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[发明专利]一种光学元件快速测量装置及测量方法-CN200910037376.9无效
发明人：蹇华丽;宋光均;姚建政;郑祥利 -专利权人：宋光均
申请日： 2009-02-25 - 公布日： 2009-09-30 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学元件快速测量装置及测量方法，该测量装置包括光源系统、导光系统、样品放置机构、采光系统、后置分光系统、阵列式光电转换系统、数据分析系统。本发明是针对光学器件的研发和产品品质监测的复杂需求而发明的快速、灵活、准确的测量仪器，其特征是采用后置分光方式，结合半固定可调节样品平台和移动采光系统，可对规整和不规整光学元件完成透射、反射和散射光学参数测定，采用阵列式光电转换元件完成信号采集和转换，其特点是测量速度快、适应复杂形状样品、测量重现性好、配置灵活、价格低，适用于各种光学元件的光学参数测量和质量监测。
一种光学元件快速测量装置测量方法

[发明专利]一种光学自由曲面原位测量方法-CN201210199105.5无效
发明人：张效栋;房丰洲;吴青青;王伟 -专利权人：天津大学
申请日： 2012-06-15 - 公布日： 2012-10-10 - 主分类号： B23Q17/20 文献下载
摘要：本发明属于先进制造中的光学表面自由曲面零件制造技术领域，涉及一种光学自由曲面原位测量方法，包括：1）搭建波前像差测量系统，并将测量系统和加工刀具一并固定于超精密加工车床上；2）在进行光学自由曲面加工后，采用波前像差测量系统对加工器件的光学质量进行测试，得到波前像差数据；3）根据测量得到的加工工件的波前像差数据，进行Zernike多项式各项参数求解，并进行基本成像质量评价指标以及调制传递函数和点扩散函数的计算，用于光学质量的综合评价。本发明以光学成像质量为直接测量对象，区别于传统的面形数据的测量方式，更加能符合实际的应用需求，同时避免了二次装夹等引入的误差。
一种光学自由曲面原位测量方法

[实用新型]测量仪器-CN201521035834.2有效
发明人： M·努登费尔特 -专利权人：特林布尔有限公司
申请日： 2015-12-14 - 公布日： 2016-06-29 - 主分类号： G01C3/00 文献下载
摘要：本公开涉及测量仪器。公开了测量仪器(3800)。测量仪器包括距离测量模块(3875)和至少一个光学设备(3830)。距离测量模块具有仪器光轴(3820)，且至少一个光学设备具有光路(3835)，其一部分在测量仪器外部。距离测量模块和至少一个光学设备安装成围绕第一轴和第二轴(3815)旋转。至少一个光学设备与旋转中心间隔开。至少一个光学设备的光路的外部部分的延伸部(3840)不同于仪器光轴。至少一个光学设备包括具有与旋转中心重合的入射光瞳。
测量仪器

[发明专利]光学特性测量方法、曝光方法及组件制造方法-CN201080060408.8无效
发明人：小杉润一;蛭川茂;近藤尚人 -专利权人：株式会社尼康
申请日： 2010-11-17 - 公布日： 2012-09-26 - 主分类号： H01L21/027 文献下载
摘要：一边阶段性变更形成在测试用标线片的测量用图案的像在投影光学系统的光轴方向的位置一边经由投影光学系统转印至测试用晶片上。检测转印后的测量用图案的像(MP”n)，求出与图案的像在测量方向的扩张对应的量。此处，分别在区域(DVj,DHj,DRj,DLj)检测测量用图案的像(MP”n)所含的4个像(LS”Vn,LS”Hn,LS”Rn,LS”Ln)，即检测除了非测量方向的两端部以外的剩余部，将检测出的剩余部的面积求出为对应量根据求出的面积求出投影光学系统的光学特性。由于求出的面积对非测量方向不具感度，因此可正确地求出对投影光学系统的测量方向的光学特性。
光学特性测量方法曝光方法组件制造

[发明专利]透镜焦度计的测量导示方法、装置、设备及存储介质-CN202110250565.5在审
发明人：胡冰;黄翔 -专利权人：重庆远视科技有限公司
申请日： 2021-03-08 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种透镜焦度计的测量导示方法，包括利用焦度计采集被测透镜的当前测量点对应的多个光学特征参数；根据光学特征参数，以及预先通过神经网络训练获得的透镜的光学特征参数和相对位置数据之间的对应关系，确定光学中心相对于当前测量点的相对位置数据；并在显示器中显示焦度计的测量光柱投射在被测透镜上的当前测量点和光学中心之间的相对位置关系，以便基于相对位置关系引导将被测透镜的光学中心移动至当前测量点。本申请中所提供的导示方法，能够引导用户基于显示的相对位置关系快速的实现光学中心和测量点的重合。本申请还提供了一种透镜焦度计的测量导示装置、设备以及计算机可读存储介质，具有上述有益效果。
透镜焦度计测量方法装置设备存储介质

