专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种电路板和电子元器件的塑封方法-CN202011388401.0在审
  • 李娟 - 华为技术有限公司
  • 2020-12-01 - 2022-06-03 - H05K3/28
  • 本申请实施例提供一种电路板和电子元器件的塑封方法。电路板包括:基板、多个电子元器件和塑封薄膜;多个电子元器件位于基板之上,塑封薄膜采用塑封工艺对多个电子元器件进行封装。本申请通过塑封薄膜采用塑封工艺对电子元器件进行封装,塑封薄膜厚度较薄,能够减小电路板中电子元器件所在区域的厚度,而且塑封工艺中采用的治具相对简单,工艺条件容易实现,能够简化对电子元器件的封装制程,节省成本,并且工艺中无需对金手指区域进行额外保护,工艺简化。
  • 一种电路板电子元器件塑封方法
  • [发明专利]一种半导体塑封结构变压器及其工艺-CN202310746377.0在审
  • 邓峰;杜韦静 - 惠州小氮科技发展企业(有限合伙)
  • 2023-06-21 - 2023-08-08 - H01F27/02
  • 本发明公开一种半导体塑封结构变压器及其工艺,涉及变压器领域。该半导体塑封结构变压器包括塑封主体和固定塑封主体内部的变压器主体,塑封主体的内部设有PCB/磁芯/IC等电子元器件,塑封内部设有PIN针接触点,对接PIN针和变压器主体之间连接做为外接PIN脚。该半导体塑封结构变压器PCB,通过塑封工艺缩小PCB安规间距,体积减小可以提升导热效果,同时减少工艺来降低成本,通过塑封结构来降低热阻,塑封半导体采用塑封工艺方式,提供防护,提高安全性能,稳定性好,也保证整个变压器体积紧凑,该装置工艺简单,减小成本,便于配合主板安装使用。
  • 一种半导体塑封结构变压器及其工艺
  • [发明专利]用于夹持塑封晶圆的固定装置及真空溅射金属薄膜工艺-CN201811562109.9有效
  • 姚大平 - 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
  • 2018-12-19 - 2021-07-27 - H01L21/687
  • 本发明涉及半导体先进封装工艺与设备装置技术领域,具体涉及一种用于夹持塑封晶圆的固定装置,包括:底板,用于承载塑封晶圆,底板的上表面和下表面均为平面;固定结构,设置于底板上表面的边缘,与底板形成用于固定塑封晶圆的承载空间;管道结构,成型在底板上,用于对塑封晶圆与底板之间的间隙抽吸真空,使塑封晶圆与底板的上表面始终保持紧密贴合。本发明的用于夹持塑封晶圆的固定装置能够使每一片塑封晶圆内部以及塑封晶圆之间很容易达到工艺要求的温度均匀性,且能够使塑封晶圆平整度以及各种工艺参数的精度更高、工艺集成效果更好。这样,在带固定装置的塑封晶圆上真空溅射金属薄膜,薄膜的物理、电学性能都得到提高。
  • 用于夹持塑封固定装置真空溅射金属薄膜工艺
  • [发明专利]晶圆级扇出封装方法和晶圆级扇出封装结构-CN202111465509.X在审
  • 钟磊;李利;张超;何正鸿 - 甬矽电子(宁波)股份有限公司
  • 2021-12-03 - 2022-03-11 - H01L25/07
  • 本发明的实施例提供了一种晶圆级扇出封装方法和晶圆级扇出封装结构,涉及芯片封装技术领域,该方法通过制备带有让位凸起的载板,并直接在载板上形成塑封体,在去除载板后,即得到了形成有让位凹槽的塑封体,采用塑封料进行塑封直接得到让位凹槽,然后将芯片嵌入到让位凹槽中,并在塑封体的表面形成覆盖让位凹槽的钝化层,最后完成布线层和焊球等晶圆级工艺。充分利用了塑封料易塑性和低成本的优势,利用成熟的塑封塑形工艺,结合载板的让位凸起,能够精确地塑造出让位凹槽等结构,且工艺简单,工艺难度低。此外通过芯片嵌入让位凹槽内,正面再通过重新布线方式,将各个讯号接点扇出到塑封体外,提高了塑封的可靠性。
