专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果2391510个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]存储元件阵列-CN200810125333.1有效
  • 古田成生;增田雄一郎;高桥刚;小野雅敏 - 株式会社船井电机新应用技术研究所;船井电机株式会社
  • 2008-06-20 - 2008-12-24 - H01L27/24
  • 本发明公开了一种存储元件阵列,包括排列成阵列的多个存储元件,其中所述存储元件是开关元件,每个开关元件包括纳米量级的间隙,其中通过在电极之间施加预定电压来产生电阻的开关现象,并且所述存储元件阵列设置有隧道元件,所述隧道元件分别串联连接所述开关元件,在施加所述预定电压时,每个所述隧道元件防止产生流向另一开关元件的潜通路电流。利用本发明,仅仅通过设置隧道元件这样的简单配置,就能够实现读取、写入以及删除数据的简化,并且能够提高开关元件的开关操作的稳定性,以及提高存储元件阵列的集成度。
  • 存储元件阵列
  • [发明专利]用于编程反熔丝以修复存储器装置的设备和技术-CN202011049753.3在审
  • S·A·艾克迈尔;P·穆拉基 - 美光科技公司
  • 2020-09-29 - 2021-04-13 - G11C29/00
  • 本申请案针对于用于编程反熔丝以修复存储器装置的设备和技术。一种设备可包含修复阵列,所述修复阵列包含用于替换存储阵列中的有故障元件元件,且所述设备可另外包含用于指示所述存储阵列的哪些元件(如果存在的话)正被所述修复阵列内的元件替换的反熔丝阵列。所述反熔丝阵列可指示所述存储阵列的正被所述修复阵列内的元件替换的元件的地址。所述反熔丝阵列可指示所述修复阵列内的所述元件的启用或停用,所述启用或停用指示是否启用所述修复阵列内的所述元件来替换所述存储阵列的所述元件。所述反熔丝阵列可包含具有较低可靠性的反熔丝和具有较高可靠性的反熔丝。与所述修复阵列内的所述元件的所述启用相关联的反熔丝可包含具有所述较高可靠性的反熔丝。
  • 用于编程反熔丝修复存储器装置设备技术
  • [发明专利]数据存储系统中的自主奇偶交换-CN201680062673.7有效
  • M·布劳姆;S·R·赫特兹勒尔 - 国际商业机器公司
  • 2016-09-02 - 2021-12-14 - G06F11/10
  • 提供了一种用于增加存储系统中的存储元件阵列的故障容限的计算机实现的方法。计算机实现的方法包括配置阵列以在n1个存储元件集合中包括多个存储元件。该计算机实现的方法还包括配置纠删码,使得所述阵列的至少一列存储元件存储行奇偶校验信息,并且所述阵列的至少一行存储元件存储列奇偶校验信息。此外,计算机实现的方法还包括,存储数据的所述存储元件之一发生故障之后,从所述阵列中选择接收存储元件,通过执行奇偶校验交换操作来将所述数据的至少一部分重建到所述接收存储元件上,所述奇偶校验交换操作保持包含所述故障存储元件的所述存储元件集合的故障容限
  • 数据存储系统中的自主奇偶交换
  • [发明专利]天线阵列测试电路、相控天线阵列及测试其的方法-CN201910084744.9有效
  • 阿德里安·A·希尔;康纳·C·麦克布莱德 - 罗克韦尔柯林斯公司
  • 2019-01-29 - 2022-03-04 - G01R29/10
  • 提供了天线阵列测试电路、相控天线阵列及测试其的方法,天线阵列测试电路可以包括:电路,其包括多个存储寄存器、测试序列生成逻辑和测试控制逻辑。存储寄存器可以针对相控天线阵列的多个天线元件中的每个天线元件存储对应的天线元件ID。存储寄存器可以存储指示测试步骤序列的测试步骤的测试步骤ID。针对相控天线阵列的每个天线元件,测试序列生成逻辑可以使用对应的天线元件ID和测试步骤ID来确定指示测试步骤期间天线元件的测试状态的对应的测试信号。测试控制逻辑可以使相控天线阵列的每个天线元件在测试步骤期间根据对应的测试信号来配置。
  • 天线阵列测试电路方法
  • [发明专利]具有非易失性逻辑阵列备份相关应用的处理装置-CN201811580481.2有效
