专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果1563081个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]CMOS器件叠层栅形成方法及其结构-CN200910237800.4无效
  • 陈世杰;王文武;王晓磊;韩锴 - 中国科学院微电子研究所
  • 2009-11-19 - 2011-05-25 - H01L29/51
  • 本发明提出了一种金属氧化物半导体MOS器件的栅介质结构,包括:在半导体衬底表面上形成的界面层薄膜;和在所述界面层薄膜表面之上形成的至少两层绝缘薄膜,其中,所述至少两层绝缘薄膜中的每一个都具有与其他相邻绝缘薄膜不同的元素组分和/或不同的浓度,且所述界面层薄膜和所述至少两层绝缘薄膜经过优化的退火工艺,所述优化的退火工艺与所述界面层薄膜和所述至少两层绝缘薄膜的元素组分和/或浓度相关,以达到希望的所述元素和/或浓度的分布。本发明通过按照一定顺序淀积多层不同材料组分或不同浓度的薄膜来形成MOS器件的叠层栅介质结构,然后通过优化的退火工艺以促使该叠层栅介质结构中的各种元素组分和浓度达到理想的分布状态。
  • cmos器件叠层栅形成方法及其结构
  • [发明专利]光学介质薄膜含水缺陷深度的表征方法-CN201811301037.2有效
  • 刘华松;姜承慧;陈丹;李士达;尚鹏 - 天津津航技术物理研究所
  • 2018-11-02 - 2021-02-12 - G01N21/31
  • 本发明属于光学薄膜技术领域,具体涉及一种光学介质薄膜含水缺陷深度的表征方法。本发明对于无水层的光学常数,首先从可见光谱段反演出薄膜的色散方程,然后从长波红外光谱反演出薄膜的微结构本征振动导致的色散方程,两个色散方程的叠加表征了薄膜无水结构的光学常数色散;对于含水层的薄膜,将无水薄膜与水按照混合物处理,基于等效介质理论建立含水薄膜的光学常数色散方程。然后从红外透射光谱中反演出无水薄膜与水的比例、水的扩散深度、含有孔隙的无水薄膜厚度、无水薄膜的孔隙率四个参数。通过该方法可以表征出薄膜中的水缺陷深度特性,该方法对于含水缺陷薄膜的膜系设计以及多层膜的制作均有指导意义。
  • 光学介质薄膜含水缺陷深度表征方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top