[发明专利]用于通过共焦距离测量控制工件加工的方法和装置-CN202080091016.1在审
发明人：克里斯托夫·迪茨;菲力普·罗尔曼 -专利权人：普瑞斯特光电公司
申请日： 2020-12-21 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： B23K26/03 文献下载
摘要：此外，根据所述方法借助于光学测距装置获取距离测量数据，以便确定所述待加工工件的所述目标点与激光目标光学单元之间的距离。所述方法包括基于所获取的距离测量数据而相对于所述激光焦点定位所述待加工工件。所述测距装置被设计为光学共焦测距装置，所述光学共焦测距装置具有用于产生测量光的测量光源并且具有可变焦距测量光光学单元。所述方法包括随时间改变所述可变焦距测量光光学单元的所述焦距，以便在所述可变焦距测量光光学单元的不同焦距值处获取距离测量数据，由所述工件反射的激光和/或在所述工件的加工期间产生的过程光是可检测的。
用于通过焦距测量控制工件加工方法装置

[发明专利]基于微光学阵列元件的二维位移测量装置-CN201210088617.4有效
发明人：卢振武;刘华;王尧;孙强 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2012-03-30 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：基于微光学阵列元件的二维位移测量装置，涉及一种基于微光学元件的二维位移测量装置，解决现有二维位移测量中，需要两套独立测量系统，导致体积较大的问题，包括激光器、扩束镜、反射镜、二维参考微光学阵列元件、二维测量微光学阵列元件、聚焦透镜和二维面阵探测器；激光器发出的激光光束经扩束镜和反射镜后平行入射至二维参考微光学阵列元件，在所述二维参考微光学阵列元件的焦平面处会聚成点光源，点光源发出的光束经二维测量微光学阵列元件平行入射至聚焦透镜本发明所述的装置在测量过程中测量准确方便，并减少了装置的体积。
基于微光阵列元件二维位移测量装置

[实用新型]一种影像测量仪自动识别工件信息的应用结构-CN202122495796.0有效
发明人：佘刚;范先彪;董凤勇 -专利权人：思瑞测量技术（深圳）有限公司
申请日： 2021-10-15 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种影像测量仪自动识别工件信息的应用结构，包括影像测量仪、光学测量机构、扫码枪、工件夹具、工件和二维码；光学测量机构用于通过光学测量的方式抓取工件的测量要素，扫码枪安装到影像测量仪的光学测量机构一侧，使之随光学测量机构同步运动；工件夹具将工件固定放置在测量玻璃台面上，防止测量过程中工件发生移动影像测量精度；工件为影像测量仪的测量工件，工件上有标识工件信息的二维码。本实用新型相较与传统测量方式，此方案减少了手动调用测量程序的时间、减少了录入单个产品流水码的时间、避免了程序调用错误引发的机械故障或工件损坏，避免了流水码人为录入出现的错误的风险，降低生产风险，节约时间经济成本
一种影像测量仪自动识别工件信息应用结构

[发明专利]用于获取距离差的光学测量装置以及光学测量方法-CN201480034685.X有效
发明人：米歇尔特·博索德;昆克尔·玛西尔斯 -专利权人：普雷茨特激光技术有限公司
申请日： 2014-06-17 - 公布日： 2018-08-24 - 主分类号： G01B11/245 文献下载
摘要：用于获取台阶高度的光学测量装置以及光学测量方法。发明涉及一种光学测量装置，所述光学测量装置用于原位获取支座(8)与要被测量的物体(12)的边缘区域(10)之间的距离差(6)。该光学测量装置具有：具有双束引导(15)的测量头(14)，所述测量头(14)将第一测量束(16)引向支座(8)，并且将第二测量束(18)引向要被测量的物体(12)的边缘区域(10)。提供用于获取并且形成被引向支座(8)的第一测量束(16)的反射光谱，以及被引向要被测量的物体(12)的边缘区域(10)的第二测量束(18)的反射光谱的工具。测量装置具有配设一个光谱线(72)的多通道测量设备(34)。
光学测量装置边缘区域反射光谱第二测量第一测量光学测量测量测量头距离差光谱线多通道测量设备光谱仪测量装置评估单元原位获取

[发明专利]测量光学表面形状的方法以及干涉测量装置-CN200980162499.3有效
发明人： R.弗赖曼;B.多尔班德;S.舒尔特;A.霍夫;F.里彭豪森;M.曼格;D.纽格鲍尔;H.艾斯勒;A.比科 -专利权人：卡尔蔡司SMT有限责任公司
申请日： 2009-09-18 - 公布日： 2012-09-19 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：提供一种测量测试物体（12）的光学表面（14）的形状的方法。该方法包括以下步骤：提供产生测量波（18）的干涉测量装置（16），在不同测量位置处相对于彼此连贯地布置该干涉测量装置（16）和测试物体（12），从而由该测量波（18）照明该光学表面（14）的不同区域（20），在该不同测量位置，测量该测量装置（16）关于该测试物体（12）的位置坐标，通过在每个测量位置处使用测量装置（16）干涉地测量该测量波（18）在与该光学表面（14）的各个区域（20）相互作用之后的波前而获得表面区域测量，通过基于该干涉测量装置（16）在每个测量位置处所测量的位置坐标计算地组合子表面测量而确定该光学表面（14）的实际形状。
测量光学表面形状方法以及干涉装置