  • S·C·巴特林;S·卡纳 - 德克萨斯仪器股份有限公司
  • 2013-09-10 - 2023-08-15 - G11C16/06
  • 本发明提供具有非易失性逻辑阵列备份相关应用的处理装置。一种处理装置(100),使用多个易失性存储元件(120)操作。多个易失性存储元件(120)的N组的每组的M个易失性存储元件通过使用多路复用器(212)被连接到多个非易失性逻辑元件阵列中的N乘M大小的非易失性逻辑元件阵列(110)。多路复用器(212)连接N组中的一组到N乘M大小的非易失性逻辑元件阵列(110)以一次将来自M个易失性存储元件(120)的数据存储到N乘M大小的非易失性逻辑元件阵列(110)的一行中,或者一次将来自N乘M大小的非易失性逻辑元件阵列(110)的一行的数据写入到M个易失性存储元件(120)。相应的非易失性逻辑控制器(106)控制多路复用器(212)关于易失性存储元件(120)和非易失性存储元件(110)之间的连接的操作。
  • 具有非易失性逻辑阵列备份相关应用处理装置
  • [发明专利]具有非易失性逻辑阵列备份相关应用的处理装置-CN201310532311.8有效
  • S·C·巴特林;S·卡纳 - 德克萨斯仪器股份有限公司
  • 2013-09-10 - 2019-01-18 - G11C16/06
  • 一种处理装置(100),使用多个易失性存储元件(120)操作。多个易失性存储元件(120)的N组的每组的M个易失性存储元件通过使用多路复用器(212)被连接到多个非易失性逻辑元件阵列中的N乘M大小的非易失性逻辑元件阵列(110)。多路复用器(212)连接N组中的一组到N乘M大小的非易失性逻辑元件阵列(110)以一次将来自M个易失性存储元件(120)的数据存储到N乘M大小的非易失性逻辑元件阵列(110)的一行中,或者一次将来自N乘M大小的非易失性逻辑元件阵列(110)的一行的数据写入到M个易失性存储元件(120)。相应的非易失性逻辑控制器(106)控制多路复用器(212)关于易失性存储元件(120)和非易失性存储元件(110)之间的连接的操作。
  • 具有非易失性逻辑阵列备份相关应用处理装置
  • [发明专利]高动态范围图像传感器和图像捕获方法-CN202010504742.3有效
  • 刘成明;代铁军;理查德·曼 - 豪威科技股份有限公司
  • 2020-06-05 - 2023-04-07 - H04N23/54
  • 一种图像传感器,包括像素阵列以及第一存储元件、第二存储元件和中间存储元件存储元件分别存储第一曝光值、第二曝光值和中间曝光值。像素阵列包括像素子阵列,每个像素子阵列包括救援像素以及第一多个连续像素、第二多个连续像素和第三多个连续像素。第一多个像素中的每个像素连接到第一存储元件并且跨越像素子阵列的对角线相对角。第二多个像素中的每个像素连接到第二存储元件并且位于第一多个像素的第一侧。第三多个像素中的每个像素连接到第二存储元件并且位于第一多个像素的第二侧。救援像素连接到中间存储元件,并且(i)位于第一侧和第二侧中的一侧和/或(ii)与第一多个像素中的一个像素相邻。
  • 动态范围图像传感器图像捕获方法
  • [发明专利]存储器结构及其制造与控制方法-CN202210064254.4在审
  • 吴昭谊;林佑明 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2022-01-20 - 2022-12-20 - G11C11/22
  • 本公开的存储器结构包括:包括静态随机存取存储元件阵列的第一存储器区;包括单一晶体管‑单一电容器存储元件的第二存储器区;以及包括铁电场效晶体管存储元件的第三存储器区。存储器结构还包括至少一资料总线,横越第一、第二与第三存储器区而侧向延伸且经配置以提供第一、第二与第三存储阵列之间的资料传输。存储器结构还包括形成于存储器结构的半导体材料层的周边电路元件。周边电路元件经配置以控制第一、第二与第三存储阵列。第二与第三存储阵列的至少其中一者可为3维存储阵列
  • 存储器结构及其制造控制方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top