专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学成像装置-CN201010574359.1无效
  • 陈大鹏;张青川 - 中国科学院微电子研究所
  • 2010-12-06 - 2012-06-06 - G01J5/00
  • 本发明公开了一种光学成像装置,包括:可见光结构、红外结构、照明光结构、焦平面阵列以及成像结构。可见光结构,用于采集目标物体发出的可见光并转化为可见平行;红外结构,用于采集目标物体发出的红外辐射并将其聚焦到焦平面阵列上;照明光,用于提供照明平行;焦平面阵列,用于吸收红外结构采集到的目标物体的红外辐射并产生角度变化,并根据角度变化反射照明平行,被焦平面阵列反射的照明平行光上附有焦平面阵列的角度变化信息;成像结构,用于将附有焦平面阵列的角度变化信息的照明平行成像为红外像,并将可见光提供的可见平行成像为可见光像
  • 光学成像装置
  • [发明专利]物理量测定方法及其装置-CN02823022.1无效
  • 衣笠静一郎;宫泽敬治;黑岩孝朗 - 株式会社山武
  • 2002-09-18 - 2005-03-02 - G01L9/00
  • 向根据测定对象的物理量使输入产生光差的传感器输入由光源发出的,响应该输入而输出的产生了差的光输入根据测定对象的物理量使输入产生光差的另一传感器,响应该输入而输出的产生了差的分成2束,由于存在有在最初的传感器中接受长度的变化而输入次级的传感器并在其中不接受长度的变化而传送的光和在最初的传感器中不接受长度的变化而输入次级的传感器并在其中接受长度的变化而传送的,导致在与测定对象的物理量的差分值对应的位置生成具有条纹的干涉条纹
  • 物理量测定方法及其装置
  • [发明专利]粒子计数器-CN201910173746.5有效
  • 松田朋信;进村正树;齐藤光秋;山川雄生 - 理音株式会社
  • 2019-03-07 - 2022-07-15 - G01N15/02
  • 本发明提供一种粒子计数器,具备:检测部,利用受元件接收散射与参照的干涉,生成与所述干涉对应的检测信号,并利用放大器进行放大;计数部,基于用于测定粒子的测定期间内的检测信号,进行所述粒子的计数;以及长度可变部,使第一与第二中的至少一方的长度以规定速度变化,基于所述流体的流速将所述规定速度设定为,通过使所述长度变化,减慢所述散射与所述参照的相位差的变化,降低所述检测信号的频率
  • 粒子计数器
  • [发明专利]一种识别红外触摸屏无效的方法及装置-CN201410443745.5有效
  • 王武军 - 青岛海信电器股份有限公司
  • 2014-09-02 - 2018-09-25 - G06F3/042
  • 本发明实施例公开了一种识别红外触摸屏无效的方法及装置,本发明实施例的方法包括:获取所有待识别在第i个扫描周期的遮挡状态;根据待识别的遮挡状态的变化情况来对待识别的遮挡次数进行处理,从而判断所述待识别的被遮挡次数是否超过第一预设阈值,若是,则确定所述待识别为无效。本发明实施例根据所有待识别的遮挡状态的变化情况来确定无效,避免了在用户交互过程中直接只根据局部的遮挡状态来确定无效而造成的误判,提高红外触摸屏有效性判断的准确性。
  • 一种识别红外触摸屏无效方法装置
  • [实用新型]用于在线分光测色仪的辅通道光结构及在线分光测色仪-CN202020784935.4有效
  • 覃汝军;杨西;卢永健 - 杭州光析科技有限公司
  • 2020-05-13 - 2020-12-08 - G01N21/25
  • 本实用新型的目的是提供一种与现有结构不同的用于在线分光测色仪的辅通道光结构以及在线分光测色仪,用于在线分光测色仪的辅通道光结构包括用于与主光源串联的辅光源、毛玻璃和辅通道光学色散装置,辅光源发出的光束经毛玻璃后到达辅通道光学色散装置,在线分光测色仪包括主通道光结构和辅通道光结构,主通道光结构包括主光源,辅光源与主光源串联,本实用新型的辅通道光结构的结构简单、与主通道光结构相互独立;辅光源与主光源串联,辅通道光学色散装置测量辅光源的光谱信号反映主光源光谱信号的变化,经补偿计算可将该变化补偿到测量结果中,来提高测量结果的重复性。
  • 用于在线分光测色仪通道结构
  • [发明专利]一种叠栅条纹相位解析的纳米检焦方法-CN201410308999.6有效
  • 冯金花;胡松;何渝;李艳丽 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2014-07-01 - 2014-09-17 - G03F7/207
  • 本发明提供一种叠栅条纹相位解析的纳米检焦方法,所述的方法在照明系统经扩束后由光纤引入,经过聚光镜均匀照明标记光栅,标记光栅经第一远心成像系统,再由棱镜成像在硅片表面,被反射后经过棱镜,第二远心成像系统;通过分光棱镜将分成两支,两支结构相同,每支都通过横向剪切板,平行平板形成干涉图样和目标像由检测光栅调制,经过检偏器,再由光电探测器和电路解调,硅片焦面位置的移动引起调制光强发生正弦变化,根据两支光强的正弦变化,求出标记光栅相位变化,确定标记光栅像的平移量,从而求出焦面位置的变化量。
  • 一种条纹相位解析纳米方法

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