  • 晶圆级扇出封装方法结构
  • [发明专利]扇出型晶圆级封装方法-CN201510629484.0在审
  • 林正忠;蔡奇风 - 中芯长电半导体(江阴)有限公司
  • 2015-09-28 - 2015-12-16 - H01L21/56
  • 本发明提供一种扇出型晶圆级封装方法,包括:提供一载体,在载体表面形成粘合层;将至少一半导体芯片正面朝上贴装于粘合层表面;采用塑封工艺将所述半导体芯片塑封塑封材料层中,并同时在塑封材料层内形成与后续要形成的连接通孔及重新布线层相对应的开口本发明采用塑封工艺将所述半导体芯片塑封塑封材料层中,并同时在塑封材料层内形成与连接通孔及重新布线层相对应的开口,减少了涂覆介电层、光刻RDL层等工艺步骤,有效地降低了生产成本,且整个工艺过程中步骤简单
  • 扇出型晶圆级封装方法
  • [发明专利]一种IC塑封残余应力的观测比较方法-CN201510770229.8在审
  • 曹阳根;安静;马青山;马玉林;吴文云;郑功超;张锋 - 上海信适智能科技有限公司
  • 2015-11-12 - 2016-03-23 - G01L1/24
  • 本发明涉及一种IC塑封残余应力的观测比较方法,包括以下步骤:(1)塑封材料选取:根据相似定理,选取合适的透明塑封材料代替原有色料,建立物理相似模型;(2)塑封:采用原有色料的塑封工艺,利用所选取的透明塑封材料在塑封压机上完成塑封;(3)采集应力偏光图:在塑封压机上完成塑封后,采用应力偏光仪对塑封后封装体应力偏光图进行采集;(4)比较不同条件下的应力偏光图色度及试件应力的变化情况;(5)利用相似理论近似计算原有色料残余应力;本发明能够直观地观测到残余应力的分布,并比较不同条件下的残余应力的大小及其随其他条件的变化规律,可用于研究改进工艺方案和模具结构,提高塑封质量及效率。
  • 一种ic塑封残余应力观测比较方法
  • [发明专利]固体电解电容器的封装工艺-CN201010517733.4无效
  • 张易宁;何腾云 - 福建国光电子科技股份有限公司
  • 2010-10-25 - 2011-02-23 - H01G9/08
  • 本发明提供一种固体电解电容器的封装工艺,包括将预制好的多个电容器元件进行叠置形成一叠层体的叠层步骤,以及所述叠层体进行塑封塑封步骤,其中,所述封装工艺还包括一在所述叠层步骤和塑封步骤之间进行的预塑封步骤,所述预塑封步骤是在所述叠层体的表面覆盖一层预塑封材料。本发明在体现电解电容器原有的封装工艺中增加一预塑封步骤,可减少电容器元件在封装过程中的损伤,有效提高成品漏电流合格率,有效降低ESR。此外,预塑封还能有效减少水汽侵蚀,提高产品稳态湿热考核漏电流合格率。
  • 固体电解电容器封装工艺
  • [发明专利]一种完全塑封天线的封装结构的倒装工艺-CN202010254517.9在审
  • 王新;蒋振雷 - 杭州晶通科技有限公司
  • 2020-04-02 - 2020-07-10 - H01L23/31
  • 本发明公开了一种完全塑封天线的封装结构的倒装工艺,先在临时载片上贴装芯片并塑封形成塑封体,然后在塑封体上制作出嵌入在塑封体内部的微型毫米波天线结构;接着去除临时载片并在塑封体的的器件面上制作重新布线层,然后继续植球并切割以完成整个封装工艺。采用本发明的设计方案,整个天线结构都嵌入在塑封体之中,而不是位于塑封体的上表面或者下表面,因此无需占用塑封体的表面上原本用于重新布线层走线的面积,实现更高密度的走线,提高封装密度;由于采用了先进行贴装芯片再进行天线制备的工艺流程
  • 一种完全塑封天线封装结构倒装工艺

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