专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果3744374个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种计算光栅干涉仪位移补偿参数的装置和方法-CN202110298319.7在审
  • 张文涛;杜浩;熊显名;曾启林;朱保华;张玉婷;徐韶华;李洪阳 - 桂林电子科技大学
  • 2021-03-19 - 2021-07-06 - G01B11/02
  • 本发明提供一种计算光栅干涉仪位移补偿参数的装置和方法,包括运动台119、外差光栅干涉仪和外差激光干涉仪。所述外差光栅干涉仪包括读数头(115‑118)、二维光栅(111‑114),4块二维光栅放置在运动台(119)上,每块二维光栅对应一个读数头,读数头出射激光束至二维光栅,并收集二维光栅的衍射光束。所述外差激光干涉仪包括干涉仪镜组(101‑103)、干涉仪反射镜(104‑110),水平向反射镜(116‑110)分别放置于运动台的3个侧面,垂向反射镜(104、105)放置在运动台上方。外差光栅干涉仪和外差激光干涉仪能够同时测量运动台的位移,根据上述布局建立外差光栅干涉仪和外差激光干涉仪的测量模型;设定运动台的轨迹,在不同轨迹下获取外差光栅干涉仪和外差激光干涉仪分别测量的运动台位移,以外差激光干涉仪的测量数据为参考,计算外差光栅干涉仪测量模型中的位移补偿参数。
  • 一种计算光栅干涉仪位移补偿参数装置方法
  • [发明专利]基于带通采样的外差激光测振方法-CN201611164666.6有效
  • 蔡晨光;杨明;刘志华;王颖 - 中国计量科学研究院;北京化工大学
  • 2016-12-16 - 2019-10-18 - G01H9/00
  • 本发明公开了一种基于带通采样的外差激光测振方法,该方法包括基于带通采样定理确定避免采集后外差激光多普勒信号频谱混叠的不同整数m对应的有效采样频率段;通过带通采样保护带宽保证足够的工程裕量,避免实际激光多普勒信号的频谱混叠;提出一种基于带通采样的最佳采样频率自动选择方法,以确定外差激光多普勒信号的最佳采样频率;最后基于相位展开正弦逼近法(PUSAM)实现已采集外差激光多普勒信号的解调。本发明方法有效解决了传统外差激光测振方法对于外差激光测振存在所需采样频率高或相位延时的不足。
  • 基于采样外差激光方法
  • [发明专利]机载超声波频谱和图像生成-CN201180018875.9有效
  • 马克·A·古德曼;威廉·毕晓普;加里·莫尔 - U·E·系统公司
  • 2011-04-15 - 2013-04-10 - G01B5/28
  • 一种通过使用超声波信号来确定和测试一机器和装置的状态的便携设备,该便携设备具有多个超声波传感器,其用于从该机器或装置接收超声波信号。该便携设备具有一个被耦合的外差电路,该外差电路接收从所述超声波传感器输出的输出信号,并将该输出信号转换为一个外差音频信号,然后该外差音频信号通过所述便携设备的一数字频谱分析仪进行分析。该数字频谱分析仪对外差音频信号进行实时快速傅里叶变换。分析信号之后,该手持型设备使用各种音像提示来指引用户,以提示所述设备中需要维修或监测的部分。
  • 机载超声波频谱图像生成
  • [发明专利]基于漫反射激光外差相干的原位密度测量装置及方法-CN202211075809.1在审
  • 李丽艳;周燕;范松涛 - 中国科学院半导体研究所
  • 2022-09-02 - 2022-11-11 - G01N9/24
  • 本公开提供了一种基于漫反射激光外差相干的原位密度测量装置和方法,该装置包括:激光器,用于产生探测激光;外差相干模块,设于激光器之后,用于将探测激光分为测量光和参考光,使测量光穿过透射漫反射介质密度测量模块探测待测介质,测量光的返回光与参考光发生干涉,产生干涉光信号,解调干涉光信号,输出待测介质的密度;透射漫反射介质密度测量模块,设于外差相关模块之后,用于将测量光与待测介质耦合,并通过漫反射物体使测量光的返回光原路返回至外差相干模块该装置和方法通过结合外差与漫反射物体作为探测光反射的方法,解决了现有干涉测量介质密度存在的问题,实现了大动态范围、高精度下的介质密度原位测量。
  • 基于漫反射激光外差相干原位密度测量装置方法
  • [发明专利]一种能识别镜频信号的外差扫频频谱分析系统-CN201911234400.8有效
  • 童玲 - 电子科技大学
  • 2019-12-05 - 2021-07-13 - H04B17/309
  • 本发明公开了一种能识别镜频信号的外差扫频频谱分析系统,在现有外差扫频频谱分析系统基础上,增加了正、负符号滤波器和识别电路模块,根据正、负符号滤波器与中频滤波器输出信号的时序关系判断本振信号即扫频信号频率与输入信号频率的大小关系与传统外差扫频频谱分析系统相比,去除了低通滤波器,使得被测信号及其镜频信号均可以通过输入电路模块处理后进入外差扫频混频电路模块,频谱分析系统的工作频段不再由输入电路模块的低通滤波器的截止频率决定,消除了被测信号带宽受低通滤波器中心频率的限制
  • 一种识别信号外差扫频式频谱分析系统

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top