尤其涉及一种多功能原位力学测试装置及其设备。多功能原位力学测试装置包括底座、至少两个连接杆、测试探头、控制系统以及压力测试系统；底座用于与材料分析测试设备密封连接；连接杆之间相互连接，得到连接体，连接体的一端与底座连接，另一端与测试探头连接；控制系统控制不同连接杆的运动；压力测试系统用于监测和控制测试探头的施加应力。本发明提供的多功能原位力学测试装置，通过SEM、FIB上现有的接口直接插入，可以利用扫描电镜的高分辨率成像，实现纳米材料和结构的原位测试和观测的实验分析目的，观察材料在测试和失效过程中的动态应变和微观结构的变化，实现纳米级精确定位和观测分析。
一种多功能原位力学测试装置及其设备

[实用新型]一种半导体可靠性试验芯片摆放治具-CN202123314615.6有效
发明人：李先品;黄威;孙杰;华佑南;何婷婷;乔明胜;张兮;李晓旻 -专利权人：胜科纳米(苏州)股份有限公司
申请日： 2021-12-27 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： B65D19/38 文献下载
摘要：本申请公开了一种半导体可靠性试验芯片摆放治具，包括：边框及托盘，所述边框设置在所述托盘四周，所述托盘上设有多个通风孔。与现有技术相比，本申请具有如下有益效果：与现有技术相比，不锈钢网盘选择不锈钢材质，稳定不易被氧化腐蚀、便于清洁、接地后可减少静电。样品放在网盘中，用高温胶带固定，可以有效的减少样品摩擦产生的损伤。网盘底部有空隙，样品可以均匀受热或受冷。
一种半导体可靠性试验芯片摆放

[实用新型]一种集成电路PCB存放和运输防静电工具车-CN202123323210.9有效
发明人：李先品;黄威;孙杰;华佑南;何婷婷;乔明胜;张兮;李晓旻 -专利权人：胜科纳米(苏州)股份有限公司
申请日： 2021-12-27 - 公布日： 2022-06-21 - 主分类号： B62B3/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种集成电路PCB存放和运输防静电工具车，包括：车本体、导电链条，及电路板置物架；其中，所述导电链条连接所述车本体的底部与地面，所述电路板置物架设置在所述车本体内部。与现有技术相比，本申请具有如下有益效果：1)有效保护老化板测试板，降低搬运中损伤可能性；2)降低老化板测试板受静电放电损伤；3)防止老化板测试板受到粉尘污染。
一种集成电路 pcb 存放运输静电工具车

[实用新型]一种多功能原位力学测试装置及其设备-CN202120414272.1有效
发明人：李晓旻;刘兵海;傅超;张兮;华佑南;乔明胜 -专利权人：胜科纳米(苏州)股份有限公司
申请日： 2021-02-25 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： G01N3/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及材料力学性能测试设备技术领域，尤其涉及一种多功能原位力学测试装置及其设备。多功能原位力学测试装置包括底座、至少两个连接杆、测试探头、控制系统以及压力测试系统；底座用于与材料分析测试设备密封连接；连接杆之间相互连接，得到连接体，连接体的一端与底座连接，另一端与测试探头连接；控制系统控制不同连接杆的运动；压力测试系统用于监测和控制测试探头的施加应力。本实用新型提供的多功能原位力学测试装置，通过SEM、FIB上现有的接口直接插入，可以利用扫描电镜的高分辨率成像，实现纳米材料和结构的原位测试和观测的实验分析目的，观察材料在测试和失效过程中的动态应变和微观结构的变化，实现纳米级精确定位和观测分析。
一种多功能原位力学测试装置及其设备

[发明专利]一种显示装置-CN202010221021.1有效
发明人：李富琳;乔明胜 -专利权人：海信视像科技股份有限公司
申请日： 2020-03-25 - 公布日： 2022-05-20 - 主分类号： G02F1/13357 文献下载
摘要：本发明公开了一种显示装置，包括：微型发光二极管灯板，以及位于微型发光二极管灯板出光侧的角度选择层，角度选择层对第一入射角度范围的光线的反射，对第二入射角度范围的光线的透射，其中，第一入射角度范围对应的入射角度值小于第二入射角度范围对应的入射角度。微型发光二极管灯板上的反光层可以对角度选择层反射回来的光线进行漫反射，重新向角度选择层入射，使得经过漫反射后的第二入射角度的光线得以透射，而第一入射角度的光线继续重复上述的反射操作，最终均匀背光模组的光强分布。
一种显示装置

[发明专利]封装器件水汽入侵路径检测方法及装置-CN202210164278.7有效
发明人：廖金枝;朱雷;张兮;乔明胜;华佑南;李晓旻 -专利权人：胜科纳米（苏州）股份有限公司
申请日： 2022-02-22 - 公布日： 2022-05-20 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本发明公开了一种封装器件水汽入侵路径检测方法及装置，该方法包括：基于预设示踪剂对待测封装器件进行水汽示踪标记，获取示踪标记样品；对所述示踪标记样品进行二次离子质谱分析，获取示踪标记样品的示踪剂强度；根据所述示踪剂强度确定水汽入侵的路径和速度。本发明通过预设示踪剂与二次离子质谱结合，对封装器件的水汽入侵路径及速度进行检测，有利于提高水汽入侵的动态检测精度，从根本上提升封装器件的防潮可靠性。
封装器件水汽入侵路径检测方法装置

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