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本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247 本网专利代理业务由天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)承接机构代码：12247

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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]光干涉测距传感器-CN202310147134.5在审
发明人：长崎裕介;髙嶋润 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2023-02-21 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：一种光干涉测距传感器，即使与测量对象物之间的距离加速度地变化，也能够高精度地测量该距离。光干涉测距传感器具备：光源，使用规定的扫频频率模式，一边连续改变波长一边投射光；处理部，根据通过受光部转换的电信号测量到测量对象物为止的距离；以及存储部，存储表示测量出的距离的距离信息，规定的扫频频率模式包含第一扫频频率模式和第二扫频频率模式，处理部包括平均距离值计算部，所述平均距离值计算部根据测量出的距离和存储于存储部的过去多次的距离信息中的第一距离信息及第二距离信息算出平均距离值，第一距离信息表示基于使用第一扫频频率模式投射的光的距离，第二距离信息表示基于使用第二扫频频率模式投射的光的距离。
干涉测距传感器

[发明专利]光学测量装置以及光学测量方法-CN201910030710.1有效
发明人： 髙嶋润;近藤智则 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-01-14 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种能够减小所测量的距离的误差的光学测量装置以及光学测量方法。光学测量装置(100)包括：光源(10)，发出光；传感头(30)，将经对象物(TA)反射的反射光聚光；光接收部(40)，构成为多个像素各自可检测光接收量，且针对所聚光的反射光而获得每个像素的光接收量分布信号；测量部(51)，基于光接收量分布信号而测量光学测量装置(100)到对象物(TA)的距离；以及修正部(52)，基于光接收量分布信号的波形中的规定特性值而修正所测量的测量距离。
光学测量装置以及测量方法

[发明专利]光学测量装置以及光学测量方法-CN201980058003.1在审
发明人： 髙嶋润;金谷义宏 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2019-10-21 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：本发明自受光量分布信号获得测定波形信号。光学测量装置100包括：光源10，向对象物TA发出光；受光部40，以多个像素各自可检测受光量的方式构成，且获得每个像素的受光量分布信号；获取部51，基于不存在对象物TA时的受光量分布信号，自利用对象物TA所反射的反射光的受光量分布信号获取测量波形信号MS；以及调整部53，在反射光的受光量分布信号的一部分受光量为规定值以上时，以获取测量波形信号MS的方式，调整对于反射光的受光量分布信号的感度参数。
光学测量装置以及测量方法

[发明专利]共焦测量装置-CN201811055176.1有效
发明人：森野久康;髙嶋润;奥田贵启;的场贤一;滝政宏章 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-09-11 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种测量对象物的位置的检测精度经提高的共焦测量装置。共焦测量装置具备：输出白色光的光源、光耦合器、将产生了色差的光照射到测量对象物的传感头、以及取得经测量对象物反射的反射光并测量反射光的光谱的分光器，光耦合器为使从第一光纤向第二光纤传输光时的第一传输波形、与从第二光纤向第三光纤传输光时的第二传输波形接近的滤波器型耦合器或空间光学系统型耦合器。
测量装置

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