[发明专利]一种翻斗式光学雨量计-CN201811375526.2在审
发明人：陈昕;叶小岭;陈洋;王佐鹏 -专利权人：南京信息工程大学
申请日： 2018-11-19 - 公布日： 2019-03-08 - 主分类号： G01W1/14 文献下载
摘要：一种翻斗式光学雨量计，由光学测量区域和机械双翻斗雨量测量区域组成，所述光学测量区域包括光源保护盒和光管保护盒，机械双翻斗雨量测量区域内设有雨量计测量筒体，光源保护盒与光管保护盒水平放置，所述机械双翻斗雨量测量区域垂直设置在光学测量区域下方，雨量计测量筒体内从上到下依次设有承水器、上计量装置和下计量装置，对降水量与降水微观参数进行同时测量，数据结果精确，同时有达到一个相互印证检查，杜绝了虚警的发生。
雨量计光学测量雨量测量翻斗光源保护计量装置翻斗式护盒测量筒体垂直设置从上到下数据结果微观参数测量筒承水器降水量虚警测量体内降水检查

[发明专利]光学测量装置以及光学测量方法-CN201910030710.1有效
发明人：髙嶋润;近藤智则 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-01-14 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种能够减小所测量的距离的误差的光学测量装置以及光学测量方法。光学测量装置(100)包括：光源(10)，发出光；传感头(30)，将经对象物(TA)反射的反射光聚光；光接收部(40)，构成为多个像素各自可检测光接收量，且针对所聚光的反射光而获得每个像素的光接收量分布信号；测量部(51)，基于光接收量分布信号而测量光学测量装置(100)到对象物(TA)的距离；以及修正部(52)，基于光接收量分布信号的波形中的规定特性值而修正所测量的测量距离。
光学测量装置以及测量方法

[实用新型]一种翻斗式光学雨量计-CN201821903116.6有效
发明人：陈昕;叶小岭;陈洋;王佐鹏 -专利权人：南京信息工程大学
申请日： 2018-11-19 - 公布日： 2019-11-29 - 主分类号： G01W1/14 文献下载
摘要：一种翻斗式光学雨量计，由光学测量区域和机械双翻斗雨量测量区域组成，所述光学测量区域包括光源保护盒和光管保护盒，机械双翻斗雨量测量区域内设有雨量计测量筒体，光源保护盒与光管保护盒水平放置，所述机械双翻斗雨量测量区域垂直设置在光学测量区域下方，雨量计测量筒体内从上到下依次设有承水器、上计量装置和下计量装置，对降水量与降水微观参数进行同时测量，数据结果精确，同时有达到一个相互印证检查，杜绝了虚警的发生。
光学测量雨量测量雨量计翻斗光源保护计量装置护盒测量筒体垂直设置从上到下数据结果微观参数测量筒承水器翻斗式降水量虚警测量体内降水检查

[发明专利]用于分析液滴中所含样本的光学测量仪器和方法-CN201480017468.X有效
发明人： T·比约翰逊;T·盖格斯 -专利权人：泰肯贸易股份公司
申请日： 2014-01-09 - 公布日： 2018-07-31 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：一种光学测量仪器(1)被配置用于分析包括至少一个液体处理吸头(4)的液体处理系统(3)所提供的液滴(2)中所含样本。该光学测量仪器(1)包括用于照射液滴(2)的光源(8)；用于测量样本光(11)的检测器(10)；具有用于透射照射光(9)的第一光学元件(18)的光学系统(43)，以及用于接受并处理测量信号(12)的处理器液滴(2)在所述液滴(2)被光源(8)与第一光学元件(18)定义的第一光学轴(14)穿透的位置处悬垂在液体处理吸头(4)的液体处理孔(6)处。光学测量仪器(1)包括用于对液滴(2)的大小和/或位置相对于光学系统(43)的第一光学元件(18)进行相互适配的手段。也揭示了一种分析液体处理系统(3)所提供的且使用光学测量仪器(1)来检查的液滴(2)中所含样本的光学测量方法。
用于分析液滴中样本光学测量仪器方法

[发明专利]光学相干层析摄影方法和光学相干层析摄影装置-CN201010123799.5有效
发明人：末平信人 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2010-03-02 - 公布日： 2010-09-08 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：本发明公开一种光学相干层析摄影方法和光学相干层析摄影装置。根据本发明的光学相干层析摄影方法包括以下步骤：将待测对象分成沿测量光的照射方向彼此相邻的多个测量区域，并且基于相干光的波长谱对于每个测量区域获取测量图像；对于每个测量区域，校正测量区域的测量图像的对比度；以及对于每个测量区域，从校正的测量图像获取层析摄影图像。
光学相干层析摄影方法装置